Способ измерения температур поверхности с переменным коэффициентом излучения

247562

0Л ИСАЙ ИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Саюа Соеетских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 421, 9/10

Заявлено 01.1Ч.1968 (№ 1229585/18-10) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 04.Vll.1969. Бюллетень № 22

Дата опубликования описания 28.XI.1969

МПК 6 01k

УДК 536.521.2 (088.8) Комитет по делам иаобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Автор изобретения

А. Н. Барбараш

Заявитель

СПОСОВ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУР ПОВЕРХНОСТИ

С ПЕРЕМЕННЫМ КОЭФФИЦИЕНТОМ ИЗЛУЧЕНИЯ

Йзобретение относится к области йзмерення температуры тел в тех случаях, когда по каким-либо причинам нельзя или нежелательно прибегать к непосредственному контакту чувствительного элемента измерительного прибора .с поверхностью контролируемого тела, например при контроле тепловых режимов гладких поверхностей с неодинаковой излучательной способностью.

Известен способ контроля нагрева тел, прп котором о температуре контролируемого тела судят по мощности инфракрасного излучения.

Такой способ применяется, в частности, при контроле тепловых режимов пленочных радиоэлектронных схем.

Недостатком известного способа является то, что измерительный прибор не может быть отградуирован в единицах температуры, так как при одной и той же температуре тела мощность инфракрасного излучения различна в зависимости от излучательной способности разных участков его поверхности. Поэтому приходится прибегать к вычислению температуры по измеренной мощности излучения и известной излучательной способности конкретного участка схемы. Вычисление усложняется нелинейной зависимостью мощности излучения от температуры. Так как при измерениях поверхность пленочной схемы должна быть открытой, а в рабочих условиях она защищена слоем диэлектрика, то тепловой режим при измерении температуры по сравнению с условиями нормальной эксплуатации существенно изменяется.

Предлагаемый способ не имеет указанных недостатков и отличается от известных тем, что на исследуемую поверхность наносят диэлектрическую пленку, непрозрачную для ин10 фракрасных лучей, измеряют инфракрасное излучение пленки, .нагревающейся благодаря контакту с исследуемой поверхностью и по измеренной величине излучения судят о температуре исследуемой поверхности. Это позво15 ляет получить результаты измерения непосредственно в единицах температуры и приблизить режим измерений к эксплуатационному.

По предлагаемому способу измерение температуры заданного участка пленочной схемы

20 производится следующим образом.

Исследуемую схему подключают к источникам питания,и вводят в рабочий режим. На схему наносят пленку, предварительно покры25 тую слоем смазки. Заранее откалиброванный прибор для измерения интенсивности инфракрасного излучения наводят на контролируемый участок схемы, а точнее, на поверхность пленки в зоне контакта с контролируемым уча30 стком схемы. Затем по шкале прибора, отка247562

Предмет изобретения

Составитель В. С. Агапова

Техред А. А. Камышникова Корректор С. М. Сигал

Редактор T. Иванова

Заказ 3050/18 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва Ж-35, Раушская паб., д. 4I5

Типография, пр. Сапунова, 2

3» либрованной в единицах температуры, отсчитывают температуру контролируемого участка схемы.

Предлагаемый способ дает возможность отображать температурное поле исследуемой схемы .на телевизионном экране, фотографии или другом полутоновом изображении со строгим соответствием между температурой какого-либо участка схемы и ее яркостью на изображении; получать на телевизионном экране (или на другом изображении) линии одинаковой температуры (изотерм) вместо линий одинаковой интенсивности инфракрасного излучения, представляющих незначительный интерес.

Способ измерения температур поверхности с переменным коэффициентом излучения с по5 мощью контроля интенсивности инфракрасного излучения, отличающийся тем, что, с целью получения результатов непосредственно в единицах температуры и приближения режима измерения к эксплуатационному, на исследуе10 мую поверхность наносят диэлектрическую пленку,,непрозрачную для инфракрасных лучей, измеряют инфракрасное излучение пленки, нагревающейся благодаря контакту с исследуемой поверхностью, и по измеренной ве15 личине судят о температуре исследуемой поверхности.