Патент ссср 346702
ОПИСАНИЕ
ИЗОЬЕЕт ЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства ¹
М. Кл. G 03b 21/60
Заявлено 08.XI I.1970 (№ 1602918/18-10) с присоединением заявки ¹
Хомитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
Приоритет
Опубликовано 28.V11.1972. Бюллетень № 23
Дата опубликования описания 4.VIII.1972
УДК 777.32(088.8) Авторы изобретения
Г. С. Глуховский, Г. В. Авилов, Н. А. Валюс, В. И. Успенский;
Ю. С. Андреев и С. С. Субботин
Всесоюзный государственный научно-исследовательский и проектный институт химико-фотографической промышленности
Заявитель
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА ЛИНЗО-РАСТРОВЫХ
МАТЕРИАЛОВ
Изобретение относится к области фотографии и кинематографии и предназначено для определения качества линзо-растровых материалов, применяемых при стереоскопической кино- и фотосъемке в телевидении, голографии и при других специальных видах записи и воспроизведении информации.
Известные устройства для оценки качества линзо-растровых материалов не позволяют получать количественную характеристику (оценку) контраста растрового изображения для отдельных участков растра.
Для повышения точности и объективности оценки в предлагаемом устройстве в фокальную плоскость растра устанавливают зеркальную поверхность и с помощью светоделителя (например, полупрозрачного зеркала) на экране строят интегральное изображение контрольного тест-объекта, которое фотометрируют подвижным анализирующим устройством.
На чертеже показана принципиальная схема описываемого устройства, состоящего из осветителя 1 с отражателем и кадрирующей рамкой 2. В непосредственной близости от кадрирующей рамки передвигается тест-объект 8, представляющий, например, набор решеток различной частоты. По ходу лучей от осветителя под углом 45 расположено полупрозрачное зеркало 4. Предметный столик 5 служит для крепления испытываемого образца линзового растра б. Столик 7 фокусировки с зеркальной поверхностью 8, параллельной плоскости испытываемого образца, передвигается перпендикулярно этой плоскости с помощью микрометренного устройства 9. На расстоянии, равном расстоянию от центра полупрозрачного зеркала 4 до тест-объекта 8, установлен экран 10 со сканирующей
10 щелью 11 и фоторегистрирующим блоком, например фотоэлектронным умножителем 12.
Экран располагают в плоскости, параллельной плоскости восстановленного изображения тест-объекта, а сканирующую щель — парал15 лельно линиям решеток тест-объекта. Таким образом, каждая линза всего линзо-растрового коллектива рисует изображение освещенной части тест-объекта, прошедшего через полупрозрачное зеркало, на отражающей по20 верхности фокусирующего зеркала. Отразившись, каждое такое изображение проходит через ту же самую линзу, играющую в этом случае роль проекционного объектива. Светоделитель отражает обратные лучи, и на экра25 не строится интегральное изображение того же самого тест-объекта, сложенного из отдельных изображений, прошедших через каждую линзу всего линзо-растрового коллектива. Передвижение сканирующей щели с фо30 тоэлектронным умножителем позволяет фото346702
Предмет изобретения
Составитель В. Соломатов
Техред Е, Борисова
Редактор С. Хейфиц
Корректор О. Тюрина
Зак. 2421/12 Изд. № 1029 Тираж 406 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 метрировать каждый элемент интегрального изображения тест-объекта.
Устройство работает следующим образом.
Закрепляют на предметном столике испытываемый линзо-растровый образец и устанавливают требуемый тест-объект, подводя г с помощью микрометренного устройства зеркальную поверхность до тех пор, пока она не займет положение средней фокальной плоскости линзо-растрового образца. Правильное положение зеркальной поверхности устанавливают или визуально по максимальной резкости интегрального изображения на экране 10, или по измерениям контраста изображения штрихов, добиваясь максимального
его значения. Среднее значение фокусного расстояния линзового растра определяют как разность микрометренных отсчетов положения зеркальной поверхности, когда она касается поверхности линз растра, и положения, когда эта поверхность наъодится в средней фокальной плоскости. Качество всего линзорастрового образца определяют по степени уменьшения глубины модуляции в изображении тест-объекта по сравнению с глубиной модуляции самого тест-объекта.
Устройство для оценки качества линзо10 растровых материалов, содержащее осветитель, держатель с тест-объектом, исследуемый растр, за которым параллельно плоскости растра установлено зеркало, и осветитель, отличающееся тем, что, с целью повышения
15 точности и объективности оценки, в нем в плоскости интегрального изображения контрольного тест-объекта установлен щелевой анализатор, за которым расположен фотоэлектронный умножитель, а зеркало выпол20 нено подвижным в направлении, перпендикулярном плоскости растра.
