Способ обнаружения поверхностных дефектов металлических изделий

 

1 п, 59Î649

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Юоюв Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-vy (22) Заявлено 27.06.75 (21) 2153924/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.01.78. Бюллетень № 4 (45) Дата опубликования описания 01.02.78 (51) М. Кл з G 01N 21/02

Государственный комитет

Совета Министров СССР ио делам изобретений и открытий (53) УДК 531.715.2 (088.8) (72) Автор изобретения

В. П. Терехов (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОБНАРУ)КЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ

ДЕФЕКТОВ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ

Изобретение относится к области дефектоскопии и может быть использовано для обнаружения поверхностных дефектов, например волосовин, закатов, трещин, на металлических изделиях, например на проволоке, трубах, прутках.

Известен метод выявления поверхностных дефектов на поверхности металлических изделий путем осмотра контролируемой поверхности, например, с помощью оптических средств (11.

Недостатком этого метода является его низкая эффективность, обусловленная, в частности, тем, что дефекты поверхности, особенно мелкие, практически неразличимы на фоне поверхности изделия. Кроме того, обнаружение поверхностных дефектов путем осмотра изделия требует обязательной предварительной очистки поверхности изделия, например, путем длительного травления в растворах кислот.

Целью изобретения является повышение эффективности обнаружения поверхностных дефектов.

Для этого по предлагаемому способу поверхность изделия предварительно обрабатывают дуговым разрядом, используя контролируемое изделие в качестве одного из электродов, Способ осуществляется следующим образом.

Используя изделие в качестве катода, создают дуговой разряд между изделием и элект5 родом. Поверхность изделия подвергается дуговой очистке, при этом дефекты раскрываются, в их зоне происходит усление шероховатости поверхности, что делает пх хорошо различимымп на фоне очищенной дугой поверхно10 сти.

Особенно эффективно применение для этих целей вакумного дугового разряда.

После обработки изделия его поверхность осматривают, например, с помощью оптичесJ5 ких средств.

Предлагаемый способ позволяет за короткое время выявлять поверхностные дефекты металлических изделий, 20

Формула изобретения

Способ обнаружения поверхностных дефектов металлических изделий, заключающийся в том, что поверхность изделия осматривают, например, с помощью оптических средств, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения эффективности обнаружения, поверхность изделия предварительно обрабатывают дуговым разрядом, используя контролируемое изделие в качестве одного из электродов.

590640

Составитель И. Кесоян

Техред Н. Рыбкина

Редактор О. Юркова

Корректор Л. Денискина

Заказ 3259/9 Изд, Мз 181 Тираж 1109

НПО Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 5К-35, Рашуская наб., д. 4/5

Подписное

Типография, пр. Сапунова, 2

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Справочник «Неразруша1ощие испытания». Под. ред. P. Мак Мастера. М.-Л., «Энергия», 1965, кн. 2, с. 151 — 195.

Способ обнаружения поверхностных дефектов металлических изделий Способ обнаружения поверхностных дефектов металлических изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устройствам для обнаружения поверхностных дефектов на цилиндрических объектах, таких как топливные таблетки атомных электростанций

Изобретение относится к контролю качества поверхности оптическими методами и может найти применение в оптическом приборостроении, например, для контроля качества подготовки поверхностей подложек интегрально-оптических устройств, лазерных зеркал и т.д

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали

Изобретение относится к устройствам для контроля геометрических размеров и дефектов типа посечек, сколов, трещин стеклоизделий

Изобретение относится к телевизионной микроскопии и может быть использовано в промышленности при автоматизации контроля качества и, особенно, криминалистике для проведения баллистических экспертиз пуль стрелкового оружия, а также создания и хранения банка данных пулетек для последующей идентификации оружия по следам на пулях

Изобретение относится к контролю качества поверхностей твердых тел оптическими методами, а именно к обнаружению дефектов и микрообъектов на плоских поверхностях проводящих и полупроводящих изделий путем регистрации эффективности возбуждения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), и может найти применение в оптическом приборостроении, экологическом мониторинге, в физических, химических, медико-биологических и других исследованиях

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности контролируемых объектов (КО) дефектов различного происхождения

Изобретение относится к исследованию и анализу физического состояния объектов сложной формы с помощью оптических средств, в частности к определению рельефа таких объектов, как стреляные пули и гильзы

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для диагностики усталостного износа металлоконструкций (МК) и прогнозирования остаточного ресурса
Наверх