Устройство для получения следовэлементарных отображений отражателейи определения яркости источниковсвета

 

О П И С А Н И Е (и) SllOSI

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Се;оз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 16.05.73 (21) 1918312/18-25 (51) М. Кл.з

G 01J 1/04 с присоединением заявки Ме

Государственный комитет (23) Приоритет (43) Опубликовано 07.03.81. Бюллетень _#_0 9 (53) УДК 535.241.44 (088.8) по делам изобретений и открытий (45) Дата опубликования описания 07.03.81 (72) Автор изобретения и (71) заявитель

М. И. Орлов (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ СЛЕДОВ

ЭЛЕМЕНТАРНЫХ ОТОБРАЖЕНИЙ ОТРАЖАТЕЛЕЙ

И ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЯРКОСТИ ИСТОЧНИКОВ СВЕТА

Изобретение относится к светотехнике, а именно к устройствам для получения данных для проектирования и расчета прожекторов и светильников с зеркальными отражателями, а также для определения яркостных характеристик источников света.

Известно устройство для определения яркости источников света, содержащее линзу и фотоприемник (1).

Для получения яркостных характеристик в известном устройстве нужно вращать источники света, однако ряд ламп меняет свои световые характеристики при изменении их положения в вертикальной плоскости, что не позволяет получать яркостные характеристики неподвижных источников света под любым углом.

Цель изобретения — возможность получения следов элементарных отображений от любой точки отражателя.

Поставленная цель достигается тем, что устройство, содержащее линзу и фотоприемник, снабжено поворотным зеркалом, закрепленным вместе с линзой на двухстепенном подвесе, оси вращения которого проходят через центр источника света.

На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства, а на фиг. 2 — конструкция подвеса.

Источник света l расположен так, что центр его лежит на пересечении осей АА и ББ.

Линза 2 с поворотным зеркалом 3 за5 креплены на подвесе с возможностью вращения вокруг осей АА и ББ. Зеркало 3, кроме того, может поворачиваться вокруг оси ВВ, перпендикулярной к прямой, проходящей через центры линзы 2, зеркала 3

10 и источника света 1.

Линза установлена так, чтобы на экране

4, расположенном от источника света 1 на расстоянии 10 — 20 м, получилось резкое изображение источника света после отра15 жения светового потока от зеркала 3. 1!оворот зеркала 3 вместе с линзой 2 вокруг оси АА осуществляется приводом 5 со шкалой для отсчета углов поворота ср вокруг оси В» приводом 6 со шкалой для отсчета

20 углов поворота ф.

Поворот зеркала 3 вокруг оси СС осуществляется приводом 7 со шкалой для отсчета углов Q.

Для определения освещенности в любой точке следа элементарных отображений служит фотоэлемент 8, закрепленный подвижно на линейке с делениями 9, а линейка с фотоэлементом может поворачиваться вокруг оси ГГ. Углы поворота линейки от3р считываются по шкале 10. Ось поворота ли811081 нейки по высоте регулируется путем выдвижения штанги 11 со стойки 12. Таким образом, фотоэлемент мокнет 6blTb установлен в любой точке в плоскости экрана.

Устройство работает следующим образом.

След элементарных отображений от какой-либо точки отражателя, расположенной под углом охвата ср н в меридиональной плоскости — под углом ф, соответствующий, изображению источника света, видимого из этой точки, можно получить, установив соответствующие углы ср и ф по шкалам с помощью приводов, а зеркало повернуть на угол Q/2 так, чтобы отраженный центральный луч шел под углом к оси АА, соответствующим углу отклонения от оптической оси центрального луча, отраженного от рассматриваемой точки отражателя.

Изображение источника света на экране получается увеличенным. о

Коэффициент увеличения К вЂ”, где 4—

Г расстояние от центра источника света до экрана, r — расстояние от центра источника света до линзы.

Это изображение соответствует размеру элементарного отображения, которое получится на экране, расположенном от источ«Р ника света на расстоянии l = 1, где р— о >. расстояние от центра источника света до рассматриваемой точки отражателя.

Изобретение позволяет получать следы элементарных отображений от любой точки отражателя.

Определение зональных кривых светораспределения может быть осуществлено с помощью устройства путем расположения следа элементарных отображений зеркалом

5 так, чтобы след центрального луча на экране находился на необходимом расстоянии от оси ББ. Устройство дает возможность также учесть аберрации при расчете кривой светораспределения. Яркость же любой точ10 ки источника света можно определить без перемещения источника света — по освещенности места на следе элементарных отображений, соответствующем положению рассматриваемой точки источника света по

15 известным уравнениям.

Формула изобретения

Устройство для получения следов элемен20 тарных отображений отражателей и определения яркости источников света, содержащее линзу и фотоприемник, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью возможности получения следов элементарных отображений

25 от любой точки отражателя, устройство снабжено поворотным зеркалом, закрепленным вместе с линзой на двухстепенном подвесе, оси вращения которого проходят через центр источника света.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Бенефорд Ф. Теория прожекторов, Изд.

З5 НКТП СССР, М.-Л., 1935, с. 113 (прототип) .

811081

Фиг, Составитель Ю. Гринева

Техред И. Заболотнова Корректор Н. Федорова

Редактор Б. Федотов

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 372/15 Изд. № 211 Тираж 915 Подписное

НПО «Поиск» Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, K-35, Раушская наб., д. 4/5

Устройство для получения следовэлементарных отображений отражателейи определения яркости источниковсвета Устройство для получения следовэлементарных отображений отражателейи определения яркости источниковсвета Устройство для получения следовэлементарных отображений отражателейи определения яркости источниковсвета 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх