Устройство для контроля логических микросхем
О П И С А Н И Е (ii) 432505
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Соеетскии
Социалистических
Реслублик с (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 04.01.72 (21) 1733176/18-24 с присоединением заявки ¹ (32) Приоритет
Опубликовано 15.06.74. Бюллетень ¹ 22
Дата опубликования описания 31.10.74 (51) М. 1хл. G 06f 11 04
G 0lr 31, 28
Государственный комитет
Совета Министров СССР во делам изоорвтвний и открытий (53) УДК 681.335(088,8) (72) Авторы изобретения
В. Е. Дворкин и О. С. Потураев (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЛОГИЧЕСКИХ МИКРОСХЕМ
Изобретение относится к области вычислительной техники и может быть использовано для обеспечения входного и выходного контроля логических микросхем, используемых, например, в цифровых вычислительных машинах.
Известны устройства для контроля логических микросхем, с помощью которых производится полная и раздельная во времени проверка микросхем по статическим и динамическим параметрам. Это приводит к усложнению программы проверки и снижению производительности при частой смене видов проверки.
Целью настоящего изобретения является повышение производительности контроля микросхем путем совмещения во времени проверки на функционирование с проверкой по динамическим параметрам.
Сущность изобретения заключается в том, что в устройство введен кольцевой регистр сдвига, выход которого соединен с первым входом блока формирования сигналов, второй вход которого подключен к выходу. кольцевого регистра сдвига через группу вентилей, и дешифратор, управляющий вход группы вентилей соединен с первым входом устройства, второй вход которого подключен к первому входу кольцевого регистра сдвига, второй вход которого соединен с выходом задающего генератора.
На чертеже представлена блок-схема устройства, в состав которой входят: кольцевой регистр 1 сдвига, задающий генератор 2, группа вентилей 3, блок 4 формирования сигналов, дешифратор 5, блок коммутаций б, блок измерений 7; 8, 9 — входы устройства; 10 — контролируемая микросхема.
При работе устройства на проверяемую логическую микросхему подаются сигналы, соответствующие минимальным функциональным тестам каждого типа логических микросхем, формируемые по двухступенчатой закоммутированной программе.
Предварительно в кольцевом регистре 1 сдвига устанавливается необходимый для проверки логической микросхемы 10 код. После этого подаются импульсы сдвига от задающего генератора 2, что обеспечивает сдвиг кода, записанного в кольцевом регистре сдвига.
20 Формируемые после каждого импульса сдвига кодовые комбинации с выходов регистра 1 поступают на вход вентилей 3 и на блок 4 формирования сигналов.
Для проверки большинства типов логпче25 ских микросхем набор кодовых комбинаций, подаваемых непосредственно с регистра 1, достаточен для получения минимальных функциональных тестов.
В том случае, если кодовые комбинации с
30 регистра 1 не дают возможности получить ми432505 нимального теста проверяемой микросхемы, открываются вентили 3 и кодовые комбинации с выходов кольцевого регистра сдвига поступают на входы дешифратора 5. Дешифратор образует дополнительные кодовые комбинации, необходимые для получения минимального функционального теста. Эти дополнительные кодовые комбинации выходов дешифратора 5 поступают на входы блока 4, обеспечивающего создание необходимых электрических режимов проверки микросхемы.
Дешифратор 5 и кольцевой регистр 1 сдвига образуют первую ступень коммутаций программы проверки. Повторяемость программы проверки во времени обеспечивают тем, что разряды регистра 1 сдвига образуют кольцо.
С выходов блока 4 кодовые комбинации подаются на блок коммутаций 6, образующий вторую ступень коммутации программы проверки, а с выходов блока 6 поступают минимальные функциональные тесты, которые затем подаются на проверяемую микросхему 10.
Блок 6 обеспечивает необходимую коммутацию выходов проверяемой микросхемы к блоку измерений 7 и входов микросхемы 10 к блоку 4 в зависимости от типа проверяемой микросхемы.
Сигналы с выходов проверяемой микросхемы через блок коммутаций 6 поступают в блок
7, который служит для измерения и фиксации статических и динамических параметров проверяемой логической микросхемы, а также для ее проверки на функционирование.
Кодовые комбинации с выходов кольцевого регистра 1 сдвига формируются или на низкой частоте (десятые доли герца), что позволяет совместить проверку логической микросхемы 10 на функционирование с проверкой по статическим параметрам, или на высокой частоте (несколько мегагерц), что позволяет совместить во времени проверку на функционирование с проверкой по динамическим параметрам.
Для реализации проверки логической микросхемы в динамическом режиме и одновременно на функционирование блок 7 содержит высокочас; отныи двухчастотный осциллограф.
На осциллографе в динамическом режиме наблюдают форму напряжения выхода данной проверяемой логическои микросхемы и сравнивают с известной формой напряжения выхода исправной логической микросхемы данного типа, в случае несовпадения их форм проверяемую логическую микросхему признают негодной, а в случае совпадения — годной.
Одновременно проводятся измерения динамических параметров логических микросхем.
Предмет изобретения
Устройство для контроля логических микросхем, содержащее блок коммутаций, соединен25 ный с блоком измерений и блоком формирования сигналов, задающий генератор, отл ичаю щ е ее я тем, что, с целью повышения производительности контроля, в него введен кольцевой регистр сдвига, выход которого соединен з0 с первым входом блока формирования сигналов, второй вход которого подключен к выходу кольцевого регистра сдвига через группу вентилей, и дешифратор, управляющий вход группы вентилей соединен с первым входом устройства, второй вход которого подключен к первому входу кольцевого регистра сдвига, второй вход которого соединен с выходом задающего генератора.
432505
Г ) Составитель А. Жеренов
Текред Л. Богданова
Корректор А. Язесова
Редактор Б. Нанкина
Заказ 2917/8 Изд. ¹ 1738 Тираж 624 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, К-35, Раушская наб., д. 4, 5
Типография, .ð. Сапунова, 2
Г; д
Г- л


