Патенты автора Смирнов Александр Николаевич (RU)

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, конкретно к программно-диагностическим комплексам позволяющим производить разработку контрольных (диагностических) тестов, диагностировать радиоэлектронные изделия (РЭИ) на основе разработанных тестов и обнаруживать места локализации неисправностей в дефектных РЭИ.

Стакан // 53870
Наверх