Устройство для измерения статических параметров электронных ламп

,ею 128901

Класс 2lg 13вю

2) а4, 73 ссср

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписные гропии ЛРЛа 97; 89

И. С. Бакалейник

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СТАТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

ЭЛЕКТРОННЫХ ЛАМП

Заявлено 28 августа 1958 г. за М 606805/26 в Комитет но делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» М 11 за 1960 г.

Известны устройства для измерения статических параметров эл KTронных ламп методом переменных приращений с использованием электронного стабилизатора. Основной недостаток известных устройств состоит в том, что они не обладают достаточной точностью измерегп1й, не имеют непосредственного отсчета показаний и не позволяют непосредсгВс Hío измерять крутизну характеристики лампы.

В описываемом устройстве эти недостатки устранены тем, что испытуемая лампа при измерениях внутреннего сопротивления (.9; ) и коэффициента усиления (и ) включается последовательно с электронным стабилизатором, и тем, что при измерении крутизны характеристики IBMпы (S) сопротивление нагрузки испытуемой лампы включено в анодную цепь регулирующей лампы электронного стабилизатора, а испытуемая лампа включена параллельно выходу электронного стабилизатора.

На фиг. 1 показана скелетная схема устройства при измерении коэффициента усиления (о. ).

Анодный ток испытуемой лампы 1 стабилизируется стабилизатором тока 2. На сетку лампы 1 подается переменное напряжение с генератора

8. Изменение потенциала сетки равносильно измсненгпо статического сопротивления лампы 1, !Io так как ток поддерживается постоянным, то изменяется падение напря>кения на участке анод — катод испытуемон лампы 1. С анода лампы 1 снимается напряжение, пропорциональное коэффициенту усиления, . Показания фиксируются прибором 4. Шкала— прямоотсечная и линейная.

На фиг. 2 показана скелетная схема устройства при измерении внутреннего сопротивления R;.

На сетке лампы 1 поддерживается постоянное напряжение. На ано1 лампы 1 подаются стабилизированные по амплитуде переменные прира щения анодного тока (1, ) от генератора и стабилизатора переменног» № 128901 тока,Ц и ееВ@ДефМ сопротивление R, будет при этом пропорционально изменению анодного напряжения (Ь, ). т% ф (, pI == М U„; I I!+г — коэффициент пропорциональности, равный

„ф ф 9 У".

Отсчет вн треннего сопротивления осуществляется непосредственно

IIo прибору 8. Для измерения ламп с различным анодным током в устрой стве возможна калибровка (HP показано на схемс), прн которой измс рястся известное эталонное сопротивление, включаемое вместо испытус мой лампы.

На фиг. 3 показана скелетная схема устройства при измерении кр, тнзны характеристики лампы.

Крутизна характеристики (S) определяется отношением приращений анодного тока (Л1, ) и напряжения на сетке лампы (Лсу,„) при постоянном анодном напряжении.

1ЕРН U„-- const. кРjTHÇHB «BPBI TOPHcTHI II НРОИОРцсеонал»на Лl,.

В описываемом устройстве измеряется переменное напряжение которое выделяет переменный ток на сопротивлении нагрузки испытуемой лампы.

U„U, Ua =I .R; Ia = — ":; 5 — при К=-const и "„=const крутизна пропорциональна U . Аноднос ИBпряжение испытуемой лампы 1 стаоилизируется стабилизатором 2. На сетку лампы подается напряжение с генератора 8. Изменение потенциала сетки равносильно изменению статического сопротивления лампы 1, но таl(Iсак напряжснис у !аст!са ано I — катод noc oHHIIO, а сопротивление на этом участке меняется, то меняется ток. Этн измене: ия гока создают на сопротивлении 4 переменное напряжс.нис, которос измеряется г!рибс>,10

5, отградуированным в значениях крутизны.

Ге р е U, vl с т и 3 О 0 р с т с и и я

l. Устройство,!Ля намерения ста-Еичсскн«!,BpBìcòðoâ электронных ламп методом переменны«прираЕцсний с использовани M электронного стабилизатора, отл и ч а ю Lil,се с я тсм, что, с целью повыш!гния точности измерений и получсния непосредственного отсчета показаний, в нем испытуемая лампа, при измерения., внутреннего сопротивления (1с ;! и коэс11фициснта Е с !Елс .ния (p ), вклеочсна последоватс :IHHo с электронпыь! стабилизатором.

2. Устройство по п. 1, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью непосредственного измерения крутизны характеристики лампы (S), в нем сопротивление нагрузки испытуемой лампы включено в анодную цепь рсгулиру Еощсй Ламп!.! электронного CT301!;IH33TopB а Hc!I !Tóåì3 я . TBXIIIB BK !k!чена параллельно выходу электронного стабилизатора