Способ определения концентрации носителей тока в приповерхностном слое полупроводниковыхматериалов
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 24.I 1.1964 (№ 882998/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 22.V1.1965, Бюллетень ¹ 12
Дата опубликования описания 17ХП.1965
Кл. 21g, 11ц
Государственный комитет по делам изобретений и открытий СССР
МПК Н 011
УДК 621.315: 592(088.8) ВСс pQ;,„
Е. A. Ефимов, И. Г. Ерусалимчик, 1О, А. Концевой, В, Д. Кудин т-." ..пс
E. И. Горгораки, В. В. Майоршин и Е. В. Блинникова-Вяземска а м ° - ° >
Предприятие Госкомитета по электронной технике СССР
Авторы изобретения
Заявитель
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ НОСИТЕЛЕИ ТОКА
В ПРИПОВЕРХНОСТНОМ СЛОЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ
МАТЕРИАЛОВ
Подписная группа № 97
Известны способы для определения концентрации носителей тока в тонких приповерхностных слоях, осуществляемые зондовым методом и методом измерения пробивного напряжения контакта металл †:полупроводник.
Предложенный способ определения концентрации носителей тока в приповерхностном слое полупроводниковых материалов отличается от известных тем, что для обеспечения возможности контроля концентрации носителей тока тонких слоев независимо от абсолютной толщины пленки, повышения точности и упрощения измерений образец помещают в электролит, через границу раздела электролит — полупроводник пропускают постоянный ток и определяют величину тока, при котором величина фото-э.д.с., возбуждаемой при импульсном освещении границы раздела полупроводник— электролит, равна нулю.
Для предварительной обработки поверхности эпитаксиальных пленок германия и кремния предложены травители и составы электролитов: для германия 15 — 18% НГ и для кремния 5 — 18% HF.
Эпитаксиальные пленки предварительно обрабатывают: кремний в травителе, содержащем 1 г HF (42%)+4 г НКОз (65%), и германий в травителе, содержащем 15 г
Н СН СООН+10 г HNO) (65%)+5 г HF (42%) .
Лаком ХСЛ наклеивают кольцо из фторопласта, в которое заливают каплю электролита и опускают в нее два платиновых электрода. Один из электродов служит для пропускания постоянного тока, а другой — фиксирует фотопотенциал. Контакт с низкоомной подложкой осуществляется через электролит.
Граница раздела пленка — электролит освещается импульсами света от лампы-вспышки
10 с применением фильтра, создающего поверхностное возбуждение. Измерение производят, подавляя фото-э.д.с. постоянным током, пропускаемым через границу раздела полупроводник — электролит. Наблюдение фотопотен15 циа,TB и момент его исчезновения производят по переднему фронту импульса, возникающего на экране осциллографа. Это исключает влияние ошибок вследствие дембер-эффекта плп эффекта на границе раздела электролит—
20 подложка.
Предмет изобретения
Способ определения концентрации носителей тока в приповерхностном слое полупро25 водниковых материалов с использованием светового импульсного возбуждения, отличаюцится тем. что, с целью обеспечения возможности контроля концентрации носителей то (а тонких слоев (порядка ми (рона) незави30 симо от абсолютной толщины пленки, повы171925
Составитель О. 6. Федюкина
Редактор H. С. Коган Текред Л. К. Ткаченко Корректор В. Н. Маркова
Заказ 1541>9 Тираж 1575 Формат бум. 60 90 /8 Обьем 0,1 изд. л. Цена 5 коп.
ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР
Москва, Центр, пр. Серова, д. 4
Типография, пр. Сапунова, 2 щения точности и упрощения измерений, испытуемый образец помещают в электролит, через границу раздела полупроводник — электролит пропускают постоянный ток и определяют величину тока, при котором величина фото-э.д.с., возбуждаемой при импульсном освещении границы раздела полупроводник— электролит, равна нулю.

