Способ элементного анализа образцов
ОП ИСАЙИ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
1 Ъ
Союз Советских
Социалистимеских
Республик
Зависимое от авт, свидетельства №
Заявлено 22.IV.1971 (№ 1647847/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 27Х11.1973. Бюллетень № 3
Дата опубликования описания 12.Х.1973
6 Olv 5/00
Гасударственный комитет
Советв Министров СССР по делам изобретений и открытий
550.835 (088.8) Авторы изобретения
Д. И. Лейпуиская, В. И. Дрыикин и В. И. Варик
Всесоюзный научно-исследовательский институт ядерной геофизики и геохимии
Заявитель
СПОСОБ ЭЛЕМЕНТНОГО АНАЛИЗА ОБРАЗЦОВ
Изобретение относится к нейтронному акти вационному анализу, в частности, к его про,ведению на установках «Нейтрон-2», нейтронном размножителе (HP) и других, где используются представительные навески проб или отбитые м а ссы.
При навесках до 100 г. и более, используемых при .проведении нейтронного активационного анализа на установках «Нейтрон-2», HP и других, часто на результаты анализа влияет состав проб. В особенности это относится к анализу пород, в которых могут иметь место значительные вариации содержаний сильно поглощающих нейтроны элементов, таких, как бор, кадмий, хлор. Вариации элементного состава приводят к разной степени возмущения нейтронного поля пробами в зоне облучения, причем эффект может достигать 50 отн. % по сравнению с эталонными пробами. В связи с этим невозможен подбор единых эталонов для анализа проб (кернов) даже в пределах одной скважины месторождения.
Известные способы проведения анализа на установках «Нейтрон-2», HP и других не предусматривают учета степени возмущения нейтронного поля. В результате этого обнаружены систематические ошибки в элементном определении.
Цель изобретения — устранение систематических ошибок, связанных с вариациями эле2 ментного состава, при проведении нейтронного активационного анализа представительных проб.
Это достигается тем, что исследуемый образец облучают одновременно с эталонным диском например, алюминиевым, обеспечивающим учет возмущения нейтронного поля образцом, и по результатам независимых изме,рений активности образца и диска судят о концентрации определяемого элемента в образцее.
Для учета степени возмущения нейтронного поля вместе с анализируемой пробой облучают диски, располагаемые вне пробы или внутри нее, которые могут быть изготовлены из веществ, слабо поглощающих нейтроны независимо от хода сечения поглощения с энергией нейтронов, например, алюминия, ванадия, марганца. Толщину и форму дисков подбирают таким образом, чтобы наведенная активность диска обеспечивала требуемую статистическую точность измерений.
После облучения регистрируют раздельно наведенную активность пробы и диска. По наведенной активности диска вычисляют коэффициент возмущения нейгронного поля, равный отношению наведенной активности диска, ЗО облучепного с пробой к активности диска, об392438
Предмет изобретения
Составитель И. Трофимова
Техред Л. Богданова
Корректор H. Стельмах
Редактор М. Жиляева
Заказ 2761/17 Изд. № 1778 Тираж 755 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 лученного с эталоном. Исправленное значение наведенной активности пробы находят путем деления измеренной активности пробы на коэффициент возмущения нейтронного поля.
Исправленное значение наведенной активности пробы сравнивают затем со значением наведенной активности эталона и отсюда вычисляют содержание определяемого элемента. Эксперименты показали, что такой способ учета F позволяет получить точные результаты анализа в различных по химическому составу пробах.
Способ элементного анализа образцов методом нейтронной активации, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности анализа, исследуемый образец облучают одновременно с эталонным диском например, алюминиевым, обеспечивающим учет возмущения нейтронного поля образцом, и по результатам независимых измерений активности образца .н диска судят о концентрации определяемого элемента в образце.
