Способ измерения параметров магнитотвердыхматериалов
346691
ОП ИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Л!. Кл. G Оlг 33!12
Заявлено 06Х11.1970 (¹ 1454313/18-10) с присоединением заявки № 1478200 18-10 и ¹ 1478843, 18-10
Комитет пс лелаи
Приоритет изсбсетеиик и аткоытий
Опубликовано 28.У11.1972. Бюллетень № 23 УДК 621.317.42(088.8)
Дата опубликования описания 10Х111.1972 пои Совете Мики .; pp пПСР - ) Ф3з
П. П. Маркин и О. Е. Шведенко .Ь4 .
Новочеркасский ордена Трудового Красного Знамени
Авторы изобретения
Заявитель политехнический институт
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ МАГНИТОТВЕРДЫХ
МАТЕР ИАЛ О В
В,, =021...+0,12 вУ или
Е-в
В,, =0,25, .+02;
О, = — 0,28+2,12 е
Етв у <зв
g pp. — 4,90 — С,40) д
1взв ) Af
Изобретение относится к области магнитных измерений и может быть использовано во многих отраслях промышленности, где необходим контроль магнитных параметров ма"нитотвердых материалов.
Известен феррографический способ измерения магнитных параметров магнитотвердых материалов. при использовании которого необходимо интегрировать э.д.с. измеритсльнои обмотки и измерять напряженность магнитного поля.
Для ускорения процесса измерения образец помещают в магнитное поле, изменяющееся по синусоидальному закону, последовательно увеличивают магнитное поле до достижения одной из нечетных гармонических составляющих (например первой, третьей, пятой и седьмой) измерительной обмотки максимального значения, измеряют максимальные значения нечетных гармоник измерительной обмотки и первой гармоники э. д. с. подмагничивания и по их соотношениям судят об измеряемых параметрах.
Измерительную обмотку, нанесештую на нейтральное сечение образца, и катушку поля, расположенную на поверхности ооразца, подсоединяют к избирательному усилителю, настраивающемуся на первую, третью, пятую и седьмую гармоники.
1-1амапшчивающсе поле увеличивают для достижения пятой и седьмой гармоштки э.д.с. измерительной обмотки образца максимального значения. Измеряют первую, третью, пя5 тую и седьмую гармоники э. д. с. измерительной обмотки образца и первую гармонику э. д. с. катушки поля.
Параметры магнитотвердых материалов определяют по формулам:
Е в Езв
W, = (0,21 +0,12) 1,19 0,47)
Е-в Езв или Г, = (0,25 + 0,20 1,19 —— ,5О % f Eia — 0,4»
30 j
346691
Яо — сечение образца;
W, — число витков измерительной обмотки;
f — частота тока;
k — постоянная катушки поля (произведение числа ее виктов на сечение катушки
S W );
e — основание натуральных логарифмов. где
Предмет изобретения
Составитель И. Ардашева
Текред T. Ускова
Корректор Л. Царькова
Редактор С. Хейфиц
Заказ 2527/16 Изд. № 1082 Тираж 406 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, SK-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2
В„, — значение остаточной индукции, определенное по пятой гармонике э. д. с. измерительной обмотки; 5
В„, — значение остаточной индукции, определенное по седьмой гармонике э. д. с. измерительной обмотки; 10
Н, — коэрцитивная сила;
W — значение максимальной магнитной энергии, определенное по пятой гармонике 15 э.д.с. измерительной обмотки;
W7 — значение максимальной магнитной энергии, определенное по 20 седьмой гармонике э. д.с. измерительной обмотки;
Е в, Езв, ЕЬв, Ьв — максимальные значения первой, третьей, 25 пятой и седьмой гармоник э.д.с. измерительной обмотки;
Едт — максимальное значение первой гармони- 30 ки э. д, с. катушки поля;
Способ измерения параметров магнитотвердых материалов с использованием подмагни- . чивания образца и получения результатов измерения по э.д.с., наводимой в измерительной обмотке, отличающийся тем, что, с целью ускорения процесса измерения, образец помещают в магнитное поле, изменяющееся по синусоидальному закону, последовательно увеличивают магнитное поле до достижения одной из нечетных гармонических составляющих (например первой, третьей, пятой и седьмой) измерительной обмотки максимального значения, измеряют максимальные значения нечетных гармоник измерительной обмотки и первой гармоники э. д. с. подмагничивания и по их соотношениям судят об измеряемых параметрах.

