Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов

 

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии. Целью изобретения является повышение чувствительности магнитографического контроля сварных швов за счет более точного измерения напряженности намагничивающего поля и уменьшения количества точек измерения. Для достижения цели изготавливают узкую полоску магнитной ленты, укладывают ее таким образом, что граница немагнитного участка располагается в плоскости симметрии шва, намагничивают изделие совместно с магнитоносителем, считывают с носителя магнитограмму и, сравнивая сигнал от границы намагниченного и немагнитного участков магнитного носителя с эталонным сигналом, корректируют режим намагничивания изделия. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (si)s G 01 N 27/85

НЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПР ГКНТ СССР

К ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ пов фич .пол шво ние что нам мет ног . емо реал пол зом раз ным магн гран (21) (22) (46) (71) сти (72) (53)

{56) №9 (54)

КО

НИ (57) фек

4450842/25-28

27.06.88

23.11.90. Бюл. ¹ 43

Могилевский машиностроительный инут

В.А.Новиков

620.079.14 (088.8)

Авторское свидетельство СССР

5764, кл. G 01 N 27/85, 1971.

СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО

ТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ ИЗ ФЕРРОМАГНЫХ МАТЕРИАЛОВ эобретение относится к магнитной деоскопии. Целью изобретения является шение чувствительности магнитогразобретение относится к магнитограской дефектоскопии и может быть исзовано при контроле качества сварных елью изобретения является повышеувствительности контроля за счет того, качестве участка для выбора режима гничивания используют плоскость симии сварного шва, а фиг.1 показано размещение магнитносителя при осуществлении предлагао способа, на фиг.2 — кажущийся и ьный видтопографии результирующего сварного шва. пособ осуществляют следующим образделие намагничивают совместно с ещенным на его поверхности магнитносителем, имеющим магнитные и неитные участки, при этом располагают цу немагнитного участка магнитного,, Ы„„1608566 А1 фического контроля сварных швов за счет более точного измерения напряженности намагничивающего поля и уменьшения количества точек измерения. Для достижения цели изготавливают узкую полоску магнитной ленты, укладывают ее таким образом, что граница немагнитного участка располагается в плоскости симметрии шва, намагничивают иэделие совместно с магнитоносителем, считывают с носителя магнитограмму и, сравнивая сигнал от границы намагниченного и немагнитного участков магнитного носителя с эталонным сигналом, корректируют режим намагничивания изделия. 2 ил. носителя в плоскости симметрии сварного шва, считывают с носителя магнитограмму, в процессе считывания магнитограммы сравнивают сигналы от границ немагнитного и магнитного участков магнитного носителя с эталонным сигналом и с учетом степени намагниченности носителя корректируют режим намагничивания.

При контроле на магнитном носителе получают один ферромагнитный участок шириной около 2 мм либо используют узкую магнитную ленту {при применении широкой ленты вследствие большого объема ферромагнитного порошка происходит искажение измеряемого поля). Затем укладывают та- . кой магнитоноситель на поверхность шва так, чтобы граница нема гнитного участка ле- жала в плоскости симметрии шва.

Способ магнитографического контроля позволяет более точно установить режим намагничивания для сечения шва, располо1608566

/

Составитель i,Артюшина

Те (ред M,ÌÎt::Ã8HTBJI и 01рректор Ы.Ыатьковская

Редактор И, Горная

Заказ 3613 Тираж 503 Подписное

ВНИИГ1И Государственного комитета по изобретониг1М и открытиям при! КНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушск:.:,аб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101

Ж8ННОГО В ПЛОСКОСТИ ЕГО СИММЕТРИИ, ЧТО снижает недобра ковку изделий. Так как значения индукции в остальных се чениях выше, ! то в них обнаруживаются более мелкие дефекты, Это исключает необходимость опре- 5 деления индукции в других сечениях шва, параллельных плоскости симметрии, На фиг.2 пунктирной линией показано кажущееся измен8ни8 танГенциальной составляю" шей результирующего поля, полученное 10 при известном способе контроля, а сплошной — реальное, значение которого в плоскости симметрии измерено предлагаемым способом;

Способ псэволяет более To . Но выбрать режим намагничивания для сечения шва, расположенного в плоскости егQ симметрии.

Формула изоорете .Ия

Способ магнитографического контроля иэделий из ферромагнитных материал .в, заключающийся в том, что cBBpHQA LU08 H-="магничивают совместно с Оазмещенным на

8fо поверхности магнитным носителем, имеющим магнитные и немагнитные участки, считывают с носителя магнитограмму, в процессе считывания магнитограммы сравнивают сигналы от границ немагнитного и магнитного у-:астков, носителя с эталонным сиГналом и с >gчетом степени намаГниченности носителя корректируют режим намагничивания, отличающийся тем, что, с целью повышения чувс вительности при контроле сварных швов, границу немагнитного участка магнитного носителя располага oT на границе плоскости симметрии сварного шва.