Фотометрический шар для абсолютных измерений

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6 l ) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 010378 (21) 2586454/18-25 (51)М. Кл.

G 01 3 1/04 с присоединением заявки ¹â€”

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет

Опубликованб 25,0 3,80. Бюллетень ¹ 11

Дата опубликования описания 250380 (5З) НЖ 535,224. (088. 8) (72) Автор изобретения

М.А.Проценко (71) Заявитель

ВГтТЬ (5 4 ) ФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ UAP ДЛЯ АБСОЛЮТНЫХ

ИЗМЕРЕНИИ где S — площадь чувствительной площадки фотоприемни ка;

I эффективный коэффициент отражения внутренней поверхности шара.

На чертеже изображена схема фотометрического шара для абсолютных измерений коэффициентов отражения.

Шар имеет входное отверстие 1 для светового луча, отверстие 2 для исследуемого образца, фотоприемник 3 и двухстороннее перекидывающееся зеркало 4,которое может фиксироваться в двух положениях: а и б . устройство работает следующим образом. Когда зеркало находится в положении а, свет направляется на исследуемый образец и фиксирует отсчет N фотоприемника 3; когда зеркало находится в положении б, свет направляется на свободную поверхность шара и фиксируется другой о-.— счет N фотоприемника 3. Искомый коэффициент отражения равен отношению этих отсчетов

N о

Изобретение относится к оптическому приборостроению, конкретнее— к деталям фотометров, служащих для измерения коэффициентов отражения света различными объектами.

Известны фотометрические шары (интегрирующие сферы) для измерений коэффициентов отражения, обладающие невысокой точностью (1).

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является фотометрический шар для абсолютных измерений с отверстием для образца, содержащий фотоприемник (2).

Этот фотометрический шар обладает невысокой точностью, обусловленной тем, что внутри шара расположен экран.

Целью настоящего изобретения является повышение точности измерений.

Достигается это благодаря тому, что в фотометрический шар введено двухстороннее перекидывающееся зеркало, а фотоприемник установлен так, что часть его чувствительной площадки ь S освещена отраженным от образца излучением, причем

Р -Р

hS= S - -=я ll

4-p

Р— коэффициент отражения внутренней поверхности шара;

723390

Составитель В.Юртаев

Техред С.Мигай Корректор A° . Гриценко

Редактор Е. Гончар

Заказ 414/31 Тираж 713

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП Патент, r.Óæãoðîä> ул.Проектная,4

Изобретение позволяет проводить прямые измерения коэффициентов от,ражения с уменьшением погрешности, т.е.позволяет определять коэффициенты отражения различных объектов с повыаенной точностью.

Формула изобретения

Фотометрический шар для абсолют ных измерений с отверстием для образца, содержащий фотоприемник, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, в него введено двухстороннее перекидывающееся зеркало,а фотоприемник установлен так, что часть его чувствительной площадки и S освещена отраженным от образца излучением, причем р -р

6S=S «р г где S — площадь чувствительной площадки фотоприемника; коэффициент отражения внутренней поверхности шара;

1 эффективный коэффициент отражения внутренней поверхности шара.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Борбат A.Ì.,Ãoðáàíü И.С., Охрименко Б.A., Суббота-Мельник П.A., Шайневич И.А.,Шишловский A.A. Оптические измерения, Киев, Техни15 ка, 1967, с.123,130.

2. Авторское свидетельство СССР по заявке Р 2550944, кл. G 01 7 1/04, 1977 (прототип).

Фотометрический шар для абсолютных измерений Фотометрический шар для абсолютных измерений 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для калибровки солнечных фотопреобразователей (как отдельных фотоэлементов (Ф), так и солнечных батарей (СБ) на заатмосферные значения их токовых характеристик

Фотометр // 682770

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх