Устройство для измерения параметров многослойного стекловолокна
Л теи нс б
А Нн ™ "
Союз Советских
Социалистическнх
Республик
<н746205
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву—
1 (22) Заявлено 25.11.77 (21) 2548621/18-25 (53)М. Кл, G 01 J 1/04 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет—
Государственный комитет
СССР но делам изобретений и открытий
Ф
Опубликовано 070780. Бюллетвмь № 25 (53) УДК 535.242.2
,088.8) Дата опубликования описания 070780 (72) Автор изобретени я
М.М.Дедловский
Ордена Трудового Красного Знамени Институт радиотехники и электроники AH СССР (71) Заявитель (54). УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ «пАРАИЕТРОВ
МНОГОСЛОЙНОГО СТЕКЛОВОЛОКНА
Изобретение относится к области фотометрических измерений оптических свойств прозрачных для светового излучения образцов и может найти применение при измерениях параметров сте-5 кловолокна многослойной структуры, используемого в оптических линиях связи.
Известно устройство для измерения параметров многослойного стекловолок- 1О на (13, содержащее источник света, держатель волокна и регистрирующий приемный элемент.
Наиболее близким техническим решением к данному изобретению является 15 устройство для измерения параметров многослойного стекловолокна f2), содержащее источник света, держатель волокна с гнездом для установки стекловолокна и приемный регистрирующий 20 элемент.
Недостатком известного устройства является отсутствие центрирования стекловолокна в интегрирующей сфере вследствие выполнения гнезда для 25 установки стекловолокна в виде прорези, в интегрирующей сфере из кварца, покрытого светорассеивающей средой, через которую протаскивают стекловолокно, что снижает точность и вос- 30 производимость измерений и делает устройство непригодным для измерения потерь на поглощение, так как оно не приспособлено для возбуждения волок, на.
Цель изобретения — повышение точности и воспроизводимости измерений.
Для этого в известном устройстве держатель выполнен из фторопласта в виде шара диаметром не более 3 мм, снабженного коническим гнездом с углом конуса т 0,1D/d, где 0 - максимальный диаметр волокна, d †- минимальный диаметр волокна.
На чертеже представлена принципиальная схема устройства.
Устройство содержит источник света
1, держатель 2 волокна 3 и регистрирующий приемный элемент 4. Держатель
2 выполней в,виде шара из фторопласта диаметром не более 3 мм, причем в шаре выполнено коническое гнездо 5 с углом конуса Ч = 0,1 D/d где 0 — максимальный диаметр волокна, d — минимальный диаметр волокна.
Устройство работает следующим образом.
В шаре непосредственно перед процессом измерения иглой с углом заточки т" выдавливают коническое гнездо
746205 формула изобретения
Составитель B.Òðàóò.
Редактор Н. Воликова Техред М. Кузьма Корректор M. Вигула
Заказ 3927/28 Тираж 713 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5
Филиал ППП "Патент", r.Ужгород, ул.Проектная,4
5, в которое вкладывают волокно 3.
Операция вкладывания волокна должна бйть выполнена в течение времени действия "восстайавливающих упругих сил, которые. затягивают гнездо, обеспечивая надежное крепление и центрирование волокна в материале шара. Световой поток от.источника света 1, входящий,в шар со стороны, обратной гнезду, рассеивается, причем индикатриса рассеяния близка к сфере. Волокно возбуждается излучением, рассеяйным в шаре. Распределение поля в шаре близко к равномерному, поэтому волокно возбуждается однозначно.
Использование устройства существенно повышает точность и воспроизводимость измерений.
Устройство для измерения парамет- 2О ров многослойного стекловолокна, содержащее источник света, держатель волокна с гнездом для установки стекловолокна и приемный регистрирующий элемент, о т л и ч а ю щ е. е с я тем, что, с целью повышения точности и воспроизводимости измерений, держатель выполнен из фторопласта в виде шара диаметром не более 3 мм, снаб-. женного коничзским гнездом с углом конуса = 0,1 О/d, где D - максимальный диаметр волокна
Р
d — минимальный диаметр волокна.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1.Keck Donald В., Spatiа! and
temporal power transfer measurements
on a low-low opticai waverguide, Applied Optics, 1974,Р 8, р,1882-1888.
2.0stermayer.F.W. Benson W.W.„
Integrating Sphere for measuring
scattering loss in optical fiber
waveguides, Applied Optics, 1974, Р 8, р.1900-1902(прототип).
