Способ определения скорости охлаждения быстрозакристаллизованных вольфрам-молибденовых сталей

Авторы патента:

G01N23/20 - с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения

Изобретение относится к области металловедения и может быть использовано в научных исследованиях и для контроля параметров термических обработок, в частности, для определения скоростей охлаждения быстрозакристаллизованных вольфраммолибденовых сталей. Цель изобретения - расширение диапазона определяемых скоростей. Определяют отношение количеств ОЦК- и метастабильной *98N - фазы в стали и по его величине судят о скорости охлаждения данного образца. 1 табл.

СОЮЗ СОБЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСГ1УБЛИН щ) G Of N 23/20

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

flpH ГКНТ СССР (21) 4251430/31-25 (22) 20,04.87 (46) 23.04.89. Бюл„ Н- 15 (71) Институт проблем материаловедения AH УССР (72) Л.Д. Кулак, С.Я. Голуб, Б.В. Хаенко и А.С, Фомичев (53) 548)73(088.8) (56) Мирошниченко И.С. Закалка из жидкого состояния. вЂ” М.: Металлургия, 1982, с. 15-25.

Петров А.К. и др. Исследование кристаллизации металлических порошков, получаемых путем распыления жидкой фазы. вЂ” Порошковая металлургия, 1973, № 1, с. 16-20.

Изобретение относится к области металловедения и может быть использовано в научных исследованиях и для контроля параметров термических обработок.

Цель изобретения вЂ” расширение диапазона определяемых скоростей охлаждения сталей.

Способ осуществляют следующим образом.

В образцах сталей, легированных вольфрамом и молибденом, при кристаллизации из жидкого состояния со скоростью, большей 10 К/с, образуют6 ся ОЦК (объемно-центрированная) (h или о ), ГЦК (гране-центрированная) (IF) и g -фазы. Последняя представляет собой метастабильную модификацию на основе железа с кубической примитивной решеткой и периодом а = 6,278 А.

„„SU„„1474528 А 1 (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СКОРОСТИ ОХЛАЖДЕНИЯ БЫСТРОЗАКРИСТАЛЛИЗОВАННЫХ

ВОЛЬФРАМ-МОЛИБДЕНОВЫХ СТАЛЕЙ (57) Изобретение относится к области металловедения.и может быть использовано в научных исследованиях и для контроля параметров термических обработок, в частности для определения скоростей охлаждения быстрозакристаллизованных вольфрам-молибденовых сталей. Цель изобретения вЂ” расширение диапазона опрецеляемых скоростей. Определяют отношение количества ОЦКи метастабильной (-фазы в стали и по его величине судят о скорости охлаждения данного образца. 1 табл.

С увеличением скорости охлаждения интенсивность дифракционных линий, характеризующая количество фазы в стали, для ОЦК-фазы уменьшается, для -фазы увеличивается. Поскольку измерение абсолютных количеств этих фаз затруднительно и не гарантирует высокой точности, в качестве параметра, по которому судят о скорости охлаждения, выбрано отношение количества ОЦК- и Р -фаз, определяемое, например, по соотношению интенсивностей дифракционных линий этих . фаз.

Скорость охлаждения быстрозакриссталлизованных образцов, независимо от метода их охлаждения, определяют путем сопоставления с экспериментальнои зависимостью отношения интенсив1474528

4 отношение I /I>„ < = 0,45. С помощью оо ь линейной интерполяции по таблице определяют скорость охлаждения рант ! ную 8,5 ° 10 К/с. ностей ОЦК- и g.-фаз, приведенной в таблице.

Формула изобретения (I /I )* 03 10 1,5 25 30

1,0 ° 10 2 5" 10 6,2 10 2,0 10 1,0 10

V К/с

*I вЂ” интенсивность дифракционных линий ОЦК- и -фаз соответственно.

Составитель С. Харламов

Редактор Н. Тупица ТехредЛ.Сердюкова КорректорИ. Демчик

Заказ 1886/41 Типаж 788 Подписное

BHHHlIH Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r.Óæãoðîä, ул. Гагарина,101

Способ позволяет расширить диапазон определяемых скоростей охлажде- 5 ния свыше 10 К/с. Относительная по7 грешность определения скорости охлаждения .2-57.

Пример. Методом ударно-цент-, робежного распыления получают чешуй- 10 ки стали РбМ5К5 толщиной до 15 мкм, Готовят образец для рентгенографической съемки. Дифракционную картину регистрируют на.дифрактометре ДРОН

УИ-1. Затем дифрактограмму индицируют, выбирают аналитическую пару линий 200 Ы и 311Р и определяют их интегральные интенсивности. Находят

Способ определения скорости охлаждения быстрозакристаллизованных вольфрам-молибденовых сталей путем измерения независимых от метода охлаждения параметров структуры стали, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью расширения диапазона определяемых скоростей, измеряют количества содержащихся в стали ОЦК- и -фаз, по отношению которых определяют искомую величину.

Изобретение относится к рентгеновским монохроматорам и может применяться в оптике рентгеновских лучей

Способ контроля степени восстановления молибденового концентрата // 1469402

Изобретение относится к области контроля технологических процессов физическими методами, в частности к средствам контроля степени восстановления концентратов прямыми и комбинированными способами в заводских условиях Цель изобретения состоит в повьшенин произ.водительности контроля

Способ электронно-оптического исследования дефектов кристаллов // 1469401

Высокотемпературная рентгеновская камера // 1467472

Изобретение относится к технике рентгеноструктурных исследований, а именно к устройствам для высокотемпературной рентгенографии,.используемым при изучении ; превращений кристаллической структуры с помощью скоростной съемки

Способ двухкристальной рентгеновской топографии // 1456857

Высокотемпературная камера-приставка к рентгеновскому дифрактометру // 1453277

Способ юстировки рентгеновского дифрактометра // 1448256

Способ определения равновесного состава фазы а @ в @ в двухкомпонентной системе // 1441281

Изобретение относится к области физического материаловедения, конкретно к средствам контроля состава фаз в двухкомпонентных системах

Способ настройки двулучевого датчика // 1441280

Изобретение относится к контролю вещественного состава радиационными - методами, особенно к контролю зольности угля двухлучевым датчиком

Способ определения параметров решетки поликристаллических материалов // 1436036

Изобретение относится к способам исследования поликристаллических ма териалов дифракционными методами

Держатель образцов для рентгенофазового анализа // 2100798

Устройство для измерения плотности // 2102717

Рентгеновский рефлектометр // 2104481

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Способ неразрушающего контроля геометрии теневой гидридлитиевой радиационной защиты // 2113737

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Способ юстировки дифрактометра // 2114420

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"

Способ анализа липопротеинов в плазме или сыворотке крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния // 2115121

Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека

Устройство для определения состава и структуры неоднородного объекта (варианты) // 2119660

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих

Детектор рентгеновского излучения // 2120620

Способ текстурного анализа металлов и сплавов // 2122200

Блок детектирования многоканального дефектоскопа // 2122201

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов