Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра

 

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может быть использования для исследования структуры биологических объектов с ff 11 большими периодами идентичности, в том числе монокристаллов. Цель изобретения состоит в обеспечении согласования стационарных источников рентгеновского излучения с устройствами для регистрации дифракционной картины и управления фокусировкой рентгеновского излучения. Рентгеновский дифрактометр содержит источник 11 рентгеновского излучения, устройство 12 для регистрации дифракционной картины и устройство для монохроматизации и фокусировки рентгеновского излучения, которое включает основание 1, в вертикальных полках которого смонтированы цапфы и подшипники , в которых установлена с возможностью поворота платформа, несущая корпуса монохроматоров со средствами юстировки, при этом ось поворота платформы в подшипниках совпадает с направлением первичного пучка рентгеновского излучения. На платформе смонтирована промежуточная плита, несущая держатель второго монохроматора и средства его поворота. 3 ип. Q S (/) 4 1 (ригЗ

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (51) 4 G 01 N 23/20

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АBTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ! (21) 4130506/31-25 (22) 07. 07 .86 (46) 15. 06. 88. Бюл. N"- 22 (71) Институт кристаллографии им. А.В.Шубнйкова и Специальное конструкторское бюро рентгеновского и кристаллооптического приборостроения с экспериментальным производством

Института кристаллографии им. А.В.Шубников а (72) А.Н.Корнев, Ю.В.Голуб и А.М.Михайлов (53) 621. 386 (088. 8) (56) Патент США У 2688094, кл. 250-51.5, 1954.

Биркс Л.С. Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда.

М.: Металлургия, 1966, с.71.

Авторское свидетельство СССР

Р 1213508, кл. Н 01 3 37/00,1984. (54) СИСТЕМА МОНОХРОМАТИЗАЦИИ РЕНТГЕНОВСКОГО ДИФРАКТОМЕТРА (») Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может быть использования для исследования структуры биологических объектов с

BU 1402 А1 большими периодами идентичности, в том числе монокристаллов. Цель изобретения состоит в обеспечении согласования стационарных источников рентгеновского излучения с устройствами для регистрации дифракционной картины и управления фокусировкой рентгеновского излучения. Рентгенов- . ский дифрактометр содержит источник

11 рентгеновского излучения, устройство 12 для регистрации дифракционной картины и устройство для монохроматизации и фокусировки рентгенов ско го излучения, которое включает основание 1, в вертикальных полках которого смонтированы цапфы и подшипники, в которых установлена с возможностью поворота платформа, несущая корпуса монохроматоров со средствами юстировки, при этом ось поворота платформы в подшипниках совпадает с направлением первичного пучка рентгеновского излучения. На платформе смонтирована промежуточная плита, несущая держатель второго монохроматора и средства его поворота. 3 ил.

1 1402874 !

Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу и может быть ч использовано для исследования струк- р туры биологических объектов с боль- 5 р

Шими периодами идентичности, в том с числе монокристаллов. в

Цель изобретения — обеспечение т согласования стационарных источников р рентгеновского излучения с устрой- 10 т ствами для регистрации дифракционной о картины и управления фокусировкой ф

В, рентгенов ского излучения. м

На фиг. 1 изображена система моно:хроматиз ации рентгеновского дифракто- 15 в

:метра, общий вид; на фиг. 2 — то же, вид сверху; на фиг. 3 — рентгеновский дифрактометр с фокусирующей систе- Б мой, аксонометрия, 50

Система монохроматизации рентге,новского дифрактометра содержит корпус 1 с цапфами 2, оси которых совпадают с осью первичного пучка рент:геновского излучения, платформу 3, 25 имеющую подшипники 4 и установленную в корпусе с возможностью поворота вокруг осей цапф 2, блок 5 первого фокусирукнцего кристалла-монохроматора с держателем б, установленным на 30 платформе 3 с возможностью поворота вокруг оси, перпендикулярной плоскости плат4юрмы 3, промежуточную плиту 7, установленную на плат4юрме

3 с возможностью поворота вокруг оси, перпендикулярной плоскости платформы 3, блок 8 .второго фокусирующего кристалла-монохроматора, установленный с возможностью поворота вокруг оси, параллельной плоскости платфор- 40 мы 3 в кронштейне 9, который установлен на промежуточной плите 7 с возможностью поступательного перемещения по промежуточной плите 7, в на-, правлении блока 5 первого фокусирую- 45 щего кристалла-монохроматора, а также средства 10 юстировки платформы

3, установленные на корпусе 1.

Рентгеновский дифрактометр, включающий предлагаемую 4юкусирующую систему, содержит источник 1 t рентгеновского излучения и устройство

12 для регистрации дифракционной картины, в котором расположены исследуемый объект 13 и приемник 14.

Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра работает следующим образом.

