Способ контроля параметров сведения отклоняющих систем многолучевых кинескопов

1ц 560365

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистицеских

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 19.07.74 (21) 2047416/09 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 30.05.77. Бюллетень ¹ 20

Дата опубликования описания 22.07.77 (51) М. Кл е Н 04N 9/62

Йсударственный комитет

Савета Министров СССР па делан изобретений н открытии (53) УДК 621.397(088.8) (72) Авторы изобретения и (71) заявители

Д. Ю. Пакачимас и Х. П. Шатер (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ СВЕДЕНИЯ

ОТКЛОНЯЮЩИХ СИСТЕМ МНОГОЛУЧЕВЫХ КИНЕСКОПОВ

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться при массовых производстве и разработке новых конструкций отклоняющих систем и многолучевых кинескопов.

Один из известных способов контроля систем магнитного сведения лучей трехлучевого цветного кинескопа реализован в устройстве, содержащем электромагнитные датчики напряженности магнитного поля системы сведения, установленные взаимно перпендикулярно в параллельных плоскостях.

Однако в этом устройстве невозможен контроль параметров сведения в требуемом объсме.

Наиболее близким техническим решением к изобретению является способ контроля параметров сведения отклоняющих систем многолучевых кинескопов, заключающийся в измерении,величины расхождения лучей на экране кинескопа.

Однако этот способ, сопряжен с трудоемкими, громоздкими и сложными операциями, что не позволяет ускорить контрольные операции при массовом производстве отклоняющих систем, Чтобы ускорить контроль, по предлагаемому способу контроля параметров сведения отклоняющих систем многолучевых кинескопов отклоняющую систему поворачивают на горловине кинескопа до получения максимального несведения на одной из осей кинескопа и измеряют несведение на этой оси, затем поворачивают отклоняющую систему на 90 и

5 измеряют несведение повторно на той же оси, а измеренные параметры сравнивают с допустимыми.

Предлагаемый .способ .контроля заключается в следующем.

10 Контроль п роизводят на типовых испытательных стендах с контрольными кинескопами. Регулировкой постоянных токов в строчных:катушках отклоняющей системы три луча,,предварительно сведенные в центре, оТ15 клоняются на экране кинескопа вправо вдоль горизонтальной оси эирана в правую точку измерения. Регулировкой токов в катушках динамического сведения добиваются максимального совещения лучей в указанной точке

20 и производят отсчет величины расхождения лучей.

Затем регулирои<ой токов в строчных катушках отклоняющей системы три луча отклоняются |влево вдоль горизонтальной оси

25 экрана в левую точку измерения, в которой аналогичным способом производят отсчет величины расхождения лучей.

Отклоняющую систему поворачивают на горловине кинескопа на 90 . Регулировкой то30 ков в кадровых катушках отклоняющей сис560365

Формула изобретения

Состав пель Е. Любимова

Техред И. Карандашова

Корректор Л. Брахнина

Редактор Т. Рыбалова

Заказ 1619/8 Изд. Хо 535 Тираж 815 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москьа, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 темы три луча, спредварительно с ведеиные в центре, отклоняются на экране кинескопа вправо вдоль горизонтальной оси экрана в правую точку измерений. Регулировкой токов в катушках динамического сведения добиваются максимального совмещения лучей в этой точке и производят отсчет величины расхождения лучей. Аналогично осуществляют измерение в левой точке.

По произведенным четырем отсчетам величины расхождения лучей на горизонтальной оси экрана, на кото рой для,кинескопов с треугольным расположением электронных пушек в наибольшей степени проявляется расхождение лучей, производится оценка параметров сведения отклоняющей системы. Существует зона допустимых значений измеренных величин расхождения лучей, при которых обес печиваются требования ко всем па|раметрам сведения отклоняющей системы. Измеренные четыре параметра сравниваются с допустимыми.

Для кинескопов с компланарным расположением электронных .параметров остаточное несведение лучей проявляется на вертикальной оси, следовательно, контроль отклоняющих си стем для кинескопов с компланарным раоположенивм электронных п рожекторов

I II0изводится измерением расхождения Iv Iþé в точках на вертикальной оси экрана кинескопа.

Использование предлагаемого способа конт5 роля параметров сведения отклоняющих систем многолучевых кинескопов обеспечивает повышение производительности операций контроля качества благодаря возможности оценки параметров сведения отклоняющих си10 стем iIIo четырем отсчетам остаточного несведеп1гя вместо двенадцати.

15 Способ контроля параметров сведения отклоняющих систем многолучевых кинескопов, заключающийся в измерении величины расхождения лучей на экране кинескопа, отл ич а ю шийся тем, что, с целью ускорения

20 контроля, отклоняющую систему поворачивают |на горловине кинескопа до получения максимального несведения на одной из осей кинескопа и измеряют несведение на этой оси, затем поворачивают отклоняющую систему на

25 90 и измеряют несведение повторно на той же оси, а измеренные параметры сравнивают с допустимыми.