Приставка к рентгеновскому спектрометру
Изобретение относится к научному приборостроению, в частности к средствам рентгенографического исследования структуры жидких кристаллов. Цель изобретения состоит в расширении объема получаемой информации при исследовании жидких кристаллов. Приставка содержит основание 1, на котором размещен корпус 2 в виде обоймы, в которой установлена платформа 3. На платформе смонтирован держатель 7 кюветы 11 с жидкокристаллическим материалов. Кювета 11 расположена между электродами 8 и нагревательными элементами 9. Теплоизоляция держателя 7 от платформы 3 обеспечивается вставками 4, 6 из теплоизолирующего материала и экраном 5. Возможность поворачивать платформу 3 во время рентгеносъемки и тем самым изменять пространственное положение жидкого кристалла и электрического поля позволяет получать более полную информацию о строении жидких кристаллов. 2 ил.
СОЮЗ СОВЕТСНИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК (19) (Н) Ai (511 4 G 01 N 23 20
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ
ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ
ПРИ ГКНТ СССР
К А BTOPCKOMY СВИ4ЕТЕЛЬСТВУ (21) 4332585/31-25 (22) 26.11.87 (46) 23.10.89. Бюл.У 39 (71) Львовский государственный университет (72) В.А.Омельченко (53) 536.41.08(088.8) (56) Чистяков H.Т. и др. Рентгеновская температурная камера для исследования жидких кристаллов в электрических полях. — ПТЭ, 1975, 1(6, с. 231.
Бельцов Б. и др. Ко мбиниров анн ая приставка к ДРОН-2: Сб. Жидкие кристаллы. Иваново, 1986, с.130-132. (54) ПРИСТАВКА К РЕНТГЕНОВСКОМУ СПЕКТРОМЕТРУ
2 (57) Изобретение относится к научному приборостроению, в частности к средствам рентгенографического исследования структуры жидких кристаллов.
Цель изобретения состоит в расширении объема получаемой информации при исследовании жидких кристаллов. Приставка содержит основание 1, на котором размещен корпус 2 в виде обоймы, в которой установлена платформа 3. На платформе смонтирован держатель 7 кюветы 11 с жидкокристаллическим материалом. Кювета 11 расположена между электродами 8 и нагревательными элементами 9. Теплоизоляция держателя 7 от платформы 3 обеспечивается вставками 4, 6 из теплоизолирующего
)Ь9!5
3 Э материала и экраном 5. Возможность поворачивать платформу 3 во время рентгеносъемки и тем самым изменять прог транственное положение жидкого кристалла и электрического поля позволяет получать более полную информацию о строении жидких кристаллов.
2 нл.
Изобретение относится к области научного приборостроения, в частности к средствам рентгенографического исследования структуры жидких кристаллов.
Цель изобретения — расширение объема получаемой информации при исследовании жидких кристаллов.
На фиг.l представлена схематически приставка, общий виц; на фиг.2 разрез А-A на фиг.l.
Приставка содержит основание 1 с фланцем в нижней части для крепления приставки на валу, корпус 2, закрепленный на основании 1 и выполненный 25 в виде внешней обоймы с горизонтально расположенной осью, В обойме корпуса
2 установлена с возможностью вращения гокр.г гоонзонтачьной оси платформе 3 кольдсвой формы, на которой 30 (iэ :ii:дона "едьно здин в другом размещены перва.» т дл >изолирующая вставка тепловой экран 5, вторая вставка б, в которой уста овлен держатель 7 образца, заключен:<ый между эдектрода ш Я, нагреват-лом 9 и тормонарными
35 элем HT. и 10 ;. ржателе 7 вы,iiJIHpHo гнездо для крепления кюветы 1! с жидкокристаллическим материалом.
E TLðìîи3олирующих вставках 4 и Ь и экране 5 вь.полн=.ны окна 12 для прохо кденил р=нт.е. ов=ких лучей, закрытые pt.iiг ",.одр .зрачным материалом 13.
С внешней стор<>ны корпуса 2 установлен радиатор 14 водяного охлаждения.
Приставка работает следующим обраэом.
Кювету 11 с образцом помещают в держатель 7 кюветы, включают терморегулирующую систему, выбирают необходимый 0 тепловой режим с помощью теплового эк-0 рана 5 и нагревательных элементов 9.
В случае перегрева подвижной части приставки используют радиатор 14 водяного охлаждения. Напряженность элек" трического поля в кювете 11 с жидкокристаллическим образцом меняют с помощью изменения приложенной разности потенциалов к электродам 8 так или изменением расстояния между ними с помощью диэлектрических прокладок (не показаны) и подбором конфигурации и материала кюветы ll с образцом. При достижении необходимой температуры производят съемку на "просвет" при различных значениях напряженности электрического поля и его направления в пространстве, для чего вращают поворотную часть вокруг вертиКальной 86 оси и вокруг горизонтальной оси 1РФ проходящей через геометрический центр приставки.
Фор мул аизобретения
Приставка к рентгеновскому спектрометру, содержащая основание с фланцем для крепления приставки на валу гони— ометрического устройства с вертикальной осью вращения, корпус, выполненньй н виде внешней обоймы и снабженный электродами, средствами нагрева и термочувствительными элементами, и держатель кюветы жидкокристаллического образца; установленный с возможностью вращения внутри обоймы, о т л ич а ю щ а я с я тем, что, с целью расширения объема получаемой информа- ции, приставка снабжена платформой, установленной во внешней обойме с возможностью вращения вокруг горизонтальной оси и несущей последовательно размещенные тепловой экран, теплоизолирующую вставку с окнами для входа и выхода рентгеновского излучения и держатель образца, заключенный между электродами, нагревателем и термочувствительными элементами.
1516915
Составитель E. Сидохин
Техред А. Кр ав чук Корректор Т.Колб
Редактор Н.Бобкова
Закаэ 6383/45 Тиран 789 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
113035, Москва, W-35, Раушская наб., д. 4/5
Проиэводственно-иэдательский комбинат "Патент", r. Уигород, ул. Гагарина, 101
Фиг.2
11