Источник 11 рентгеновского излуення генерирует первичный пучок ентгеновского излучения, ось котоогo лежит в горизонтальной плоскоти. Первичный пучок падает на перый фокусирующий кристалл-монохромаор блока 5. Блок 5 первого фокусиующего кристалла-монохроматора пуем поворота его держателя 6 вокруг си, перпендикулярной плоскости платормы 3, устанавливается так, что ежду осью первичного пучка рентгеовского излучения и касательной, проеденной к центру первого фокусируюего кристалла-монохроматора блока 5, бразуется угол 6, где  — угол рэгга. При отражении первичного пучка от цилиндрической поверхности первого кристалла-монохроматора блока 5 происходит его монохроматизация и фокусировка в плоскости, перпендикулярной его образующей. При этом угол между осями первичного и отраженного пучков составляет 26 . При повороте первого фокусирующего кристалла-монохроматора блока 5 вокруг оси первичного пучка ось отраженного пучка будет описывать в пространстве конус с углом 4 8 при вершине (в соответствии с законом отражения).

Платформа 3 путем поворота вокруг осей цапф 2 корпуса 1, совпадающих с осью первичного пучка, при помощи средств 10 юстировки, устанавливается так, что угол между осью отраженного от первого фокусирующего кристалла-монохроматора блока 5 пучка рентгеновского излучения и горизонтальной плоскостью составляет 2 .

В этом случае после отражения от второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8 ось пучка рентгеновского излучения будет лежать в горизонтальной плоскости.

Промежуточная плита 7, на которой расположен кронштейн 9, в котором установлен блок 8 второго фокусирующего кристалла-монохроматора путем поворота вокруг оси, перпендикулярной плоскости платформы 3, устанавливается так, что пучок рентгеновского излучения, отраженный от первого фокусирующего кристалла-монохроматора блока 5 попадает в центр второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8, затем путем поворота в кронштейне 9 вокруг оси, параллель1 402874

Фо рмула из обре те ния t0 н 15

25

35 ной плоскости платформы 3, блок 8 второго фокусирующего кристалла-монохроматора устанавливается так, что угол между осью пучка рентгеновского излучения, попадающего на второйфокусирующий кристалл-монохроматор блока 8 и касательной, проведенной к его центру, составляет 28 . При отражении пучка рентгеновского излучения от второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8 происходит его вторичная монохроматизация и фокусировка в плоскости, перпендикулярной его образующей. Сформирова ный пучок попадает на исследуемый объект 13, установленный в устройст ве 12 для регистрации дифракционной картины. Таким образом осуществляется согласование стационарных источников 11 рентгеновского излучения с устройствами 12 для регистрации дифракционной картины. Для обеспечения фокусировки пучка рентгеновского излучения в плоскость приемника

14 блок 8 второго фокусирующего кристалла-монохроматора с кронштейном 9 перемещается по промежуточной плите

7 по направлению к блоку 5 первого фокусирующего кристалла-монохроматора и устанавливается так, что изображение фокального пятна источника

11 рентгеновского излучения попадает в центр приемника 14. Таким образом осуществляется управление фокусировкой рентгеновского излучения.

Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра, включающая корпус, платформу, установленную с возможностью поворота вокруг оси первичного пучка рентгеновского излучения с помощью средств юстировки, и блок первого кристалла-монохроматора, о тл и ч а ю щ а я с я тем, что, с целью обеспечения согласования стационарных источников рентгеновского излучения с устройствами для регистрации дифракционной картины, и управления фокусировкой рентгеновского излучения, она снабжена плитой, установленной на платформе с возможностью поворота вокруг оси блока первого кристалла-монохроматора, поворотным кронштейном и блоком второго кристалла-монохроматора, установленным на кронштейне с возможностью поворота вокруг оси, параллельной плоскости платформы, и с возможностью поступательного перемещения вдоль плиты по направлению к блоку первого кристалла-монохроматора, при этом кристалл-монохроматоры выполне-"ны фокусирующими, а блок первого кристалла-монохроматора снабжен держателем, установленным на платформе с возможностью поворота вокруг оси, перпендикулярной оси рентгейовского пучка.

1402874

Составитель Е.Сидохин

Техред Л.Сердюкова Корректор Л.Пилипенко

Редактор А,Ревин

Заказ 2848/31 Тираж 847 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может использоваться при исследовании .-

Изобретение относится к технике рентгенострзпстурного анализа, а именно к устройствам для анализа крупнозернистых материалов, и может быть использовано при прецизионном определении параметров решетки металлов и сплавов, размер резен которых близок или превьшает диаметр рентгеновского пучка

Изобретение относится к области физического материаловедения и может использоваться при определении механических характеристик сталей в лабораторных и заводских усл овиях в различных отраслях промьштенности

Изобретение относится к аппаратуре для неразрушающего анализа тонких приповерхностных слоев монокристалла

Гониометр // 1396022
Изобретение относится к области научного приборостроения, конкретнее к средствам рентгенографического контроля материалов

Изобретение относится к рентгеновским резонаторам-монохроматорам для получения монохроматизированных и коллимированньгх пучков рентгеновского излучения и может применяться в DeнтгeнocпeктpaльнoмJ рентгеноструктурном анализах и в оптике рентгеновских лучей

Изобретение относится к способам рентгеноструктурного анализа материа лов и может быть использовано при исследовании текстурированных материалов , особенно образцов с неравномерной структурой поверхности

Изобретение относится к аналитической химии и может использоваться при количественном фазовом анализе поликристаллических материалов

Изобретение относится к области электронной техники, преимущественно к электронно-зондовому анализу материалов , и может быть использовано при контроле структуры монокристаллических веществ

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"

Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов
Наверх