Способ контроля качества покрытия на длинномерных изделиях

 

Изобретение относится к области . физического материаловедения, в частности к средствам контроля качества длинномерных изделий, например проволоки и ленты. Цель изобретения - повышение производительности непрерывного контроля в ходе технологического процесса. Сущность спойоба состоит в том, что известный способ рентгенографического контроля структурного состояния материала через размеры блоков и микроискажения дополнен измерением разности термоЭДС изделия в ходе технологического процесса и зтанола. Для осуществления способа вначале устанавливают на серии зталонов из изделий, удовлетворяющих требованиям качества, дзаимосвязь термоЭДС с размерами блоков и микроискажениями в материале. Затем, используя наиболее представительный зталон, находят разность термоЭДС зтого эталона и контрольного образца, взятого из изделия до иачала его технологнческой обработки. Последующий контроль за техпроцессом и его корректировку осуществляют по изменению разноститермоЭДС контрольного образца и изделия с учетом ранее найденной зависимости между термоЭДС и размером блоков и микроискажениями. В качестве примера осуществления способа производили контроль за термической обработкой никелированной мерной проволоки. I нл., 1 табл. с & (Л р со

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

РЕСПУБЛИК

Ф

O9} П1}

А1 (gI} 4 G.01 Н 23/20

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ASTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (2l) 4162651/31-25 (22), 16. 12;86 (46) 15.07.88. Бюл. 1 26 (7l) Запорожский индустриальный институт и Особое конструкторское бюро кабельной промьипленности (72) В.И.Бабенко, В.И. Мищенко, С.В. Плотников, В.П. Бракевский и Е.E. Вкова э (53) .621.386(088.8). (56) Авторское свидетельство СССР

В 647521, кл. С 01.В 15/00, 1975.

Авторское свидетельство СССР

В 859810, кл . С Ol В 15/00, 1979. Миркин Л.И. Рентгеноструктурный анализ. Справочное руководство. М.:

Наука, 1976, с. 715., (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ. КАЧЕСТВА ПОКРЫ-.

ТИЯ НА ДЛИННОМЕРНЫХ ИЗДЕЛИЯХ (57) Изобретение относится к области .

Физического материаловедения, в частности к средствам контроля качества длииномерных изделий, например проволоки и ленты. Цель изобретения - повыщение производительности непрерывного контроля в ходе технологического процесса. Сущность спобоба состоит в том, что известный способ рентгенографического контроля структурного состояния материала через размеры блоков и микроиска кения дополнен измерением разности термоЭДС изделия s ходе технологического процесса и этанола. Для осуществления способа вначале устанавливают на серии эталонов из изделий, удовлетворяющих требованиям качества, взаимосвязь термоЭДС с размерами блоков и микроискакенияMH в материале. Затем, используя наиболее представительный эталон, находят разность термоЭДС этого эталона и контрольного образца, взятого из иэделия до начала его технологической обработки. Последующий контроль за техпроцессом и его корректировку осуществляют по изменению разности термоЭДС контрольного образца и изделия с учетом ранее найденной зависимости между термоЭДС и размером блоков и микроискакениями. В качестве примера осуществления способа производили контроль за термической обработкой никелированной мерной проволоки. нл., 1 табл.!

409904

Изобретение относится к фиэическо-! ! му материаловедению, в частности, ;к средствам контроля качества длинно мерных изделий, например, проволоки и ленты.

Цель изобретения — повышение про( изводительности непрерывного контроля ( в ходе технологического процесса.

На чертеже представлено изменение 10 термоЭДС в зависимости от размера блоков в материале покрытия.

Способ осуществляется следующим обраэщч.

Иэ изделий, удовлетворяющих требованиям качества, изготавливают серию эталонов, которые подвергают рентгенографированию на предмет определения размеров блоков и микроискажений. Затем на этих же эталонах измеряют термоЭДС, устанавливая ее взаимосвязь с размером блоков и микроискажений в материале покрытия (см. чертеж) из иэделия до его использования в технологическом процессе изготавливают контрольный образец и измеряют разность термоЭДС его покрытия и покрытия одного из эталонных образцов. После этого производят непрерывное измерение разности термоЭДС 30 между покрытием иэделия в ходе технологического процесса и покрытием кон-" трольного образца и/или эталона. Ус-! тановленные взаимосвязи размеров бло ков и микроискажений на эталонных об- 35 ! раэцах с термоЭДС позволяет контроли ровать динамику изменения этих пара метров, определяющих качество покрытия в допустимых пределах.

Измерение разности термоЭДС этало- 40 на и контрольного образца устанавливает начальное состояние покрытия изделия, а последующее изменение разности термоЭДС покрытия изделия и контрольного образца показывает ход 45 технологического процесса и необходимость его корректировки.

Пример осуществления способа.

Предлагаемый способ контроля качества покрытия реализуется при конт- 50 роле медной никелированной проволоки ,диаметром 0,26 мм. Никелевое покрытие толщиной 6 мкм наносят в сульфатном электролите Уоттса по промышленной технологии. Образцы проволоки длиной 55

10 м отжигают в вакууме 10 Па при

-z перемещении их через печь с темперао турой от 473 до 773 К. Время отжига—

10 с. Съемку рентгеновских дифракционных линий проводят на дифрактометре тина ДРОП-lYM в излучении медного анода. Размер блоков и микронапряжений определяют ио методу Уоррена-Авербаха, анализируя распределение интенсивностей в интерференцианных линиях (111) (222) никеля. В качестве эталона .применяют отожженый никель с беспорядочной ориентировкой кристаллов без эффекта экстинкции.

Установлено, что микронапряжения в никелевом покрытии снимаются в процессе отжига при температуре 473 К и выше; Разупрочнение никеля при температурах выше 473 К проходит за счет роста блоков. Затем измеряют разность термоЭДС между образцом после отжига и образцом без отжига. Измерения разности термоЭДС проводят с целью выделения составляющей термоЭДС, зависящей только от структуры материала.

Температура отжига проволоки, размер блоков в покрытии и соответствующие структуре никелевого покрытия значения разности термоЭДС, приведены в таблице, а зависимость разности термоЭДС от размера блоков в никеле после отжига — на чертеже. Из таблицы и чертежа видно, что разность термоЭДС растет линейно с ростом блоков в никелевом покрытии.

Температура отжига, К

Размер блоков

10, см б

Разность термоЭДС, мВ

293

3,5

473

5,5

2,0

573

3,6

7,3

623

5,6

9,1

673

6,5

l0;0

723

7,6

10,8

773

10,0!

3,0

Для контроля качества покрытия на медной никелированной проволоке изме-, ряют разность ее термоЭДС с эталоном или контрольным образцом и сравнива ют ее со значениями разности термоЭДС, полученными на эталонных образцах.

1409904

Х 7 Я

РОзкеР блока8, 70 м

Составитель Е. Сидохин

Редактор И. Касарда Техред Л.Олийнык Корректор М. Пожо

Заказ 3470/39 Тираж 847 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Ф о р м у л а и з о б р е т е и и я

Способ контроля качества покрытия на длинномерных изделиях, включающий изготовление эталонных образцов из материала изделия, удовлетворяющего требованиям качества, облучение их рентгеновским излучением, регистрацию дифракционной картины и определение размеров блоков и микроискажений í 10 материале покрытия, о т л и ч а ю— шийся тем, что, с целью повышения производительности непрерывного контроля в ходе технологического процесса, дополнительно на эталонных об-15 разцах измеряют термоЭДС, устанавливают зависимость термоЭДС от размера блоков и величины микроискажений, найденных рентгенографически, измеря-, ют разность термоЭДС между эталонным образцом, удовлетворяющим требованиям качества по размерам блоков и микроискажений, и контрольным образцом из изделия, не подвергавшегося технологической обработке, затем измеряют разность термоЭДС иэделия в ходе тех- . нологического процесса и контрольного образца, устанавливая качество обработки по соответствию измеренного значения термоЭДС и найденного для пары контрольный образец — эталон.

Способ контроля качества покрытия на длинномерных изделиях Способ контроля качества покрытия на длинномерных изделиях Способ контроля качества покрытия на длинномерных изделиях 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике точного спектрального приборостроения

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может быть использования для исследования структуры биологических объектов с ff 11 большими периодами идентичности, в том числе монокристаллов

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может использоваться при исследовании .-

Изобретение относится к технике рентгенострзпстурного анализа, а именно к устройствам для анализа крупнозернистых материалов, и может быть использовано при прецизионном определении параметров решетки металлов и сплавов, размер резен которых близок или превьшает диаметр рентгеновского пучка

Изобретение относится к области физического материаловедения и может использоваться при определении механических характеристик сталей в лабораторных и заводских усл овиях в различных отраслях промьштенности

Изобретение относится к аппаратуре для неразрушающего анализа тонких приповерхностных слоев монокристалла

Гониометр // 1396022
Изобретение относится к области научного приборостроения, конкретнее к средствам рентгенографического контроля материалов

Изобретение относится к рентгеновским резонаторам-монохроматорам для получения монохроматизированных и коллимированньгх пучков рентгеновского излучения и может применяться в DeнтгeнocпeктpaльнoмJ рентгеноструктурном анализах и в оптике рентгеновских лучей

Изобретение относится к способам рентгеноструктурного анализа материа лов и может быть использовано при исследовании текстурированных материалов , особенно образцов с неравномерной структурой поверхности

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"

Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов
Наверх