Способ определения толщины накипи на внутренних поверхностях емкостей

Авторы патента:

С. А. Буравлев

G01B7/06 - для измерения толщины

ОПИСАНИЕ 406I09

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистииеских

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 20.IX.1971 (№ 1701469/25-28) с присоединением заявки №вЂ”

ПриоритетвЂ”

Опубл икова но 05.XI.1973. Бюллетень № 45

Дата опубл ииова ния описа ния 24Л 1.1974

Гоеударственный комитет

Совета Миниетров СССР на делам изобретений и открытий

УДК 531.71(088.8) Автор изобретения

С. А. Буравлев

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ НАКИПИ НА

ВНУТРЕННИХ ПОВЕРХНОСТЯХ ЕМКОСТЕЙ

Предмет изобретения

Изоб|ретение отнооится к области измерительной техниии и может быть использовано для определения толщины, накипи на внут.ренних поверхностях емкостей, напр имер трубок теплообменных аппаратов.

Известны способы определения толщины накипи,на внутренних поверхностях емкостей, заключающиеся в том, что замеряют стационарную температуру поверхностен емкости, определяют теплопроводность поверхности и составляют номограммы, по которым определяют толщину накипи.

Однако точность измерения по этим способам недостаточная из-за тото, что табличные значения теплопроводности не точно соответствуют реальным значениям теплопроводности .исследуемого слоя внутри емкости, С целью устранения этого недостатка по предлагаемому способу создают кратковременный импульс электрического тока на поверхности емкости, замеряют вызванное им возрастание температуры поверхности и, сравнивая ее со стационарной температурой, определяют толщину, накипи.

Предлагаемый способ заключается в следующем.

На поверхность емкости на участке 5вЂ”

10 ям подают импульс электрического тока, например, разрядом конденсатора через присоединенные к поверхноспи проводники. .Прохождение разрядного тока через стенку емкости вызывает кратковременное возрастание ее температуры,на этом участке, которое,измеряют размещенной на наружной поверхности термопарой.

По разности между максимальным значением температуры в импульсе,и стационарной температурой стенки производят определение толщины накипи по предварительно снятым тарированным зависимостям замеряемой,разности температур от термического сопротивления накипи.

Способ определения толщины накипи а внутренних поверхностях емкостей, заключз,ощийся в том, что замеряют стационарную температуру поверхности емкости, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, создают кратковременный импульс электрического тока на поверхности емкости, замеряют вызванное им возрастание температуры поверхност и и, сравнивая ее со стационарной температурой, очределяют толщину накипи.

Способ определения толщины накипи на внутренних поверхностях емкостей

Похожие патенты:

Патент 401753 // 401753

Датчик толщины напыляемых диэлектрических // 398814

Датчик нулевого положения // 397743

Патент 396539 // 396539

Устройство для измерения толщины металлических // 395704

Устройство для измерения толщины крупногабаритных изделий // 394654

Гпчп 'зппп'^рто?: vuiia ипаниг lutji // 393574

Датчик к токовихревому дефектоскопу // 392401

Способ измерения зависимости фазы электромагнитной волны от параметров электропроводных листовых материалов // 392399

Емкостной преобразователь перемещений // 392324

Термозонд для неразрушающего контроля толщины защитных пленочных покрытий // 2101674

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Устройство для измерения толщины плоского изделия и способ его реализации // 2107257

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Устройство для определения наличия и толщины пленки электролита на поверхности металлических объектов // 2107891

Вихретоковое устройство для неразрушающего контроля // 2111482

Индукционный датчик контроля толщины металлических покрытий // 2112919

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Неразрушающий способ определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений // 2113691

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Устройство для измерения толщины проводящего покрытия с непосредственным отсчетом // 2128818

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий

Магниторезистивный элемент и способ его получения // 2128819

Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Электромагнитный толщиномер // 2129253

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Измерительное устройство // 2133448

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе