Двухлучевой микроскоп-спектрофотометр

 

1i Ц ВИОЗО

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 15.05.72 (21) 1784992/18-25 (51) М. Кл.

С 01J 1/04 с присоединением заявки № 2346715/18-25

Государственный комитет (23) Приор итет (43) Опубликовано 07.03.81. Бюллетень № 9 (45) Дата опубликования описания 07.03.81 (53) УДК 535.243 (088.8) по делам изобретений и открытий (72) Авторы изобретения А. А. Кулаков, В. Б. Назаров, В. Е. Клейнбок и Л Н. Вяльсов (71) Заявитель (54) ДВУХЛУЧЕВОИ МИКРОСКОП-СПЕКТРОФОТОМЕТР

Изобретение относится к микрофотометрии, может быть использовано в области рудной микроскопии, нефтяной геологии и т. д.

Известны фотоэлектрические устройства 5 .(1) для сравнения двух модулированных потоков, прошедших сквозь исследуемую среду. Принцип их работы основан на одновременном воздействии модулированных световых потоков, прошедших исследуемую 10 среду и среду сравнения, на два фотоэлемента. Устройство предназначено для измерения коэффициента поглощения света водой и не может быть использовано для измерения отражения. 15

Известен двухлучевой микроскоп-спектрофотометр, содержащий объектив сравнительной ветви с объективом сравнения, расположенный под 90 к объективу микроскопа, светоделительную пластинку и шторку 20 для переключения световых потоков, падающих на объектив микроскопа или объектив ветви сравнения (2).

Однако с помощью указанной шторки нельзя измерять пропускание. 25

Целью изобретения является обеспечение измерений в режиме пропускания.

Указанная цель достигается тем, что в известном двухлучевом микроскопе-спектрофотометре средство переключения све- 30 товых потоков выполнено в виде поворотного полого цилиндра, установленного на одной оси со светоделительной пластинкой и содержащего три окна, расположенные под 90 друг к другу.

На фиг. 1 и 2 показаны два крайних положения модулятора при измерении пропускания.

В положении, изображенном на фиг. 1, свет от лампы осветителя 1 проходит светоделительную пластинку 2, через объектив

3 ветви сравнения падает на объект сравнения 4, отражается от поверхности объекта сравнения, от светоделительной пластинки и направляется в спектрофотометрическую насадку и далее на ФЭУ. В положении на фиг. 2 свет, прошедший конденсор

5, измеряемый объект б, через объектив микроскопа 7 и светоделительную пластинку 2 попадает в спектрофотометрическую насадку и далее на ФЭУ. В процессе модуляции модулятор последовательно переходит из одного положения в другое и обратно с частотой 25 — 30 Гц.

Таким образом, предлагаемая конструкция микроскопа-спектрофотометра позволяет значительно упростить конструкцию двухлучевых микроскопов-спектрофотометров, использовать максимально при конструировании двухлучевых приборов промыш811080

Формула изобретения

Й г. !

Составитель Ю. Гринева

Редактор B. Федотов Техред И. Заболотнова Корректор Н. Федорова

Заказ 924 2 Изд. ¹ 2!1 Тираж 915 Подписное

НПО «Поиск» Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 ленные типы микроскопов и спектрофо,ометрических насадок, легко переходит: от измерения отражения к измерению пропускания.

Двухлучевой микроскоп-спектрофотометр, содержащий микроскоп с осветителем отраженного света, оптическую спектрофотометрическую насадку, светоделительную пластинку, объектив сравнительной ветви, расположенный под 90 к объективу микроскопа, средство переключения световых потоков, отличающийся тем, что, с целью обеспечения измерений в режиме пропускания, средство переключения световых потоков выполнено в виде поворотного полого цилиндра, установленного на одной оси со светоделительной пластинкой и содержа5 щего три окна, расположенные под углом

90 одно к другому.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

10 1. Авторское свидетельство СССР № 138391, кл. G 01J 1/44, 1б.03.55.

2. Бяльсов Л. Н. Опак-иллюминатор рудного микроскопа с внутренним стандартом.

Автореферат диссертации на соискание уче15 ной степени кандидата геолого-минералогических наук, М., ИГЭМ, 1970 (прототип).

Двухлучевой микроскоп-спектрофотометр Двухлучевой микроскоп-спектрофотометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх