Устройство для определения параметров кристаллической решетки твердых тел

Авторы патента:

G01N23/20 - с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения

Изобретение относится к устройствам для определения параметров кристаллической решетки, используе мых при рентгеноструктурном анализе твердых тел в магнитном поле. Цель изобретения - повышение точности измерения параметров кристаллической решетки твердых тел за счет увеличения допустимых углов,дифракции при азимутальном вращении магнитного поля относительно горизонтальной оси, перпендикулярной отражающей поверхности образца. Устройство содержит С- образньш сердечник 1 с обмотками 2, подсоединенными к блоку питания, и держатель образца 3, помещаемый в отверстие, выполненное в центральной части сердечника. Поворот магнита относительно образца осуществляет.ся прижимной планкой 4 и посадочным кольцом 5 с отверстиями по периметру, закрепленным на гониометре рентгеновского дифрактометра. 1 ил. а О

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (5g q G 01 N 23/20

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4022787/31-25 (22) 17, 12. 85 (46) 15.10.88. Бюл. Ф 38 (71) Харьковский государственный университет им. А.M. Горького (72) В.В. Воробьев, М.Я.. Крупоткин и В.А. Финкель (53) 621.386(088.8) (56) Atoj i M. Multipurpose neutrondiffraction instrumentations.-Nuc1.

Instr. Methods. V. 35, 9 1, 1965, 13-33.

Jones Е. J., Tanner В.К. А double

axis Х-ray.diffractometer for magnetostriction measurements.-3. Phys.

Е: Sci. Instrument, 1980, V. 13, N - 11, 1183-1188. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ (57) Изобретение относится к устройствам для определения параметров кристаллической решетки, используе- . мых при рентгеноструктурном анализе твердых тел в магнитном поле. Цель изобретения вЂ” повышение точности измерения параметров кристаллической решетки твердых тел за счет увеличения допустимых углов.дифракции при азимутальном вращении магнитного поля относительно горизонтальной оси, перпендикулярной отражающей поверхности образца. Устройство содержит Собразный сердечник 1 с обмотками 2, подсоединенными к блоку питания, и держатель образца 3, помещаемый в отверстие, выполненное в центральной части сердечника. Поворот магнита относительно образца осуществляется прижимной планкой 4 и посадочным кольцом 5 с отверстиями по периметру, за-, / крепленным на гониометре рентгеновского диФрактометра. 1 ил.

l 430841

Параметры кристаллической решетки определялись с относительной точностью не хуже 2 10 А.

Формула из о бре тения

Составитель О. Алешко-,Ожевский

Редактор Н. Киштулинец Техред N.Äèäûê Корректор О. Кравцова

Заказ 5336!45 Тираж 847 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к физике твердого тела, в частности к устройствам для определения параметров кристаллической решетки, используемых 5 при рентгеноструктурном анализе твердых тел в магнитном поле. .Цель изобретения вЂ” увеличение точности определения параметров кристаллической решетки образца за счет уве- 10 лияения допустимых углов дифракции при вращении магнитного поля относительно горизонтальной оси, перпендикулярной отражающей поверхности образца.. 15

На чертеже изображена конструкция устройств а.

Устрой с тво содержит С-о бр аз ный сердечник 1 с обмотками 2, подсоединенными к блоку питания„20 образца 3, помещаемый в отверстие, выполненное в центральной части сердечника 1, прижимную планку 4, фиксирующую магнит относительно образца и жестко соединенную с сердечником 25

1, посадочное кольцо 5, закрепленное на гониометре дифрактометра.

Устройство работает следующим образом.

В центральное отверстие посадоч- 30 ного кольца 5 вставляется цанговый держатель с образцом 3, прикрепленным к держателю. Затем к посадочному кольцу с помощью винтов прикрепляется планка с магнитом. Положение магнита. относительно образца изменяется поворотом планки в определенное положе= ние.

С-образный сердечник выполнен из армкожелеза (с зазором между полюсами 7 мм). Симметричные обмотки выполнены из медной проволоки типа ПЭВТЛ0,3 мм.

Планка и посадочное кольцо выполнены из латуни. По периметру кольца о сделаны отверстия через каждые 15

Цанговый держатель также выполнен из латуни. Описанное выше приспособление помещалось на гониометр дифрактометра ДРОН вЂ” 2,0.

С помощью этого устройства проведено исследование монокристаллов D в магнитных полях с однородностью в рабочей зоне не хуже 10 Э.

Поле определялось с точностью до

5 Э и плавно варьировалось от 0 до 1 кЭ.

Устройство для определения, параметров кристаллической решетки твердых тел, включающее рентгеновский дифрактометр с электромагнитом С-образной формы, выполненного с возможностью поворота относительно образца, и держателем образца, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью увеличения точности определения пара" метров кристаллической решетки образца эа счет увеличения допустимых углов дифракции при вращении магнитного поля относительно горизонтальной оси, перпендикулярной отражающей поверхности образца, электромагнит укреплен на держателе с возможностью независимого от образца поворота вокруг, упомянутой горизонтальной оси и установлен так, что. его полюса не выходят за плоскость отражающей поверхности образца.

Похожие патенты:

Рентгеновский дифрактометр // 1427263

Изобретение относится к рентгеновской дифрактометрии

Способ определения вяжущих свойств материалов // 1420492

Изобретение относится к области средств контроля строительных ма:- териалов, в частности свойств высококальциевой золы, используемой в бетонах и растворах

Устройство для рентгенографического определения макронапряжений // 1420491

Изобретение относится к области научного приборостроения и может использоваться для неразрушакщего троля макронапряжений в узлах и деталях машин и механизмов

Способ определения тонких структурных изменений в растянутых полимерах // 1413493

Изобретение относится к рентгенографическим способам исследования полимерных веществ

Способ определения мозаичности монокристаллов // 1413492

Изобретение относится к физике твердого тела и кристаллооптике, а именно к способам определения мозаичности монокристаллов

Способ контроля качества покрытия на длинномерных изделиях // 1409904

Изобретение относится к области

Высоковакуумный монохроматор для синхротронного излучения в ультрамягкой рентгеновской области спектра // 1402875

Изобретение относится к технике точного спектрального приборостроения

Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра // 1402874

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может быть использования для исследования структуры биологических объектов с ff 11 большими периодами идентичности, в том числе монокристаллов

Способ исследования структурного совершенства монокристаллов // 1402873

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может использоваться при исследовании .-

Рентгеновская камера для съемки крупнозернистых материалов // 1402872

Изобретение относится к технике рентгенострзпстурного анализа, а именно к устройствам для анализа крупнозернистых материалов, и может быть использовано при прецизионном определении параметров решетки металлов и сплавов, размер резен которых близок или превьшает диаметр рентгеновского пучка

Держатель образцов для рентгенофазового анализа // 2100798

Устройство для измерения плотности // 2102717

Рентгеновский рефлектометр // 2104481

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Способ неразрушающего контроля геометрии теневой гидридлитиевой радиационной защиты // 2113737

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Способ юстировки дифрактометра // 2114420

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"

Способ анализа липопротеинов в плазме или сыворотке крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния // 2115121

Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека

Устройство для определения состава и структуры неоднородного объекта (варианты) // 2119660

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих

Детектор рентгеновского излучения // 2120620

Способ текстурного анализа металлов и сплавов // 2122200

Блок детектирования многоканального дефектоскопа // 2122201

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов