Способ оценки качества линзо-растровых материалов
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
346703
Союз Советскиз
Социалистическил
Республик
Зависимое от авт. свидетельства ¹
М. Кл. G 03b 21,60
Заявлено 08.XI |.1970 (№ 1602919/18-10) с присоединением заявки №
Приоритет
Комитет по делам изобретений и открытий лрн Совете Министров
СССР
УДК 777.32(088.8) Опубликовано 28.VII.1972. Бюллетень ¹ 23
Дата опубликования описания 24Х111.1972
Авторы изобретения
Г. С. Глуховский, Г. В. Авилов, Н. А. Валюс, В. И. Успенский, Ю. С. Андреев и С. С. Субботин
Всесоюзный государственный научно-исследовательский и проектный институт химико-фотографической промышленности
Заявитель
СПОСОБ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА ЛИНЗО-РАСТРОВЫХ
МАТЕРИАЛОВ
Изобретение относится к фотографии и кинематографии, и предназначено для оценки качества линзо-растррвых материалов, применяемых при стереоскопической кино- и фотосъемке, в телевидении, голографии и при других специальных видах записи, передачи и воспроизведении информации.
Известные способы оценки качества линзорастровых материалов основаны на измерении геометрических и оптических параметров отдельных линз и на определении их разрешающей способности по радиальной (или любой другой) мере, а также на оценке постоянства этих параметров по всей площади растра.
Недостатком известных способов является то, что они требуют измерения тех или иных параметров, характеризующих качество каждой линзы в отдельности. Для оценки всего линзо-растрового коллектива необходимо проведение громоздкой статистической обработки результатов очень большого числа измерений.
Для получения характеристики всего растра или отдельного его участка предлагается способ, по которому с помощью зеркальной поверхности, введенной в фокальную плоскость линзового растра, строят интегральное изображение контрольного тест-объекта и по этому изображению оценивают качество всего линзо-растрового коллектива в целом или его участка. Критерием качества линзового
s р а с т р а м о ж е т б ы т ь в ы б р а н а,, н а п р и м е р, частотно-контрастная характеристика, которая определяет степень уменьшения глубины модуляции распределения яркостей в изображении объекта, полученного за линзовым
10 растром, по сравнению с глубиной модуляции в объекте в зависимости от пространственной частоты.
Сущность предлагаемого способа заклю15 чается в следующем. Тест-объект, представляющий, например, набор линий постепенно меняющейся частоты, проектируют на испытываемый образец линзового растра. В область расположения фокальной плоскости
20 растра вводят зеркальную поверхность. Если выделить с помощью светоделителя восстанавливающие лучи, то на расположенном в соответствующем месте экране строится интегральное изображение тест-объекта, сло25 женного из изображений, полученных проектированием от каждой отдельной линзы. Посредством сканирования полученного интегрального изображения фотометрирующим устройством получают глубину модуляции
30 восстановленного интегрального изображе346703
Составитель В. Соломатов
Техред Т Ускова
Реда ктор С. Х ей фин
Корректор Е. Исакова
Заказ 2539/8 Изд. М 1080 Тираж 406 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 ния по каждой частоте М„„, и, зная глубину модуляции используемого теста М,, вычисляют частотно-контрастную характеристику
Т„, как
Эта характеристика, полученная по каждой из используемых частот, является параметром, характеризующим качество всего линзо-растрового коллектива или его участка.
Предмет изобретения
Способ оценки качества линзо-растровых материалов, заключающийся в определении параметров отдельных линз и оценке постоянства этих параметров по всей площади растра, отличающийся тем, что, с целью получения характеристики всего растра или от5 дельного его участка, перед исследуемым растром устанавливают тест-объект в виде растровой решетки с различной частотой элементов, в фокальную плоскость растра вводят плоское зеркало, передающее на экран
10 сформированное растром интегральное изображение тест-объекта, фотометрируют его, и по глубине модуляции на каждой частоте вычисляют, например, частотно-контрастную характеристику.
