Патент ссср 192436
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 07.Ч.1965 (№ 1006632/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 06.11.1967. Бюллетень № 5
Дата опубликования описания 25.III.1967
Кл. 42h, 34/11
Комитет по делам
МПК G 020
УДК 531.715.1(088.8) изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
Автор изобретения
Я. С. Агранович
Заявитель
Всесоюзный научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений
СПОСОБ АБСОЛЮТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА
ЛИНЕЙНОГО РАСШИРЕНИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА ПРИ
ГЕЛИЕВЫХ ТЕМПЕРАТУРАХ
Известный способ измерения коэффициента расширения твердого тела в области низких температур, при котором используют двухлучевой интерферометр, имеет недостаточную чувствительность для измерения коэффициента линейного расширения твердого тела в области гелиевых температур.
Предлагаемый способ позволяет повысить пороговую чувствительность к удлинению при гелиевых температурах. Это достигается тем, что осуществляют низкочастотную модуляцию температуры исследуемого образца, благодаря чему получают периодическое смещение интерференционной картины, регистрируемой затем фотоэлектрическим устройством.
На чертеже представлен один из вариантов устройства для осуществления описываемого способа.
Пучок света от источника 1 проектируется линзой 2 на входную щель 8, находящуюся в фокальной плоскости линзы 4. Параллельный пучок света после линзы 4 попадает на полупрозрачную пластинку 5. Одна часть светового потока направляется к зеркальной поверхности эталонной пластинки б и отражается от нее, другая — к плоскому зеркалу 7, отражаясь от которой, попадает на поверхность исследуемого образца 8, отражается от нее и возвращается на плоскопараллельную пластину 5.
При наличии небольшой разности хода лучей в фокальной плоскости линзы 9 наблюдается интерференционная картина, которая смещается при изменении размеров образца вследствие изменения его температуры. Смещение интерференционной картины регистрируется фотоэлектрическим устройством 10, сигнал с которого подается на резонансный усилитель 11, настроенный на частоту моду10 ляции температуры образца.
Эталонная пластина и исследуемый образец находятся в криостате (на чертеже не показан), и изменение температуры образца приводит к одинаковому изменению пути лучей
15 в двух плечах интерферометра, сдвиг же интерференционной картины происходит только из-за изменения длины образца.
Периодический нагрев и охлаждение образца осуществляют следующим образом.
20 На конце образца прикрепляют малоинерционный нагреватель 12, на небольшом расстоянии от которого располагают малоинерционный термометр 13. Нагреватель питается от генератора низкой частоты (на чертеже не
25 показан) и создает в образце температурную волну. Поскольку образец находится в вакууме, волна проходит вдоль образца и через тепловые контакты 14 направляется к стенкам камеры 15, имеющим большую теплоемкость.
30 Тем самым достигается периодическое изменение размеров образца.
192436
Составитель И, И. Небосклонова
Техред А. А. Камышникова Корректоры: В. В. Крылова и Н. Н. Самыгина
Редактор Н. Громов
Заказ 631/8 Тираж 535 Г1одписнос
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Центр, пр. Серова, д. 4
Типография, пр. Сапунова, 2
Сигнал с фотоэлектрического устройства подается на резонансный усилитель, кастроенный на частоту модуляции температуры образца. Зная изменение сигнала, вычисляют сдзиг интерференционной картины и по общi известным формулам определяют изменение длины образца.
Предмет изобретения
Способ абсолютного измерения коэффициента линейного расширения твердого тела при гелиевых температурах, при котором используют двухлучевой интерферометр, в рабочей ветви которого помеща|от исследуемый образец, а смещение интерференционной картины регистрируют фотоэлектрическим устройством, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности измерения, осуществляют модуляцию смещения интерференционной картины перподп секим нагревом и охлаидепием образца.

