Асимметрично отражающий монохроматор

 

Изобретение относится к рентгеновским монохроматорам и может применяться в оптике рентгеновских лучей . Целью изобретения является одновр.еменное получение набора пучков с различной угловой расходимостью каждого пучка. Асимметрично отражающий монохроматор содержит монокристалл , в котором отражающие плоскости расположены под углом к входной поверхности . Входная поверхность монокристалла выполнена в форме однополостного гиперболоида, 1 шт. 1 табл.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)4 G 01 N 23/20

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Ю

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4285572/31-25 (22) 17.07.87 (46) 30.03.89. Бюл. Р 12 (71) Ереванский государственный университет (72) А.Г.Ростомян, С.M.Нариманян, М.А.Месропян и А.М.Григорян (53) 62 1.386 (088.8) (56) Пинскер З.Г. Рентгеновская кристаллооптика. — M. Наука, 1982, с. 236.

Авторское свидетельство СССР

9 714506, кл. G 21 К 1/06, 1980.

Изобретение относится к рентге. новским монохроматорам и может быть применено в оптических устройствах, использующих рентгеновские лучи.

Цель изобретения — получение пучка с различной .асимметричностью отражения вдоль его сечения.

На чертеже изображен асимметрично отражающий монохроматор.

На чертеже обозначены отражающая атомная плоскость 1 монохроматора„ отражающая поверхность 2 монохроматора, падающий лентообразный пучок 3, линейная образующая 4 однополостного гиперболоида, отраженный пучок 5, основания 6 монохроматора, линия 7 пересечения плоскости, перпендикулярной к отражающей плоскости

1 и проходящей через мнимую ось гиперболоида, с отражающей поверхностью 2, 0 — точка пересечения линий

4 и 7 на отражающей поверхности.

ÄÄSUÄÄ 1469403 А1 (54) АСИММЕТРИЧНО ОТРАЖАЮЩИЙ МОНОХРОМАТОР (57) Изобретение относится к рентгеновским монохроматорам и может применяться в оптике рентгеновских лучей ° Целью изобретения является одновременное получение набора пучков с различной угловой расходимостью каждого пучка. Асимметрично отражающий HQIiQxpoMdTop содержит монокристалл„ в котором отражающие плоскости расположены под углом к входной по--,ерхности. Входная поверхность монокристалла выполнена в форме однополостного гиперболоида. 1 ил. 1 табл.

Монохроматор работает следующим образом.

Асимметрично отражающий Мо»охроматор своим нижним основанием 6 закрепляется на горизонтальном столике гониометрической головки. Пово- Ж ротом монохроматора вокруг верти- С© кальной оси, проходящей через точку фД»

О, монохроматор приводится в поло- 1 » жение брэгговского отражения таким ©ф образом, чтобы точки отражения лежали на линии 7. Затем вращением монохроматора вокруг горизонтальной оси, проходящей через точку .0 и перпендикулярной плоскости 1, достигается совпадение точек отражения с обраЛ» эующей 4.

В точке 0 отражение симметричное:

1, где т- параметр асимметричности отражения. Для верхних точек отражение асимметричное (1 ) 1) и по мере удаления от точки 0 возраста1

2 3 4

-1 О 1

Zo. MM

0,75 0,50 0,33

0,21 0 13 0,0б

4,50 2,00

1,17

Составитель О.Алешко-Ожевский

Редактор Л.Веселовская Техред N.Äèäûê Корректор А.Обручар

Заказ !352/49 Тираж 788 Подписное

BHHHIIH Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, N-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r.Óæãoðîä, ул. Гагарина,10! з 1469403

4 ет. Для нижних точек т 1, но по ме- щего монохроматора и рентгеновской ре удаления от точки О у уменьшает- пленкой, поставленной перпендикулярся. Отраженный пучок 5 остается вер- но к отраженному пучку 5, равно тикальным, представляя собой набор 20 мм. пучков с разными степенями коллима5

В таблице приведены значения сеции и сечениями. Причем снизу вверх чений S>, измеренные на рентгеноугловая расходимость увеличивается, .грамме, в зависимости от смещения а сечение уменьшается ° 2 от центральной (т = 1, S „ = S )

Конкретным примером асимметрично 10 точки. отражающего монохроматора может служить германиевый монохроматор с от- Ф ор мул а и з об р е т е ни я ражающими атомными плоскостями (110), в котором угол между линейной обра- Асимметрично отражающий монохрозуюшей и мнимой осью в отражающей 1$ матор, содержащий монокристалл, в ко.о плоскости равен 45, а действитель- тором отражающие плоскости располоные полуоси одинаковы и равны 2,5 мм. жены под углом к входной поверхности, Опыт проводился с излучением отличающийся тем, что, СоК д при отражении (440) . Угол Брэг- с целью одновременного получения нега при симметричном отражении равен 20 прерывного набора пучков с различ0

66 63,43 ной асимметричностью отражения кажСечение падающего лентообразного дого пучка, входная поверхность монопучка 3 S = 0,50 мм, расстояние кристалла выполнена в форме однопомежду точкой О асимметрично отражаю- лостного гиперболоида.

Асимметрично отражающий монохроматор Асимметрично отражающий монохроматор 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контроля технологических процессов физическими методами, в частности к средствам контроля степени восстановления концентратов прямыми и комбинированными способами в заводских условиях Цель изобретения состоит в повьшенин произ.водительности контроля

Изобретение относится к технике рентгеноструктурных исследований, а именно к устройствам для высокотемпературной рентгенографии,.используемым при изучении ; превращений кристаллической структуры с помощью скоростной съемки

Изобретение относится к области физического материаловедения, конкретно к средствам контроля состава фаз в двухкомпонентных системах

Изобретение относится к контролю вещественного состава радиационными - методами, особенно к контролю зольности угля двухлучевым датчиком

Изобретение относится к способам исследования поликристаллических ма териалов дифракционными методами

Изобретение относится к рентгенодифрактометрии монокристаллических слитков полупроводниковых материалов

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"

Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов
Наверх