Рентгеновский способ контроля гальванических покрытий

ОП ИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ »1 420919

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 07.04.72 (21) 1768927/26-25 (51) М. Кл. G Oln 23/22 с присоединением заявки

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и OTKDblTHH (32) Приоритет

Опубликовано 25.03.74. Бюллетень М 11

Дата опуоликования описания 21.08.74 (53) УДК 621.386.8 (088.8) (72) Автор изобрстснпя

Г. А. Кринари (71) Заявитель

Казанский ордена Трудового Красного Знамени государственный университет им. В. И. Ульянова (Ленина) (54) РЕНТГЕНОВСКИЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ

ГАЛЬВАН ИЧЕСКИХ ПОКР!э11 И Й

Изобретение относится к контролю гальванических покрытий и может быть использовано для выявления брака при получении гальванических покрытий на основе сплавов серебра и золота с легирующими добавками.

Известные способы рентгенографич еского анализа позволяют, в принципе, контролировать гальванические покрытия, однако ни один из них не может быть использован для экспрессного контроля покрытий с аномально низким содержанием легирующей добавки.

Целью изобретения является повышение экспрессности контроля.

Для этого определяют отношение интенсивности рентгеновских дифракционпых максимумов от кристаллографических плоскостей 311 и 222 и отбраковывают покрытия, для которых значение этого отношения меньше заданной величины.

Эти отношения существенно различны для монометаллических покрытий и покрытий, содержащих необходимое количество легирующей добавки. При образовании твердого раствора, каким является гальваническое покрытие, текстурированность покрытия по направлению 222 уменьшается, а по направлению 311 несколько возрастает. Это приводит к значительному изменению величины отношения интенсивностей дифракционных максимумов 311 и 222.

Другой причиной уменьшения отношения

311/222 является увеличение толщины покрытия (до 40 мкм и более) или увеличение плотности катодного тока (до 1,2 а, дме и более).

Покрытия с такими параметрами в данном случае также должны быть отбракованы. Установив экспериментально для каждого конкретного объекта пороговую величину отношения 311/222 можно на ее основе разделять все контролируемые покрытия на «годные» и

«негодные».

Для чисто серебряных гальванических покрытий, полученных из цианистого электролита с реальными для производственных усло1 вий параметрами (плотность тока 0,4—

1,0 а/дм, толщина 5 — 20 мкм), величина отношения 311/222 варьирует в пределах 1,0—

0,3; для таких же покрытий, имеющих 0,4—

0,7% легпрующей добавки сурьмы, значения

20 311/222 составляют 1,8 — 3,1. Аналогичные покрытия, полученные при плотности тока

1,2 а/дм- и выше, характеризуются отношением 311/222 0,9 — 1,4. Значение, 311/222 равное 1,6 может быть в данном случае принято

25 за пороговое.

Предмет изобретения

Рентгенографический способ контроля гальванических покрытий сплавами серебра н зо30 лота с лсгпруюшимп добавками, зяключяю420919

Составитель И. Петрова

Редактор А. Зиньковский Техред А. Камышникова Корректор T. Гревцова

Заказ 2031/15 Изд. Ке 656 Тираж 651 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 щийся в облучении исследуемых образцов пучком рентгеновских лучей и регистрации интенсивности дифрагированного излучения, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышен1ря экспрессности, определяют отношение пнтенсивности рентгеновских дифракционных максимумов от кристаллографических плоскостей 311 и 222 и отбраковывают покрытия, для которых значение этого отношения менI-5 ше 3ilданной величины.