Магнитоэлектрический датчик дефектов
Использование: неразрушающий метод контроля параметров магнитного поля. Сущность: магнитоэлектрический датчик дефектов содержит намагниченную систему и измерительный элемент. Намагниченная система выполнения в виде одинаковых секций из парнополюсных магнитов с прорезями на наружной поверхности вдоль продольной оси магнитов и с противоположных торцев одиночных полюсов. Измерительная система выполнена в виде непрерывной обмотки, размещенной в прорезях. 2 ил.
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия и может быть использовано в машиностроении и в черной металлургии.
Известен магнитно-электрический датчик дефектов /1/, содержащий намагниченную систему, измерительные преобразователи, блок регистрации и тележку, выполненную в виде самоходной шасси, где левые колеса тележки установлены над острым углом одного знака, первые под острым углом другого знака относительно направления движения тележки и соединены с тележкой с возможностью установки и жесткой фиксации каждого колеса на заданной высоте. Недостатком известного магнитного дефектоскопа для контроля цилиндрических объектов является невысокая избирательность и разрешающая способность к определенным дефектам контролируемого изделия. Наиболее близким техническим решением, принятым за прототип, является магнитоэлектрический датчик дефектов /2/, содержащий корпус, цилиндрический магнит, намагниченный вдоль своей оси, и магниточувствительные элементы, где магнит выполнен из цилиндрических секторов, соединенных между собой с чередованием направления намагничивания, и установлен в корпусе с возможностью вращения вокруг своей оси, а магниточувствительные элементы размещены на торце магнита, кроме того, магниточувствительные элементы, установленные в зоне соединения смежных цилиндрических секторов, ориентированы осью максимальной чувствительности под углом к прямой, параллельной оси магнита, а в зоне биссектрисы сектора под углом. Недостатком известного магнитоэлектрического датчика дефектов является низкая избирательность и разрешающая способность к определенным дефектам контролируемого изделия. Целью изобретения является повышение избирательности и разрешающей способности к дефектам контролируемых изделий. Цель достигается тем, что в магнитоэлектрическом датчике дефектов, содержащем корпус, намагниченную систему и измерительный элемент, в отличие от прототипа намагниченная система выполнена в виде установленных на корпусе по окружности на равном расстоянии друг от друга n парнополюсных постоянных магнитов с прорезями на наружной поверхности, причем одна прорезь выполнена вдоль продольной оси магнитов, а две другие расположены с противоположных торцов одиночных полюсов, измерительная система выполнена в виде непрерывной обмотки, размещенной в прорезях, ближайшие магниты обращены друг к другу одноименными полюсами, при этом датчик выполнен с возможностью одновременно поступательного и вращательного перемещения внутри контролируемого изделия. На фиг. 1 представлен магнитоэлектрический датчик дефектов в контролируемом изделии; на фиг. 2 магнитная система датчиков с измерительной обмоткой. Магнитоэлектрический датчик дефектов содержит корпус 1, намагниченную систему 2, измерительный элемент 3. Намагниченная система 2 представляет собой одинаковые секции 2 из парнополюсных постоянных магнитов на корпусе 1 с продольными и поперечными прорезями на поверхности магнита, причем продольная прорезь 4 каждой секции находится в середине парнополюсных магнитов, а поперечная 5,6 на противоположных концах одиночных полюсов, и ближайшие секции обращены друг к другу одноименными полюсами, и непрерывная обмотка 3 установлена в прорезях 4, 5, 6, а также в одном корпусе 1 расположена вторая такая же магнитная система с измерительной обмотки под углом
Формула изобретения
Магнитоэлектрический датчик дефектов, содержащий корпус, намагниченную систему и измерительный элемент, отличающийся тем, что намагниченная система выполнена в виде установленных на корпусе по окружности на равном расстоянии друг от друга n парнополюсных постоянных магнитов с прорезями на наружной поверхности, причем одна прорезь выполнена вдоль продольной оси магнитов, а две другие расположены с противоположных торцов одиночных полюсов, измерительная система выполнена в виде непрерывной обмотки, размещенной в прорезях, ближайшие магниты обращены друг к другу одноименными полюсами, при этом датчик выполнен с возможностью одновременно поступательного и вращательного перемещения внутри контролируемого изделия.РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2
Похожие патенты:
Магнитоэлектрический датчик дефектов // 2097759
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия
Магнитоэлектрический датчик дефектов // 2095803
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия
Способ визуализации дефектов, устройство для его осуществления и преобразователь магнитного поля // 2092832
Изобретение относится к прикладной магнитооптике, в частности, к устройствам на основе магнитооптического эффекта Фарадея и промышленно применимо в дефектоскопах для неразрушающего контроля
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины
Вихретоковый дефектоскоп // 2085932
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии электропроводящих объектов
Прибор для неразрушающего контроля металлов // 2082159
Устройство для магнитного контроля // 2095804
Изобретение относится к неразрушающему контролю труб магистрального трубопроводного транспорта и может быть использовано для выявления дефектов на других объектах и изделиях
Магнитоэлектрический датчик дефектов // 2095803
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия
Преобразователь магнитного поля // 2073233
Изобретение относится к анализу материалов с помощью магнитных средств и может быть использовано для скрытного маркирования изделий из немагнитных металлов (алюминий, титан и др.), неметаллов (пластмассы), магнитомягких материалов, магнитожестких материалов, изделий из дорогостоящих тканей, кожи, меха, денежных знаков, ценных бумаг, кредитных карточек и др
Изобретение относится к области магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле сварных соединений
Изобретение относится к средствам регулирования и контроля технологического оборудования и может быть использовано для определения работоспособного состояния оборудования тепловых электрических станций и нефтеперерабатывающих заводов
Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов