Устройство для рентгеноструктурного анализа

СПИ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

321733

);o)0a Соеетс них

Социалистических

Республик

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено ОЗ.Ч111.1970 (№ 1467842/26-25) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет—

Оптбликовано 19.Х1.1971. Бюллетень № 35.ЧП!, G Oln 23/20

Комитет по делам иаоб)тетений н открытий при Спеете Чинистрое

СССР

УДК 539.261(088.8) Дата опубликования описания 2.П!.1972

В. H Гриднев, В. И. Трефилов, Л. Н. Лариков, В. Н. Минаков и М. Е. Гуревич

Авторы изобретения

Институт металлофизики АН Украинской ССР

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА

Изобретение относится к устройствам для анализа кристаллических материалов прп помощи рентгеновского излучения на основе рентгеновского дпфрактометра и может быть использовано для автоматического определения физических характеристик кристаллических матерна lов без нарушения пх целостности.

Известны рентгеновские дпфрактомстрпчсскис устройства, в которых детектор излучения перемещается при помощи гониометричсского устройства относительно нсподви>кных исследуемого образца и источника излучения.

Однако такие устройства имеют низкое временное разрешение и плохо применимы для изучения кинетики быстропротекающ))x процессов (10 сек), например прп скоростной термической обработке матерналов.

Кроме того, указанные дифрактомстричсскпс устройства позволя!от получать лишь проме>куточную ипформацшо о структуре объекта (распределение интенсивности в функции угла отражения), а изменения мсжнлоскостного расстояния определяют путем прпмснсппя дополнительной обработки результатов измерений. Дополнительных расчетов требует также определение макронапря:с)))))) (1 рода) в кристаллических матерна I3x и внутренних микронапряжс!пш (II po, 13 ) . I х)с!О!1(3 яся сл еда)ца я cllcTем 3 для Оцсllкп пз!т!енсппй мсжплоскостпого расстоя!1Пя по смещению максимума нптснснвностп пнтсрфсрспцпонно!11 линии не может обеспечить достаточного быстродействия и точности.

Предлагаемое устройство отличается от ! гзвсcTIII>)x тем, что между исследуемым объектом п неподвижным детектором излучения помсщсна подвижная щслевая апертурная дп;)(j)p 51 х)3, привод!1х)ая В )50?)5p3TI)o-пОсту па-!

О тельное движение с постоянной скоростью кул;шковым механизмом с частотой сканирования, обеспечивающей необходимое разрсшс)lIIc ))p)) изучен)п) быстропротскающпх IlpollcсCOH.

1,> На чертеже показана блок-C>:ci)3 o)5))c»»5;)с мого устройства.

0)о включает llcToчнпк излучения 1, 115.— слсауcì) ø объект 2, щслеву!о апертурную диафрагму 8, люминофор 4, детектор пзлучсРВ ппя >, шпрокополосньш усилитель 6, амплитудный дискриминатор 7, перес)ст))oc устройство 8, программное задающее и регулирующее устройство 9, измеритель 10 воздействия параметра, блок 11 вычисления мсжплоскост25 1)ol о расстояния, регистрирующее устройство

12, гармонический анализатор спектра 18.

Мсжд выходом пересчетного i стройл ва

8 и входом регистрирующего устройства !2 включен блок 1! измерения пзмснешш мсжз)! и !ОскocT))o) о рассгo)ни) s), )) pc ) с! 3Â. )! )Онl пй

321733

1

1 !

1

1.тг 1

1 (:жгиннгсгн Е. Алешин

1 n, l

Заказ Я98 I! n < .Х е 10011 Гири<к <70 ГIn

1(1111111111 !(<,ми< г;< jjn,,n.j;jij;.nn

0 « . к .н j jj. j< ):jjjn, сооой схему определения временных интервалов, пропорциональных изменениям межплоскостных расстояний, например врсменныс «I тервалы между максимумами интенсивности, что позволяет определять температурную илн временную зависимости изменений межплоскостного расстояния.

Для возможности определения суммы

1.ë0âíû; напряжений 1 рода на поверхности исследуемого объекта с держателем образца соединено программное устройство 9 перемещений, обеспечивающее сохранение постоянного расстояния от детектора излучения 5 до облучаемой поверхности образца при перемещении последнего. Программное задающее и регулирующее устройство 9 содержит задатчнк, систему контроля расстояния между детектором н объектом и исполнительный орган.

В простейшем случае используется лишь н(погнштельный орган, перемещение которого запрограммировано заранее, например, профилем поверхности исследуемого объекта.

Для повышения точности нзмерсш1й схема контроля расстояния используется независимо, для чего подк(ночается к входу псрссчетной схемы. Для обеспечения анализа многофазных систем или кристаллически.; тел с более низкой сингонисй, чем кубическая, Ii дифрактомстричсском устройстве установлены несколько дстскторов излучения, число котоpl1x соответствует числу фаз в исследуемом объекте.

Таким образом, дифрактометричсскос устройство обеспечивает оперативное определсllIIc такой важной характеристики исследуемого объекта как распределение макронапряженш1. Прн проведении высокото IIII>lx физических нсследовашш, например определении !

«Iy pc!I!«!i IIII«po!IcI(;I»(e!II!I для повышения

Л точности н информативности между выходом пересчетного устройства дифрактометра и входом регистрирующего устройства вкл 1оч ен гармошгческий анализатор спектра 13, Предмет изобретения

1. Устройство для рентгеноструктурного анализа кристаллических материалов, содерI0 >кащее рентгеновский дифрактометр с неподвижным детектором излучения, усилитель, Il»плитудный дискримгшатор, пересчетный и р(гнстрирующий блоки, отлача>ощееся тем, что, с целью повышения временного разрешения, между исследуемым кристаллическим мат(риалом 11 детектором излучения введена подвижная щелевая апертурная диафраг»а.

2. Устройство по п. 1, отличагощееся тс», ITo, с цслью повышеш1я точности измерений, 20 между пересчетпой схемой н регнстрнрукнци» блоком включен блок определения мс кплоскостного расстояния.

3. Устройство по пп. 1 н 2, отличаюигееся

rc», что, с цельlo повышения производитель25 ности, с держателем исследуемого ооразца соединено задающее н регулирующее перемещение образца программное устройство, содержащее задатчик, систему контроля ра(стояния между детектором и образцом н ис30 полнительный орган.

4. Устройство по пп. 1 — 3, отлп<гагоигееся тем, что, с целью повышения возможностей ана lilçà, оно содержит несколько детекторов

11ЗЛУЧСННЯ.

05 5. Устройство по пп. 1 — 4, отличающееся тем, ITo, с целью повышения то lностн н н11— формативностн анализа, на выход псрссчст<1ого блока включен гармоннческггй ана 111: ат