Фотоэлектрический дефектоскоп

 

Соиа Соеетских

Со@иалисти еских

Республик

307О68

К АВТОРСКОМУ СВМДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства ¹

МПК G 01п 27/86

Заявлено 19.Ы11.1969 (№ 1357880j25-28) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Комитет по делам иаобретеиий и открытий при Соеете Мииистрое

СССР

Опубликовано 21.VI.1971. Бюллетень ¹ 20

Дата опубликования описания 27Х111.1971

УДК 620.179.13:531.717 (088.8) Авторы изобретения

В. Г. Сажаев и В. А. Епанчин

Специальное конструкторское бюро «Цветметавтоматика»

Заявитель

ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ДЕФЕКТОСКО П

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике.

Известны фотоэлектрические дефектоскопы для контроля поверхности изделий, содержащие источник света, оптическое проекционное устройство, расположенное в отраженном от контролируемого изделия потоке света, оптикомеханическое развертывающее устройство, установленное в этом потоке перед фотоэлектрическим преобразователем, фотоэлектрический преобразователь, например светочувствительный р — n-переход, электронное индикаторное устройство, включенное входом на выход фотоэлектрического преобразователя, исполнительное устройство, соединенное с выходом электронного индикаторного устройства.

Однако разрешающая способность и чувствительность этих дефектоскопов недостаточно высоки, так как электронное индикаторное устройство обычно выполнено в виде усилителя постоянного или переменного тока.

Предлагаемый фотоэлектрический дефектоскоп отличается тем, что с целью повышения разрешающей способности и чувствительности дефектоскопа, электронное индикаторное устройство выполнено в виде автогенератора, в колебательный контур которого включен светочувствительный р — n-переход, и преобразователя частоты, один вход которого соединен непосредственно, а другой — через линию задержки с автогенератором, а также тем, что с целью повышения селективности дефектоскопии, электронное индикаторное устройство снабжено фильтрами, например контурами

5 ударного возбуждения, включенными между электронным индикатором и исполнительным устройством

На чертеже представлена блок-схема дефектоскопа.

10 Предлагаемый дефектоскоп содержит источник света 1, в потоке света которого расположена контролируемая поверхность 2; оптическое проекционное устройство 8, установленное в отраженном от поверхности 2 потоке света;

15 оптикомеханическое развертывающее устройство 4, находящееся перед фотоэлектрическим преобразователем 5 в виде светочувствительного р — n-перехода, включенного в контур 6 автогенератора 7 в качестве его емкости.

20 Этот контур связан через буферный каскад

8 с одним из входов преобразователя 9 частоты, а автогенератор 7 через линию задержки

10 — с другим входом преобразователя; выход преобразователя 9 соединен с исполнительным

25 устройством 11.

Дефектоскоп функционирует следующим образомм.

От освещенной источником света 1 поверхности 2 поток направляется проекционным

30 устройством 3 через оптико-механическое раз. вертывающее устройство 4 в фотоэлектрический преобразователь б, емкость р — n-перехода которого изменяется под воздействием потока света.

Включенный в качестве емкости в колебательный контур б автогенератора 7 р — и-переход определяет значение частоты сигнала автогенератора. Таким образом, изменение освещенности р — n-перехода приводит к изменению частоты автогенератора, которое фикси- 10 руется преобразователем 9 частоты, на один вход которого сигнал подается непосредственно с автогенератора 7, а на другой — через линию задержки 10. Сигнал с выхода преобразователя 9 частоты поступает в исполнительное устройство 11. В случае необходимости между преобразователем 9 и исполнительным устройством 11 может быть включен фильтр, например в виде контуров ударного действия, повышающий селективность дефектоскопа к де- 20 фектам определенного типа.

Предмет изобретения

1. Фотоэлектрический дефектоскоп для кон- 25 троля поверхности изделий, содержащий источник света, оптическое проекционное устройство, расположенное в отраженном от контролируемого изделия потоке света, оптикомеханическое разверть вающее устройство, установленное в этом потоке перед фотоэлектрическим преобразователем, фотоэлектрический преобразователь, например светочувствительный р — n-переход, электронное индикаторное устройство, вклго синае входом на выход фотоэлектрического преобразователя, исполнительное устройство, соединенное с выходом электронного индикаторного устройства, отличаююцггйся тем, что, с целью повышения разрешающей способности и чувствительности дефектоскопа, электронное индикаторное устройство выполнено в виде автогенератора, в колебательный конryp которого включен светочувстви-сльный р †:.-переход, преобразователя частоты, один вход которого соединен непосредстзепно, а другой — через линию задержки с автогенератором.

2. 9OTO3лектрHLiecKHII дефектоскоп по il. 1, отличаюигг.ггся тем, что, с целью повышения селективнос;и дефектоскопии, электронное индикаторное y c I po.icTÂÎ сна ожено фильтрами, пагример конт —..ами ударного возбуждения, вкл;оченпы:,ги ежду электронным индикаторHello IHH l eJI! HhIII УстРОЙством.

Составитель А. Духанин

Редактор К. Шанаурова Техред A. A. Камыгппикова Корректор Т. А. Китаева

Заказ 2238г 14 Изд. № 890 Тира>к 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ъ;-35, Раугпская наб., д. 4;5

Типография, пр. Сапунова, 2

Фотоэлектрический дефектоскоп Фотоэлектрический дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устройствам для обнаружения поверхностных дефектов на цилиндрических объектах, таких как топливные таблетки атомных электростанций

Изобретение относится к контролю качества поверхности оптическими методами и может найти применение в оптическом приборостроении, например, для контроля качества подготовки поверхностей подложек интегрально-оптических устройств, лазерных зеркал и т.д

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали

Изобретение относится к устройствам для контроля геометрических размеров и дефектов типа посечек, сколов, трещин стеклоизделий

Изобретение относится к телевизионной микроскопии и может быть использовано в промышленности при автоматизации контроля качества и, особенно, криминалистике для проведения баллистических экспертиз пуль стрелкового оружия, а также создания и хранения банка данных пулетек для последующей идентификации оружия по следам на пулях

Изобретение относится к контролю качества поверхностей твердых тел оптическими методами, а именно к обнаружению дефектов и микрообъектов на плоских поверхностях проводящих и полупроводящих изделий путем регистрации эффективности возбуждения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), и может найти применение в оптическом приборостроении, экологическом мониторинге, в физических, химических, медико-биологических и других исследованиях

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности контролируемых объектов (КО) дефектов различного происхождения

Изобретение относится к исследованию и анализу физического состояния объектов сложной формы с помощью оптических средств, в частности к определению рельефа таких объектов, как стреляные пули и гильзы

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для диагностики усталостного износа металлоконструкций (МК) и прогнозирования остаточного ресурса
Наверх