Феррозондовый дефектоскоп

 

Союз Советския

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. сеид- ву (22) Заявлено 0 7 (21) 2718480 2 28 (- 1)м. с присоединением заявки Но (23) ПриоритетG 01 N 27/84

Государственный номитет

СССР яо делам изобретений

N открытий

Опубликовано 23,1180, Ьюллетеиь Йо 43

Дата опубликования описания 23. 11. 80 (53) УДК 620. 179..143(088.8) (72) Автор изобретения

В. И. Франкфурт

Минский филиал Всесоюзного научно-исследоватеЛьского конструкторско-технологического института подшипниковой промышленности (71) Заявитель (54} ФЕРРОЭОНДОВЫЙ ДЕФЕКТОСКОП

Изобретение относится к устройствам нераэрушающего контроля и может быть использовано для оценки структурного состояния изделий, например деталей подшипников. S

Нзвестен феррозондовый дефектоскоп, содержащий источник намагничивающего тока для намагничивания объекта контроля, ферроэонды,,генератор для их возбуждения и последовательно f0 соединенные усилитель второй гармоники тока возбуждения ферроэонда, детектор, селективный усилитель, настроенный на удвоенную частоту тока намагничивания, и индикаторное уст- f5 ройс тво (11 .

Однако устройство обладает недостаточной чувствительностью иэ-эа того, что дефектоскоп реагирует на амплитуду удвоенной частоты намагни- Щ чивающего тока.

Наиболее близким по технической сущности. к изобретению является феррозондовый дефектоскоп, содержащий намагничнвающий блок для намагничи- 25 вания изделия, ферроэонды, высокочас-, тотный генератор для их возбуждения, последовательно!соединенные усилитедь второй гармоники тока возбуждения

4еррозондов, детектор, селективный 30 усилитель высшей гармонической составлюящей намагничивающего тока и амплитудно-фазовый анализатор 2).

Недостатком известного утсройства является низкая точность кОнтроля изделий небольших размеров, например деталей подшипников, Это связано со значительным влиянием мешающих факторов на результаты контроля.

Цель изобретения — повышение точности.

Цель достигается тем, что дефектоскоп Снабжен выпрямительным преобразователем максимального значения, подключенным к детектору, и детекто. ром отношения амплитуды гармоники к максимальному значению огибающей, входы которого связаны с селективным усилителем высшей гармонической составляющей намагничивающего тока и выпрямительиым преобразователем максимального значения, а выходс амплитудно-фаэовым анализатором.

На чертеже изображена блок-схема предлагаемого феррозондового дефектоскопа.

Он содержит намагничивающий блок

1 для намагничивания изделия 2, феррозонды 3, высокочастотный генера781689

Формула изобретения

ВНИИПИ Заказ 8120/47 Тираж 1019 . Подписиое

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,4 тор 4 для возбуждения ферроэонда и последовательно соединенные усилитель 5 второй гармоники тока возбуждения ферроэонда, детектор 6, селективный усилитель 7, настроенный на третью гармонику намагничивающего тока, детектор 8 отношения амплитуды гармоники и максималь ного значения, ампгитудно-фазовый анализатор 9, а также выпрямительный преобразователь 10 максимального значения включенный между детектором 6 и вторым входом детектора

8 отношений.

Работает дефектоскоп следующим образом.

Контролируемое иэделие 2 намаг ничивается блоком намагничивания 1 низкочастотным синусоидальным магнитным полем, Сигнал с выхода ферроэонда 3 поступает через усилитель

5 второй гармоники тока возбуждения феррозонда на детектор 6. На выходе детектора б выделяется огибающая модулированного сигнала феррозонда, сбдержащая гармоники, кратные час" тбте йамагничивакщего оля. Амплитуда и фаза гармоник зависит от свойств объекта контроля". С выхода детектора б сигнал поступает на селективный усилитель 7, предназначенный для выделения третьей гармоники, и выпрямительный преобразователь 10, предназначенный для получения сигнала постоянного тока, пропорционального максимальному значению ЭДС огибающей. Сигналы с выходов усилителя 7 и выпрямитегьного преобразователя

10 поступают в детектор 8 отношений и далее на амплитудно-фазовый анализатор 9.

Контролируемый параметр пропорцио« нален отношению амплитуды третьей гармоники поля к максимальному значению поля. Последнее, в свою очередь, йропорционально отношейию"амплитуды третьей гармоники намагниченности к максимальной намагниченности контролируемого изделия. Мешающие факторы (нестабильность положения объекта контроля, колебания его размеров) аналогичным образом влияют как на амплитуду третьей гармоники, так и на максимальное значение поля.

В то же время контролируемый фактор (температура закалки) на указанные параметры влияет по-разному. С ростом температуры закалки амплитуда

3-ей гармоники намагниченности увеличивается, а максимальная намагниченность уменьшается (иги остается неизменной).

В этой связи увеличивается отношение сигнал/помеха, а следовательно и точность контроля.

Ферроэондовый дефектоскоп, содер» жащий намагничивающий блок для на2О магничивания иэделия, ферроэонды, высокочастотный генератор для их возбуждения, последовательйо соединеннйе усилитель второй гармоники тока возбуждения феррозондов, детектор, 25 селективный усилитель высшей гармонической составляющей намагничивающего тока и амплитудно-фазовый анализатор, отличающийся тем, что, с целью повышения точности: он снабжен выпрямительным преобразоЗО вателем максимального значения, подключенным к детектору, и детектором отношения амплитуды гармоники к максимальному значению огибающей, входы которого связаны с селективным усили35 телем высшей гармонической составляю-. щей намагничиваюшего тока и выпрямительным преобразователем максимального значения, а выход - с амплитуднофазовым анализатором.

40 Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1, Авторское свидетельство СССР

9 345428„ G 01 N 27/86, 1970 °

2. Авторское свидетельство СССР

М 515985, G Ol N 27/82, 1976 (прот -ип) .

Феррозондовый дефектоскоп Феррозондовый дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля материала магнитными средствами и может быть использовано в дефектоскопах и устройствах контроля изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю, в частности к магнитопорошковой дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения дефектов любых форм поверхностей изделий во всех областях техники

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии материалов и изделий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля
Изобретение относится к способу получения магниточувствительной жидкости для визуализации магнитного поля

Изобретение относится к дефектоскопии и предназначено для неразрушающего контроля изделий из ферромагнитных материалов на дефекты типа нарушений сплошности

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для визуализации магнитных полей записи при магнитографической дефектоскопии и феррографии
Изобретение относится к области криминалистики и судебно-технической экспертизе документов
Наверх