Микрофокусный аппарат для рентгеноструктурных исследований

Авторы патента:

G01N23/20 - с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения

Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу монокристаллов, а более конкретно - к микрофокусным аппаратам для исследований псевдокосселевским методом. Цель изобретения - повышение точности и упрощение расшифровки рентгенограмм. Для этого магнитная линза 4 расположена между кристаллодержателем 1 и фотокассетой 5, выполненной с возможностью прижатия рентгеновской пленки 6 и задней торцовой поверхности магнитопровода 8. Внутренний канал 9 магнитопровода 8 обеспечивает свободное прохождение дифрагированного исследуемым кристаллом 2 излучения к рентгеновской пленке 6. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

1 1 А1 (19) (П) (511 4 G 01 N 23/20

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21) 4446502/25-25 (22) 26.04.88 (46) 23.10.89. Бюл. Х 39 (71) Ленинградское научно-производственное объединение Буревестник" (72) М.P.Коган, В.А.Гущин, В.Ш.Шехтман, Т.М.Солодкина, В.В.Аристов и E.Â.móëàêoâ (53) 548 ° 734(088.8) (56) Уманский Я.С. и др. Кристаллография, рентгенография н электронная микроскопия. вЂ” М.: Машиностроение, 1982, с.235-239, 377-379.

Микрофокусный рентгеиовский àïïàрат JMX-BH, Проспект фирмы JEOL. Япо-. ния °

2 (54) МИКРОФОКУСНЫЙ АППАРАТ ДЛЯ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ (57) Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу монокристаллов, а более конкретно к микрофокусным аппаратам для исследований псевдокосселевским методом. Цель изобретения вЂ” повышение точности и упрощение расшифровки рентгенограмм. Для этого магнитная линза 4 расположена между кристаллодержателем 1 и фотокассетой 5, выполненной с возможностью прижатия рентгеновской пленки 6 и задней торцовой поверхности магнитопровода 8. Внутренний канал 9 магнитопровода 8 обеспечивает свободЮ ждение дифрагированного искристаллом 2 излучения к кой пленке 6. 1 ил.

1516919

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа монокристаллов, а именно к микрофокусным аппаратам для исследований псев5 докосселевским методом.

Цель изобретения вЂ” повышение точности и упрощение расшифровки рент-. генограмм.

На чертеже показана .часть микрофокусного аппарата, в которой формируется псевдокосселевская дифракционная картина от исследуемого монокристалла.

Микрофокусный аппарат для рентгеноструктурных исследований монокристаллов псевдокосселевским методом содержит кристаллодержатель 1, позволяющий устанавливать исследуемый кристалл 2 его рабочей поверхностью пер- 2р пендикулярно к оси вынесенного анода

3 рентгеновской трубки. Магнитная линза 4 расположена между кристаллодержателем 1 и фотокассетой S с рентгеновской пленкой 6. Конструкция фо- 25 токассеты 5 обеспечивает плотный прижим рентгеновской пленки 6 к задней торцовой поверхности 7 магнитопровода

8 магнитной линзы 4. Конфигурация и размеры внутреннего канала 9 магнитопровода 8 обеспечивают свободное прохождение дифрагированных назад кристаллом 2 лучей на рентгеновскую пленку Ь. Ось внутреннего канала 9 магнитопровода 8 является осью магнитной линзы 4, Окружность пересечения поверхности внутреннего канала 9 магнитопровода 8 с его задней торцовой поверхностью 7 одновременно является входным окном, ограничивающим голе 4р засветки рентгеновской пленки 6.

Микрофокусный аппарат работает следующим образом.

В процессе экспонирования рентгеновской пленки 6 на ней формируется 45 четкое теневое изображение окружности на выходе внутреннего канала 9 магнитопровода 8„ Это изображение формируется в диффузно рассеянном исследуемым кристаллом 2 излучении„.Центр полученного на рентгеновской пленке 6 изображения окружности является точкой пересечения оси магнитной линзы 4 с плоскостью рентгеновской пленки 6.

