Магнитоэлектрический датчик дефектов
Использование: изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия. Сущность изобретения: магнитоэлектрический датчик дефектов отличается тем, что на полюсах П-образного магнита 1 установлены на равном расстоянии друг от друга магнитопроводящие полосовые наконечники 3, которые обхвачены измерительными обмотками 2, соединенными с соответствующими обмотками другого полюса. 1 ил.
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия.
Известен магнитный датчик [1] содержащий корпус, цилиндрический магнит, намагниченный вдоль своей оси, и магниточувствительные элементы, где магнит выполнен с чередованием направления намагниченности, и установлен в корпусе с возможностью вращения вокруг своей оси, а магниточувствительные элементы размещены на торце магнита, а также магниточувствительные элементы, установленные в зоне соединения смежных цилиндрических секторов, ориентированы осью максимальной чувствительности под углом





Формула изобретения
Магнитоэлектрический датчик дефектов, содержащий П-образный постоянный магнит и измерительные обмотки, отличающийся тем, что он снабжен установленными на полюсах магнита на равном расстоянии друг от друга магнитопроводящими полосовыми наконечниками, которые охвачены измерительными обмотками, соединенными с соответствующими обмотками другого полюса.РИСУНКИ
Рисунок 1
Похожие патенты:
Магнитоэлектрический датчик дефектов // 2095803
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия
Способ визуализации дефектов, устройство для его осуществления и преобразователь магнитного поля // 2092832
Изобретение относится к прикладной магнитооптике, в частности, к устройствам на основе магнитооптического эффекта Фарадея и промышленно применимо в дефектоскопах для неразрушающего контроля
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины
Вихретоковый дефектоскоп // 2085932
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии электропроводящих объектов
Прибор для неразрушающего контроля металлов // 2082159
Способ определения толщины покрытия // 2082080
Устройство для вихретокового контроля // 2102739
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия
Электромагнитный структуроскоп // 2116648
Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий
Устройство для вихретокового контроля // 2121672
Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий
Вихретоковый дефектоскоп // 2122204
Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы
Вихретоковый дефектоскоп // 2122727
Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия
Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката
Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката