Способ контроля криволинейных поверхностей
Класс 12Ь, 12,„.М 87675
СССР
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛ
А. И. Омельченко
СПОСОБ КОНТРОЛЯ КРИВОЛИНЕЙНЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ
Заявлено 12,7екабрв 1949 r. за М 408724 в Гостех)(вку СССР
Предметом изобретен«(я яв;lястся спос00 KOHTpo. («(е1)иволпнейных поверхностей с использова;!ием двойного микроскопа.
Известны способы контроля крик, лин=-.!1!û по=c 7х«(эст«."! с и=пользованием двойного микроскопа, однако они не обеспечивают возможно ти измерения позерхнсстей сложной .«:о.!ф!!Гурации вслед«T".H.e н«;:07Впжности экрана.
Предлагаем ыи cI!ocoO Отличается OT i(3HecTHblx подобных .-Поссбов тем, что в качестве экрана применена фстспласт;)«(еа, уерспляе IBH на подвижном столе микроскопа. Исслед е "vIOe изделие ) станавпивает .я 1!а подВижном столе и перемещается Г месте с фстс;Iластпнl .Ой В на :lраВ. 10нии, перпендику (ярном к п7ocKQOTH располО?есш!я О!)ьсктнвсз мнерссеспа, закрепленнОГО HeI101(BH?KHQ. В p«3? ;!LTBTe этОГО Н<1 фстспл 1(0 ) ин(ес
ВоспрсизВодится кривая BèHèÿ. ссствстств1 юшая и ?0()1(7«o и:c.«ед«емок поверхности. Возможность фотозаписи профиля поверхностей, имеющих сложну(о конфигурацию, обеспечивается перемен!ением I:BI(år(I(ÿ и экрана
В направ;Iении, I(ep!7eH+lIKI 7«(pH03(е и;!Осессти п«)дсн!lя 1! стра?кения луча.
На фиГ. 1 схематически изс.)ра?1 .Снс3; .стрс(!ство, Обсспсчи за(011\ee применение нового спсс ба контроля «с;)1!Вопи«(сй(ых пов«рхносте(й); HB фиг. 2 — полученная кривая.
На подвижном столе 1 закреплена контролируемая деталь 2, имеющая поверхность сложной конфигурации. На стойке 3 стола 1 смонтирована фотопластинка, служащая экраном 4. При помощи источника 5 света на контролируемую поверхность д«тали 2 проектируют малое круглое отверстие б двойного микроскопа, установленного неподвижно по отношению к столу 1. После этого деталь 2 перемешают вместе с установленным на столе 1 экраном 4 и проектируют на экран полученное изображение через второе отверстие 7 микроскопа. Деталь с экраном перемещают в направлении, перпендикулярном к плоскости падения и отражения луча, Предмет изобретения
Способ контроля кривслпнейны i поверхностей с использованием пвойного микроскопа. о т л и ч а «о щи Й ". я Tpм, чтÎ, с целью контроля № 57675
Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Редактор Л. М, Струве
Подл. к печ. 23Х11-59 г.
Тираж 360 Цена 25 коп.
Инфс рмациоино-издательский отдел.
Объем 0,17 и. л. Зак. 5312
Типография Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Петровка, 14. поверхностей со сложной конфигурацией, на контролируемую поверхность детали, закрепленной на подвихкном столе, проектируют малое круглое отверстие и перемещают деталь вместе с установленным на столе экраном в направлении, перпендикулярном к плоскости падения и отражения луча.
