Способ контроля частоты отражающих радиусных поверхностей
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля чистоты радиусных поверхностей, преимущественно шариков или дорожек качения подшипниковых колец приборных подшипников. Цель изобретения - повышение качества контроля и расширение области использования способа за счет возможности обнаружения единичного и групповых дефектов с размерами порядка среднего размера шероховатости исследуемой поверхности, а также за счет обеспечения контроля сферических и тороидальных поверхностей. Участок исследуемой поверхности 4 наклонно освещают лазерным лучом, наблюдают на экране 2 дифракционную картину отражения, визуально выделяют на ней дифракционные пятна, обусловленные механическими дефектами исследуемой поверхности 4, по количеству и размерам которых судят о чистоте исследуемой поверхности 4. Обзор всей поверхности 4 осуществляется путем ее вращения. 1 ил.
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК
„„5lJ „„1693377 А1 гй)5 G 01 В 11/30
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ
ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ
ПРИ ГКНТ СССР
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4732168/28 (22) 22.08.89 (46) 23.11.91. Бюл. М 43 (71) Институт оптики атмосферы СО
АН СССР (72) П.И,Нетреба (53) 531,7.1 5.27 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР
М 1379617, кл. G 01 В 11/30, 25.09.86. бретения — повышение качества контроля и расширение области использования способа за счет возможности обнаружения единичного и групповых дефектов с размерами порядка среднего размера шероховатости исследуемой поверхности, а также за счет обеспечения контроля сферических и тороидальных поверхностей. Участок исследуемой поверхности 4 наклонно освещают лазерным лучом, наблюдают на экране 2 дифракционную картину отражения, визуально выделяют на ней дифракционные пятна, обусловленные механическими дефектами исследуемой поверхности 4, по количеству и. размерам которых судят о чистоте исследуемой поверхности 4. Обзор всей поверхности 4 осуществляется путем ее вращения, 1 ил. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ЧИСТОТЫ ОТРАЖАЮЩИХ РАДИУСНЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля чистоты радиусных поверхностей, преимущественно шариков или дорожек качения подшипниковых колец приборных подшипников. Цель изоф
Ь»
l Г C
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
1693377
4 мой поверх!!Ость!, Ог ределя(от их количест80 и размеры (на! 1риклер, с i!QI:гощь(0 MGcIU табной сеTe»IB з((ра!!е) при известном !
/ВЕДЯ!ЧЕ!!!ЛИ KOГОРОЕ QIIPBUBÄB!ôÚ i "Я ПО (!!OPмуле D = 2!,(Й, По количеству и размерам выделенных дифракционных пятен судят о наличии дефектов и чистоте исследуемой поверхности 4, (1од(, -;истотой поверхности подразумевается от утствие а исследуемой поверхности дефектов типа: риски, pal!QBMhbI,, ВЫООИНЫ, BLICT) I|Û, С помощь(о пред()агаемого c!!Qr оба можно производить на экране визуальное сравнение количества и раз lepOB наблюдаемых дефектов с фотошаблоном, определяющим допустимые размеры и количество дефектов в поле зрения.
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для
68cK0HTBKTHof о BLI3 B!lbHoiQ контРОЛЯ «!!стоты отражающих радиусных поверхностей, преимущественно шариков и дорожек каче- 5 ния подшипниковых колец.
Цель изобретения — повь;шение качества контроля и расширение области использования способа эа счет возможности обнаружения единичного и групповых де- 19 фектов с размера!Ли порядка среднего размера шероховатостей исследуемой поверхности, а также за счет обеспечен..л; контроля сферических и тороидальных поверхностей. 15
На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующего предлагаемый способ.
Устройство содержит лазер 1, экран 2, светофильтр 3. 20
Способ осуществля(от следу!Ощим Obразом.
Лазерный луч QT лазера 1 наклонно, т.е, под углом к радиальному направления исследуемого участка поверхности, направ- 25, ляют на исследуемую поверхность 4. При этом на экране 2, установленном на расстоянии L от исследуемой поверхности 4, радиусом 8 образуетСя дифракционная картина отражения, котору!о визуально 30 наблюдают через светофильтр 3 для повышения контраста дифракционной картины.
Вращая исследуемую поверхнос ь 4, визуально выделяют на экране дифракционные пятна, обусловленные пефектами исследуе- 35
Формула изобретения
СпОсоб контроля чистоты Отражающ!лх радиусных поверхностей, эаключа!ощийся в том, что лазерный луч направля!От наклонно на исследуему(о поверхность, набл!Ода(от дифракционну!о картину Отражения, по которой судят о чистоте исследуемой поверхности, о т л и ч а !о шийся тем, что, с целью повышения качества контроля и расширения Области использования способа за счет обеспечения контроля сферических и тороидальных поверхностей, выделя!От дифракционные пятна из наб (!одаемой дифракционной картины отражения, а О чистоте исследуемОй поверхност!л судят по количеству и размерам дифракционных пятен, CGcTBI3I!T(çëü ЛХ".Обэо а
Гехред V).МОрген".ал
Редактор О.Головач
Корректор М, Ц)а QQ (Производственно-издательский комби!гат Т!атент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101
Заказ 4067 Ираж Подписное
ВНИИПИ Государствснного комитета по изобретениям и открытиям г;р(л ГК!-П С С ;
113035, Мос(та, Ж-35-,. Раушская наб„4/5
