Способ измерения глубины обезуглероженного

Авторы патента:

В. Ф. Жарков, Ю. Л. Перевозкин , В. В. Новиков

G01B11/22 - для измерения глубины отверстий или пазов

ОП ИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

364880

Союз Советский

Социалистических

Республик

Зависимое от гвт. свидетельства №

Заявлено,ЗО.XI I.1970 (№ 1603001/22-1) с присоединением заявки №

Приоритет

М. Кл. G 01п 21/00

Комитет по делам изооретеиий и открытий при Совете Мииистров

СССР

УДК 620.191.31(088.8) Опубликовано 28.XII.1972. Бюллетень № 5 за 1973

Дата опубликования описания 27.П.1973

Авторы изобретения

В. Ф. Жарков, Ю. Л. Перевозкин и В. В. Новиков

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ГЛУБИНЫ ОБЕЗУГЛЕРОЖЕННОГО

СЛОЯ

Изобретение относится к области изыскания способов контроля качества стали, в частности способов определения обезуглероживания стали.

Известен способ измерения глубины обезуглероженного слоя в конструкционных углеродистых сталях, заключающийся в приготовлении металлографического шлифа, травлении и исследовании его под микроскопом, при котором глубину обезуглероженного слоя определяют визуально с помощью окуляр-микрометра.

По предложенному способу глубину обезуглероженного слоя определяют не визуально, а записывая характер изменения фототока, полученного преобразованием увеличенного изображения рядом лежащих участков слоя в фотоэлектрическом приемнике излучения.

Это повышает точность измерения и автоматизирует его процесс.

Способ заключается в следующем.

Приготовляют металлографический шлиф.

Изображение увеличенных рядом лежащих участков обезуглероженного слоя последовательно проектируют на фотоэлектрический приемник излучения и записывают характер изменения фототока. Величина фототока будет пропорциональна количеству структурно-свободного феррита. Способ позволяет определять глубину обезуглероженного слоя и характер изменения содержания углерода по глубине

10 слоя в конструкционных сталях.

Предмет изобретения

Способ измерения глубины обезуглероженного слоя, включающий приготовление метал1S лографического шлифа и исследование его под микроскопом, отличающийся тем, что, с целью автоматизации и повышения точности измерения, последовательно проектируют увеличенные участки изображения слоя на фотоэлект20 рический приемник излучения, преобразуют в электрические сигналы и записывают изменение фототока.

Патент 179955 // 179955

Прибор для обнаружения не прямолинейности глубокого отверстия // 134886

Патент 81664 // 81664

Способ и прибор для измерения высоты рисунка протектора шин транспортных средств // 2144653

Изобретение относится к области измерения высоты рисунка протектора шин транспортных средств

Устройство для автоматической фокусировки светового излучения // 769319

Устройство для контроля дефектов полированных поверхностей оптических деталей с углом полного внутреннего отражения // 777410

Способ контроля линейных размеров объекта // 1348638

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля размеров и формы глубоких отверстий малого диаметра, тонких нитей, шариков малого диаметра

Объектив для контроля отверстий // 2581435

Изобретение может быть использовано в устройствах измерения геометрических параметров и контроля качества поверхности отверстий и других внутренних поверхностей. Объектив содержит пять последовательно расположенных на оптической оси сферических линз, формирующих промежуточное изображение между второй и третьей линзами, апертурную диафрагму и дополнительно две одиночные линзы. Первая и вторая линзы одинаковые, имеют двояковыпуклую форму и обращены друг к другу поверхностями с меньшим радиусом кривизны. Третья и пятая линзы также одинаковы и выполнены двояковыпуклыми с равными радиусами кривизны первой и второй поверхностей. Шестая линза - плоско-выпуклая и обращена плоской поверхностью к апертурной диафрагме, расположенной между пятой и шестой линзами. Четвертая и седьмая линзы - двояковыпуклые. Между четвертой и шестой линзами формируется дополнительное промежуточное изображение. Технический результат - увеличение относительного отверстия объектива при одновременном увеличении отношения длины контролируемого отверстия к его диаметру. 4 ил., 2 табл.