Устройство для испытания приемно-усилительных ламп

Класс 2j а4, 71

Ж 136796

К АБТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная группа V- (? (!

П. Н. Разумнов

УСТРОЙСТВО Д,) 1Я НСПЫТАНИЯ ПРИЕЛ1НО-УСЙ,)1ИТЕ.))!:)НЫХ

ЛАМП

Заявлено l5 июня l060 и. ва,?."а 6?6))44, 6 в Комитет (1(!, (лам:..)о(а)1е)(иии и открытий f)pH Сов(T(. Министров (..(.(.;

Опубликовано в <(Бюлле.еен(ивобретеиий» No 6 ва )06!

Известны устройства для ист)ытания приемно-усилительных 13мп, содержащие световые индикаторы для обнаружения неисправностей.

Описываемое устройство отличается 0Т известных тем, !To в качестве световых индикаторов ис))ол!.э ются лампы с холодным катодом, а компенсацию поджига ламп осущсствля)от током исп))т смой элекгронной лампы. Подобное отличие упрощает процссс отбраковки ириел)ноусилнтсльных ламп при их испытании.

Принципиальна?! схема уcTpOI!cTBI! для испытания приемно-усилительных ламп приведена на чертеже.

Питание анодов индикаторн)!х лямГ! с хол01ным K;!ò010«l ITI!j):! ) РОнов) 1 — 2 осуществляется от ссТН нсрсмснно"0 тока, но )):лючаемой к зажимам 8 через трансформ3òîð и выпрямители 6). Н3 электро ы 6—

14 испытуемой электронной лампы полл!OT переменное напряжение с 1åлителя, питаемого гцссти фа)зным трансформ )тО!)Ом. I(OToj? hi(с раза!ен!сн) в блоке 1). Лампы 1 с холоднь))! «атодом использу)от прн не!)ытянин короткого зямь)кания электродов. а лампы 2 — при I!cni!T;!I обрывов электродов. Если в цепи электродов отс )тств? ет короткое замык))нис.

7 o Tol(через электродь! испыт :еыой,13 мпы течет ТО. )ько в нол(?жите. )ьныс по,)упсриоды переменного няпря?(CHIIH.

В цепь электродов пос,)едовятельно включены:! (Дь! 16. Поз)о,!. !. тельные полупериоды токи, протекая по диодам, н(вызывают н;! )шх падения напря?кения. Если в цепи электродов есть короткое:ямык: ни(, то ток по диоду потечет кяк в по1ожите))ьны)), тяк и в отрнцатсльнь;й полупериоды переменного напряжения, пита)ощего электроды испытуемой лампы. Отрицательные полупериоды вызывают ня1CHI!c напряжения на диОдах 16, ИОтОрОе на,1еж НО по 1жига(T Tilj? 3 ТроН 1. Порог но,?KH—

« lHHI! THp3TpOH3 pQI ? IHp)1CTCH lIepeil1CHHbIM COI!pOTHB,1CHI O?i 17.

Наличие обрыва в электродах испытуемой лампы фиксируют с помощью ламп 2 с холодным катодом. Н?! аноды и поджигающие электро;"г лиi.ãuI Н. С. Кутафина

Тсхрел A. Л. Сосина Корректор И. П. Ьронштейн пг . 8.13 -01 г

",к 8Л)0

Объем 0,34 усл. и, л.

11епа 5 коп.

Формат áóм. 70У108 />6

Тирак 750

1(БТИ прп Комитете по делам изобретсний и открьпий при Совете Ми, петров СССР

Москва, Центр, М. Черкасский пер.. и. 2/б

1 ипографии ЦЪТИ Коми ета uu Je idiil иаоорстений и OTKphITH II ппи Совет Министров CCCI . Москва. I IQiI окка 14