Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов

 

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии. Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счет уточнения места расположения дефекта. Для достижения цели на контролируемую поверхность укладывают двухслойный носитель, закрепленный на ограничительных роликах и имеющий возможность перемещаться. В процессе контроля верхний и нижний слои двухслойного магнитного носителя перемещаются в разные стороны в зоне контроля с одинаковой скоростью. После записи считывают магнитограмму одновременно с двух плотно прижатых друг к другу слоев магнитного носителя, а положение дефекта определяют по расположению максимума остаточного поля от двух слоев магнитного носителя. 4 ил.

„„SU„„1589193

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1 (5Ц5 0 О! И 27/85

ОПИСАНИЕ. ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPGHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21 ) 4489243/25-28 (22 ) 03. 10. 88 (46 ) 30,08,90. Бюп, 11 - 32 (71 ) Могилевский машиностроительный институт (72 ) В, А, Новиков (53) 620, 179. 14 (088, 8) (56 ) Авторское свицетельство СССР

Ф 1229671, кл. G 01 N 27/85> 1986, (54 ) СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО

КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ ИЗ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ю

МАТЕРИАЛО В (» ) Изобретение относится к магнитной дефектоскопии. Целью изобретения является .повышение достоверности контроля за счет уточнения места располоИзобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов.

Целью изобретения является повьнпение достоверности контроля за счет уточнения места расположения цефекта при считывании магнитогр аммы цвухслойного магнитного носителя.

На фиг. 1 показано устройство цля осуществления предлагаемого способа; на фиг. 2 и 3 — магнитный носитель с магнитным рельефом от локального дефекта на фиг. 4 — суммарная магнито .грамма двухслойного магнитного носи.теля.

Устройство дпя осуществления способа содержит двухслойный магнитный носитель 1 в виде замкнутой бесконтактной ленты, образующей в зоне контроля два слоя., надетой на ограничижения дефекта. Для достижения цели на контролируемую поверхность укладывают двухслойный носитель, закрепленный на ограничительных роликах и имеющий возможность перемещаться, В процессе контроля верхний и нижний слои двухслойного магнитного носителя перемещаются в разные стороны в зоне контроля с одинаковой скоростью, После записи считывают магнитограмму одновременно с двух плотно прижатых друг к другу слоев магнитного носителя, а положение дефекта определяют по расположению максимума остаточного поля от цвух слоев магнитного носителя, 4 ил. тельные ролики 2 и прижимаемой к нему с помощью прижимно го и приводного 3 и, 4 роликов, Нижняя и верхняя части фн@Й двухслойного магнитного носителя при- @ жимаются к изделию 5 роликами 6, При О© перемещении двухслойного носителя ниж- © ний и верхний слои его цвижутся в Э е разные стороны по стрелкам А и Б. Рас- фф стояние между осями роликов 2 неиз- фф менно, а их оси относительно изделия неподвижны, Поэтому магнитный носитель при вращении приводного ролика перемещается со скольжением относительно изделия.

След от дефекта 7 при записи на верхний слой двухслойного носителя. при перемещении до точки 8 имеет рельеф 9, а при записи на нижний слой носителя рельеф 10, Суммарная магнитограмма от двух слоев носителя имеет вид следа 11 на фиг. 4, 158919 3

Способ осуществляют следующим ob-i разом.

При вращении приводного ролика 4 двухслойный магнитный носитель 1 в зоне контроля перемещается по замкнутому контуру. В зоне контроля оба слоя двухслойного носителя перемещаются в раз ные стороны А и Б с одинаковой скоростью, При контроле осуществляют при-10 вязку каждого слоя магнитного носителя к изделию для облегчения расшифровки координат выявленных дефектов.

При наличии локального дефекта в изделии после дефекта воздействует на. оба слоя носителя, Так как верхняя и нижняя части его плотно прижаты одна к другой, то величина остаточного поля на них отличается незначительно (не более чем на 10-15X ). При переме- 20 щении верхнего и нижнего слоев двух— спойного носителя по стрелкам А и Б (фиг. 1) на расстояние 1 дефект иэ первоначального положения (фиг. 2 и 3 ) переместится относительно носителя в 25 точку 8, образуя магнитный рельеф 9 и 10, Суммарный магнитный рельеф на обоих слоях носителя, плотно прижатых друг к.другу, имЕет вид представлен-.

/ ный на фиг. 4. При с ытывании записи с обоих слоев носителя одновременно амплитуда сигнала в области перекрытия магнитных рельефов от обоих слоев носителя (фиг, 4) будет увеличивать— ся, достигая максимума в сечении В-В

В которое .соответствует середине дефекта. Амплитуда сигнала на экране дефектоскопа при этом увеличивается приблизительно в цва раза, - Определяя на двухслойном но сителе сечение, которому соответствует максимальная амплитуда, по заранее сделанной привязке носителя к изделию определяют положение дефекта в изделии.

Фор мул а и э о бр ет ения

Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов, э аключающийся в том, что осуществляют намагничивание контролируемого иэделия совместно с магнитным носителем в виде ленты, запись магнитного рельефа поверхности иэделия на магнитный носитель осуществляют при его перемещении на эацанное расстояние в противоположных. направлениях и по расположению максимума результирующего сигнала определяют наличие и расположение дефекта, о т л и ч а ю щ и й— с я тем, что, с целью повышения достоверности контроля, используют двухслойный магнитный носитель, в противоположных направлениях на одинаковое р асстояние синхронно перемещают его слои, а максимум результирующего сигнала определяют по остаточному полю двух слоев.

158919 3

Составитель А.Бодров

Техред N.ÄHäûê

Корректор Т,Малец

Редактор Ю.Середа

Заказ 2537 Тираж 510 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при расшифровке магнитограмм в процессе контроля качества изделий

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, касается магнитографического метода дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества ферромагнитных материалов

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и изделий, обладающих ферромагнитными свойствами, а именно к магнитографической дефектоскопии

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества ферромагнитных изделий трубчатой формы

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий, изготовленных из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано при дефектоскопии изделий вращающимся датчиком, а также при считывании магнитной записи с магнитной пленки

Изобретение относится к области магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов, например гибов труб, шеек коленчатых валов, фасонных изделий, несущих конструкций и т.д

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может быть использовано для дефектоскопии ферромагнитных лент и пластин

Изобретение относится к области неразрушающего магнитографического контроля труб и изделий трубчатой формы, в частности литых чугунных заготовок гильз цилиндров автомобилей

Изобретение относится к дефектоскопии магнитографическим методом и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля стыковых сварных соединений
Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля стыковых сварных швов

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля

Изобретение относится к магнитографическому контролю изделий с поверхностью малой кривизны и сварных швов со снятым усилением из магнитомягких сталей (с коэрцитивной силой меньше 10 А/см)
Наверх