Приемник для устройства контроля прямолинейности поверхности с помощью оптического луча

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

{i117I2S59

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 14.03.78 (21) 2589796/25-28 (51) М. Кл. G 01В 11/30 с присоединением заявки Ме

Государственный комитет (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.01.80. Бюллетень М 4 (45) Дата опубликования описания 30.01.80 (53) УДК 531.715.27 (088.8) ло делам изобретений и открытий (72) Автор изобретения

С. Т. Цуккерман

Ленинградский институт точной механики и оптики (71) Заявитель (54) ПРИЕМНИК ДЛЯ УСТРОЙСТВА КОНТРОЛЯ

ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ С ПОМОЩЬЮ ОПТИЧЕСКОГО ЛУЧА

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано, в частности, для контроля прямолинейности с помощью оптического луча, например, в приборе управления лучом (ПУЛ), энергетическая ось которого используется в качестве эталона.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является приемник для системы контроля с помощью оптического луча (лазерного илп иного источника), содержащий проекционный объектив и фотоприемник (1).

Измерение отступлений от прямолинейности предусматривается путем перемещения фотоприемника вдоль энергетической осп луча, принимаемой за эталон прямой, причем фотоприемник использует всю энергию луча.

Однако такой приемник не обеспечивает одновременного и независимого контроля в двух и более точках поверхности, например, диафрагм пли подшипников при сборке и монтаже ряда крупных сооружешш, а именно паровых и газовых турбин, судовых валопроводов и т. п.

Целью изобретения является одновременный и независимый контроль в двух и более точках линии или поверхности.

Для этого предлагаемый приемник снабжен свстоделптельным элементом, расположенным перед проекционным объективом, двумя галилссвскими системами с увеличением больше единицы, установленными по обе стороны светоделительного элемента, и апертурной диафрагмой, расположенной перед фотоприемником за фокусом проекционного объектива; а проекционный объектив выполнен в виде вогнутого зеркала.

На фиг. 1 изображена оптическая схема

И приемника для системы контроля прямолинейности при помощи оптического луча; на фиг. 2 — вариант приемника с зеркальным проекционным объективом. Приемник содержит светоделительный элемент 1, уста15 новленпые по обе стороны от него две одинаковые галилеевские системы 2 п 3 с увеличением больше единицы, проекционный объектив 4, апертурную диафрагму 5 и фотоприемник 6. На фиг. 2 проекционный объ20 ектив 7 выполнен зеркальным.

Работает описываемый приемник следующим образом.

Приходящее слева излучение диаметром

d„, проходит галплеевскую систему 2, имею25 щую увеличение Г больше единицы, затем светоделительный элемент 1, поверхность 7 которого отражает примерно 30 — 40% излучения, в проекционный объектив 4, после чего поступает во вторую аналогичную га30 лплеевскую систему 3 и тем же диаметром направляется в последующий приемник (пе

712659

Типография, пр. Сапунова, 2 показан). Отраженная часть излучения направляется проекционным объективом через установленную за его фокусом апертурную диафрагму 5 на фотоприемник 6.

Применение двух одинаковых галилеевских систем 2 и 3 объясняется необходимостью исключения смещения осп луча, при наклонах приемника от преломления лучей в светоделительном элементе 1. При причине увеличения угла наклона лучей за пер- 10 вой галплеевской системой 2 в Г раз, подбирая соответственно велич|шу Г, можно полностью исключить смещение осп луча при наклонах.

Так как апертурная диафрагма 5 расположена за фокусом проекционного обьектпва 4, то ее увеличенное изображение 8 в обратном ходе получается в районе 9 крепления приемника. Благодаря этому на фотоприемник 6 попадает только та часть из- 20 лучения, которая проходит через площадь изображения диафрагмы 5, а так как изображение 8 меньше сечения пучка лучей и располагается в середине района 9 крепления с приемника, то при возможных пакло- 25 нах приемника не происходит из rerrerrrrsr структуры п диафрагмироваппя проходящего через пего пучка лучей.

Видоизмененный вариант приемника (фиг. 2) отличается тем, что в целях умень- 30 шенпя габаритов проекционный линзовый объектив 4 заменен в нем зеркальным объективом.

Формула изобретения

1. Приемник для устройства контроля прямолинейности с помощью оптического луча, содержащий проекционный объектив и фотоприемник, отличающийся тем, что, с целью одновременного и независимого контроля в двух и более точках линии или поверхности, он снабжен светоделительным элементом, расположенным перед проекционным ооъективом, двумя галилеевскими системами с увеличением больше еди|шцы, установленными по обе стороны свстоделительного элемента, и апертурной диафрагмой, расположенной перед фотоприемником за фокусом проекционного объектива.

2. Приемник по п. 1, отл ич а ющий ся тем, что проекционный ооъектив выполнен в виде вогнутого зеркала.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Вагнер Е. Т. и др. Лазерные и оптические методы контроля в самолетостроении.

«Машиностроение», М., 1977, с. 46 — 49 (прототип) .

Составитель М. Лобзова

Редактор Г. Улыбина

Техред А. Камышникова

Корректоры: А. Галахова и Л. Орлова 7

Заказ 2777, 9 Изд. ¹ 116 Тираж 810

Подписное

НПО «Поиск»

Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5

Приемник для устройства контроля прямолинейности поверхности с помощью оптического луча Приемник для устройства контроля прямолинейности поверхности с помощью оптического луча 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх