Способ определения причины оплавленияпроводников

 

О Il И С А Н И Е пц 42I9I9

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСИОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 04.07.72 (21) 1805690/26-25 с присоединением заявки № (32) Приоритет

Опубликовано 30.03.74. Бюллетень № 12

Дата опубликования описания 03.09.74 (51) М. Кл. С 01п 23/20

-Гесударствеииый кемитет

Сеевта Мииистрвв СССР ве делам изаеретеиий и аткрмтий (53) УДК 621 386 8 (088.8) (72) Авторы изобретения

Г. И. Смелков, Б. И. Кашолкин и Ю. Я. Томашпольский

Всесоюзный научно-исследовательский институт противопожарной обороны (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРИЧИНЫ ОПЛАВЛЕНИЯ

ПРОВОДНИКОВ

Изобретение относится к области криминалистики и может быть использовано при исследовании причин возникновения пожаров, а также при расследовании аварий различного рода приборов и аппаратов.

Известный способ определения причин оплавления проводников основан на визуальном анализе вещественных доказательств, при котором признаки дифференциации оплавлений (от короткого замыкания или температуры пожара) определяются характером и размером оплавления.

Однако известный способ определения причин оплавления недостаточно точен, что связано с субъективными возможностями того или иного эксперта.

Цель изобретения — разработка такого способа определения причин оплавления, который наряду с наглядностью и документальностью, характерных для известного метода, обладал бы научной объективностью и достоверностью.

Цель достигается путем рентгеноструктурных исследований проводников, представляемых с пожара (аварии) в качестве вещественных доказательств. Основным признаком, свидетельствующим о воздействии на проводник тока короткого замыкания, является наличие астеризма на малых углах рентгенограмм, снятых с оплавленных участков проводника. а также с участка, удаленного от места оплавления на 8 — 10 мм.

Причину оплавления определяют по предлагаемому способу следующим образом.

Проводник со следами оплавления осторожно очищают от копоти и остатков изоляции, обезжиривают. Затем из него вырезают два образца длиной по 8 мм каждый: первый образец — место оплавления, второй — участок проводника, удаленный от места оплавления на 10 мм. С каждого образца снимают рентгенограммы. Если в результате анализа будет установлено, что рентгенограмма образца № 1 (место оплавления) имеет следы астеризма, 15 а на рентгенограмме образца № 2 астеризм выражен слабо, можно утверждать, что причиной оплавления проводников является короткое замыкание, причем эти признаки сохраняются даже в том случае, если оплавленный g÷ÿcT01 От короткого замыкания или после него дополнительно подвергался воздействию от внешнего источника тепла. Отсутствие астеризма дает основание считать, что оплавленис вызвано только внешним тем25 пературным воздействием (без участия токов короткого замыкания).

Предмет изобретения

Способ определения причины оплавления

30 проводников с помощью рентгеноструктурного

Составитель И. Петрова

Техред Е. Борисова

Редактор И. Орлова

Корректоры: А. Николаева и О. Данишева

Заказ 2111)13 Изд, № 1447 Тираж 651

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, .>К-35, Раушская паб,, 4/5

Подписное

Типография, пр. Сапунова, 2 анализа, отличающийся тем, что, с цель|о повышения точности анализа при определении наличия короткого замыкания в момент оплавления, анализу подвергают область оплавления и участок, удаленный от этой области па 8 — 10 мм, и по наличию или отсутствию на рентгенограммах этих участков астериз»а судят о причине оплавления проводников.

Способ определения причины оплавленияпроводников Способ определения причины оплавленияпроводников 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"

Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов
Наверх