Отъюстированная аксиально-симметричная магнитная линза 4 фокусирует электронный пучок на своей оси. Поскольку ась магнитной линзы 4 перпендикулярна торцовой поверхности 7 магнитопровода 8, к которой прижата рентгеновская пленка 6, то центр указанной окружности является проекцией фокуса на плоскость рентгеновской пленки 6.

Таким образом, для нахождения на рентгеновской пленке 6 центра рентгенограммы достаточно по трем точкам на изображении окружности, например по обрывам дифракционных линий, геометрическим построением найти центр указанной окружности. Для этой же цели можно использовать и соответствующий шаблон.

Формула изобретения

Микрофокусный аппарат для рентгеноструктурных исследований монокристаллов псевдокосселевским методом, содержащий рентгеновскую трубку с протяженным вынесенным анодом прострельного типа, охватывающую вынесенный анод магнитную линзу с имеющим внутренний канал магнитопроводом для фокусировки электронного пучка на аноде, кристаллодрржатель и фотокассету с рентгеновской пленкой, расположенную в геометрии обратной съемки, отличающийся тем, что, с целью повьппения точности и управления расшифровки рентгенограмм

1 магнитная линза расположена между кристаллодержателем и фотокассетой, выполненной с возможностью прижатия рентгеновской пленки к задней торцовой поверхности магнитопровода магнитной линзы, расположенной перпендикулярно к оси магнитной линзы, при" чем внутренний канал магнитопровода выполнен конически расширяющимся в направлении к фотокассете.

Изобретение относится к рентгенографическому исследованию различных материалов в виде плоских образцов, а также к высокотемпературной рентгенографии катализаторов непосредственно в условиях химической реакции

Устройство для рентгенографического контроля // 1516917

Изобретение относится к физической химии, а именно к средствам рентгенографического контроля взаимодействия пористых сорбентов с растворами реагентов при технологических изысканиях

Устройство для рентгеновского фазового анализа // 1516916

Изобретение относится к рентгеновскому приборостроению и может использоваться для фазового анализа материалов

Приставка к рентгеновскому спектрометру // 1516915

Изобретение относится к научному приборостроению, в частности к средствам рентгенографического исследования структуры жидких кристаллов

Способ рентгеновского дифрактометрического анализа текстуры // 1511653

Изобретение относится к способам рентгеноструктурного анализа объектов с неоднородной текстурой

Способ определения полюсной плотности текстурованных материалов // 1511652

Изобретение относится к области средств рентгенографического контроля свойств материалов, в частности может быть применено для контроля технологических процессов при изготовлении кольцевых и секторных магнитов

Способ рентгеновского дифрактометрического анализа поликристаллических материалов с аксиальной текстурой // 1509697

Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу объектов, а более конкретно - к исследованию или анализу объектов с помощью рентгеновского излучения средствами дифрактометрии

Устройство для изучения термических процессов в веществах // 1500923

Изобретение относится к рентгенографическому исследованию материалов и может быть использовано для исследования структуры расплавов и растворов в широком диапазоне температур и газовых сред

Установка для рентгенографического исследования текстуры // 1497534

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и является усовершенствованием установки для рентгенографического исследования текстуры

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов // 1497533

Изобретение относится к рентгендифракционным методам контроля структурного совершенства монокристаллов и может быть использовано для контроля при производстве монокристаллических образцов, приборов на их основе, а также монокристаллов, используемых в ядерно-физических экспериментах по изучению взаимодействия излучения с кристаллами

Держатель образцов для рентгенофазового анализа // 2100798

Устройство для измерения плотности // 2102717

Рентгеновский рефлектометр // 2104481

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Способ неразрушающего контроля геометрии теневой гидридлитиевой радиационной защиты // 2113737

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Способ юстировки дифрактометра // 2114420

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"

Способ анализа липопротеинов в плазме или сыворотке крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния // 2115121

Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека

Устройство для определения состава и структуры неоднородного объекта (варианты) // 2119660

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих

Детектор рентгеновского излучения // 2120620

Способ текстурного анализа металлов и сплавов // 2122200

Блок детектирования многоканального дефектоскопа // 2122201

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов