Эталон для настройки прибора при линейныхизмерениях

Авторы патента:

G01B9/02 - интерферометры

ЯФФ Веная

5%7 17И9ТРи1тцч скдя

" т

И Е

Союз Советскиз

Содиалистических

Ресоублин

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ЛВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 22.1V.1968 (№ 1236709/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 17.,111.1970, Бюллетень № 11

Дата опубликования описания 20,VII.1970

Кл. 42Ь, 12/02

МПК G Olb 11/Î2

G 01Ь 9/02

УДК 531.715.15 (088.8) Комитет оо делам изобретений и открытий ори Совете Министров

СССР

Автор изобретения

А. Я. Пеликс

Заявитель

Особое конструкторское бюро по проектированию средств автоматизации и контроля и электроэрозионного оборудования

ЭТАЛОН ДЛЯ НАСТРОЙКИ ПРИБОРА ПРИ ЛИНЕЙНЫХ

ИЗМЕРЕНИЯХ

Известен эталон для настройки прибора при линейных измерениях, аттестуемый абсолютным интерференционным методом и содержащий нижнюю и верхнюю стеклянные пластинки и проставок, выполненный в форме полого цилиндра и имеющий плоскопараллельные рабочие поверхности, размер между которыми равен номинальному размеру эталона.

Предлагаемый эталон отличается от известного тем, что, с целью настройки прибора на измерение внутренних размеров, проставок выполнен в виде тела П-образной формы.

На чертеже изображен предлагаемый эталон, общий вид.

Он содержит нижнюю стеклянную пластинку 1 с доведенной верхней плоскостью, верхнюю стеклянную пластинку 2 с доведенной нижней плоскостью, проставок 8, имеющий плоскопараллельные рабочие поверхности и выполненный в виде тела П-образной формы.

Край нижней пластинки выступает за проекцию на нее края верхней пластинки.

Поверка эталона производится следующим образом.

Помещают эталон на интерферометр для абсолютных измерений, при этом получают от выступающего края нижней пластинки и от нижней плоскости верхней пластинки интер= ференционную картину в виде полос равного

5 наклона, что обеспечивает возможность поверки эталона абсолютным интерференционным методом.

При желании поверка может быть произведена относительным интерференционным меlO тодом. В этом случае к выступающей части нижней пластинки притирается концевая мера, соответствующая размеру эталона.

Предмет изобретения

15 Эталон для настройки прибора при линейных измерениях, аттестуемый абсолютным интерференционным методом и содержащии нижнюю и верхнюю стеклянные пластинки и приставок, расположенный между пластинка20 ми и имеющий плоскопараллельные рабочие поверхности, размер между которыми равен номинальному размеру эталона, отличаютийся тем, что, с целью. настройки прибора на измерение внутренних размеров, проставок вь,25 по.1пен в виде тела П-образной формы.

" 26 62 24

Составитель В. Иванова

Редактор Л. Г. Герасимова Техред А. А. Камышникова Корректор Л. В. 10шин»

Заказ 1927/1 Тираж 480 Подписнос

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Эталон для настройки прибора при линейныхизмерениях

Голографический интерферометр // 266103

Способ определения состава рудничного воздуха // 256343

Интерферометр для контроля правильности формы торических поверхностей // 247509

Способ диагпостики ионизированных газовыхсред // 246710

Интерферометр для газодинамических исследования // 244665

Устройство для преобразования светового потока // 240301

Способ контроля профиля полированных асферических поверхностей // 236025

Интерферометр для контроля оптических систем // 235341

Многолучевой интерферометр // 234706

Двухлучевой интерферометр для измерения показателя преломления изотропных и анизотропных материалов // 2102700

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов

Звездный интерферометр майкельсона // 2103662

Устройство для автоматизированного измерения угловых величин // 2112208

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для высокоточных измерений малых угловых перемещений в специальных геодезических работах, в точных геофизических измерениях и при производстве крупногабаритных изделий в качестве контрольно-измерительной аппаратуры

Интерферометр для контроля формы поверхности выпуклых гиперболических зеркал // 2114390

Устройство для записи голографических интерферограмм // 2119644

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов

Устройство для измерения поверхностных характеристик // 2124701

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Способ обработки сигнала кольцевого интерферометра волоконно-оптического гироскопа (варианты) // 2130587

Изобретение относится к области волоконной оптики и может быть использовано при конструировании электронного блока обработки информации волоконно-оптического гироскопа, а также других датчиков физических величин на основе кольцевого интерферометра

Интерферометр перемещения // 2139496

Изобретение относится к интерферометрам и может быть использовано для абсолютного измерения линейной длины отрезков

Микрорезонаторный волоконно-оптический датчик концентрации газов // 2142114

Изобретение относится к волоконно-оптическим автоколебательным системам на основе микромеханического резонатора, возбуждаемого светом, и может быть использовано в системах измерения различных физических величин, например, концентрации газов, температуры, давления и др

Способ измерения квазипериода дифракционного распределения излучения от узкой щели // 2145054

Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может использоваться в скоростных дифрактометрах