Способ определения оптических констант одноосных кристаллов

 

О П Й C А H Й Е 495525

Союз Советских

Со((иалис)ических

Ре«;) ftf)tf)

ЙЗОБРЕТЕМ ЙЯ

Х АВХОРС1(ОМУ СВКДЕ|ЕЛЬСТВУ

Г .! 5, i .3П):<3. i Г. 3(!.(f!i., 1 "! (!(54!Ь" )!)-",) 1

lS. (i ()1 В

< !

Государственнн<й комитет

Сонета Министров СССР ла делам изобретений и открытий

t) ) f I I!»io ..: г (2! " ().11.«015;!II!) .). i . < ). !)i»...:i I < I ) -!!) ) >, <. (}, )if,).-j f ((Ь< «) (О) ), it TOI) I>1

f I 5 0C) ) CTi П Я

В. f!..My)нин(кии и Д. О. hp().(è÷êî

Кишиневский ор;(си<(f р ) (()<301 î Ь,р

Гос );(с!Рс В H HI>l ft ) н и В(!) с tt 1 (. I ii."! . (>. И. (и нн<4

I ..);)» !5 >i .1 (;) j! (:ПОСОЬ ОП Р Е-;Д!:.Л 1-.Н ИЯ (2

О Д Н О О (: Н Ь Х Ь, Р И (: f .Л .! . (2 !3

) )) )

1 (!>< ) <,, у) 1 !Зооис1 < ll lie О I!I<)Oil 1051 е 00. !и("i Il 011! :I :c< f) it!! ин(ср(1)срох(С1ри))1 It )нижет ()i>! t i) пспГ),1< (:1

)5 ОП ГII «Cr) I C ):а Н П !(. СЕ<) И t) 0)! I>I III, I 0 II I!00 I !5:!

1<РП:151 ÎT013,!CIII111 IIO;!3 iii).1«:: <К)tX

iILÒI3Lj) I)130 !НОI)!)1. ll Icli. I t! II()« ii (1)п. i i> i j)015 ° ! !(). !

1а!3ССП!Ы СПОСООЫ ОПРС.(С.ILII:151 c)l: I:l«К:!.

Копетcl!11 0 I I!0(i(II I>IX Ер ИС I с) ° 1 ° (ОН Пи 0() 01>«- ii<1 .(П.icf;(It! I tl hl it Е П 11 il I <. I)(j)CI) CIILLIl0!i I!<)i; К, < !): Ii!! 1>I

ОГ Е j) 1!С! сl. 1, I i I I С СЕ О И I I, !а С(I I I I I>1, !3!)! jl «

P c!.1.1С, I l)I l0 0i! I И ICC!<0!1 0<:11 «РЯС!

I1:5 Х! С((С(I 1(SI c! II И:30 1 ро li I! Ii 1 рII<. 1 <1.1.1;1 13 Ij)()1«. С<. <". )Iе ОПре;LC.(CII I IH;1!! < Il(j) 0ii I! 1!ОЕ а 1сlТ(1(I! I! I) C, IO i!, It. i!1! 51

О ОЫ ЕНО!3С! I I!01 O И И НСО ОЫ «ПОI)сll! IOI ti )1, .1 < il<)ll.

Ljc, i!>K) t!

131>l ilIClI I! C ТO f!0(Тl! О!. РС;I (> I(11115! ПОР 51,(К

ЭТО, (О("! 11! <1C I СЯ 1 () (I, 1! O IO ПРС (. I «1 <10 ):t) )i )

СПО(ООУ КРПСтclз! IIII Х! П Исl!t ItI Oi. I) 0<) fl;! 50!l;!, 1!l

) I C). I !5 -!() С I, I I 111 11.10(It

ГOPC)15, II I!c! )Ol )II.I

ОСП, 1001)1 ), i O, I . )1С5«,() ОСI>10 КР ПС Гi!, I,!

l;l .,:.!: П);» ii;,Cltl!il .1) Ч<, 1, П.(К

: I!Ill.3 i!),!.iL:« i!i: Ii .,. i«,:.С . О.ПП,1, . <,i!,Iiii:Р3—

iOI . <:I1IIi! ): ) » З, .) ..; !)5..,К;:. <)«j)C (i,i:< <О! 0 !5!)1-! . Г (С П: < .. 1, <11 ): 1) :: ). С < i < .: i "<,.

Г)

jl ci I.I i; i! .: l, .. .... i ) : i) i . .,5 «О:;. и. ) (! i i j) c,,i .1 i П I!!>i. !t ) . ., ., П, i I: .. .. i! i!)i < i . . .. < <<.:! >; !51>1 ,. и< с i l I l с ) I

Г.; — Н . !i - - ., — . П . .1. <» : К ° < .) К i)O!l, <)<)1!П! (<3.» .1!1<)<) П 5 1(П) < :1:. . i I 1),, I, I: .:1 1! . i l<. i i! l. i !!i!. П) <У )1

<1 (!Il.l!)!it::;,:i.li,,<) .;! !!Iii П ),,)i I:) ) < <., !Ii!. I < -! П i 3 t<) П .> . :. jl ..с,<. i ii .!: < « .: П <, С..< Г)<) 1 5<.

c .5 ):() .., I. К ) ., I:.. i I:. iI!1! !> П )) :I : t 5,!r! ) ) i ) Il !i, i)< 1 П П

I !,, 3,! О f)»,, ))< 5.1,1;))5,;

I<

t tl l I! I alii I! i!:..;:!>.). «1. i, 1»)« );),:: t )< "..: . < !! I I <

«!!; i, (!)Сt: I;!Ill !,:К«.,; « f» 5<) ):. I!t)

" :Пl 0li t, !, :! .".:, !< !l;., П:Ii::. .;)i "f)i . <П< 1 iit! Ж—

Способ определения оптических констант одноосных кристаллов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для высокоточных измерений малых угловых перемещений в специальных геодезических работах, в точных геофизических измерениях и при производстве крупногабаритных изделий в качестве контрольно-измерительной аппаратуры

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области волоконной оптики и может быть использовано при конструировании электронного блока обработки информации волоконно-оптического гироскопа, а также других датчиков физических величин на основе кольцевого интерферометра

Изобретение относится к интерферометрам и может быть использовано для абсолютного измерения линейной длины отрезков

Изобретение относится к волоконно-оптическим автоколебательным системам на основе микромеханического резонатора, возбуждаемого светом, и может быть использовано в системах измерения различных физических величин, например, концентрации газов, температуры, давления и др

Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может использоваться в скоростных дифрактометрах
Наверх