Патент ссср 415614
ОПИСАН И Е
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 29. I I 1.1971 (№ 1639093/18-10) с присоединением заявки J¹
Приоритет
Опубликовано 15Л1.1974. Бюллетень № 6
Дата опубликования описания 4.07.1974
M. Кл. 6 01г 27126
Гасударственный комитет
Совета Министров СССР
Па делам изобретений и открытий
УДК 621.317.44 (088.8) Авторы изобретения
В. А. Щербов, E. М. Кулешов и Д. Д. Литвинов
Б П 7 Г
Заявитель
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ
ВЕЩЕСТВ
Изобретение относится isa области радиоизмерений на сверхвысоких частотах (СВЧ).
Известные способы измерения диэлектрической проницаемости е вещества основаны на измерении амплитуд ортогональных составляющих электромагнитной волны, отраженной от плоской поверхности исследуемого вещества.
Однако амплитуды каждой из ортогональных составляющих измеряют в разное время, в результате чего возникает погрешность в определении е, связанная с изменением уровня
СВЧ сигнала за время между их измерениями.
Для устранения этой погрешности приходится стабилизировать уровень мощности, что существенно усложняет схему измерении.
Для упрощения процесса измерений предлагается способ, по .которому разделяют амплитуды ортогональных составляющих сигнала с помощью поля ризующей проволочной решетки и одновременно измеряют отношение амплитуд ортогональных составляющих сигнала, отраженного от поверхности образца.
Блок-схема измерительной установки, работающей по описываемому способу, показана на чертеже.
В качестве одной из возмож|ных,квазиоптических линий передачи применен полый диэлектрический лучевод. Сигнал от СВЧ генератора 1 поступает на образец 2 исследуемого диэлектрика под углом падения 45 к рабочей поверхности ДС образца, причем плоскость поляризации падающей волны составляет 45 с плоскостью падения. Вторая поверхность АВ образца 2 наклонена к рабочей под
5 некоторым углом а так, что отраженная от нее волна не может распространяться вдоль полого диэлектрического лучевода. Волна, отраженная от рабочей поверхности исследуемого диэлектрика по полому диэлектрическому
10 лучеводу, поступает на поляризующую решетку 3. Плоскость, в которой она расположена, наклонена под углом 45 к направлению распространения, а проволоки решетки перпендикулярны плоскости падения волны на обра15 зец. С помощью этой решетки СВЧ сигнал раскладывается на две взаимоортогональные составляющие. Составляющая, поляризованная параллельно проволокам, отражается от решетки и через приемную рупорно-линзовую
20 антенну 4 поступает к детектору 5. Составляющая, поляризованная перпендикулярно проволокам, проходит, сквозь решетку и через рупорно-линзовую антенну 6 поступает к детектору 7.
25 Продетектированные сигналы ортогональных составляющих поступают на измеритель отношений 8, шкала которого проградуирована в значениях е. Для первоначальной регулировки индикаторной схемы вместо образца
З0 устанавливают плоское металлическое зеркало
415614
Cocгавптель Л. Устинова
Техред 3. Тараненко
Корректор В. Брыксина
Редактор С. Хейфиц
Заказ 1369/11 Изд. № 1281 Тираж 678 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, )К-36, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 и регулировкой калибровки измерителя отношений устанавливают отношение ортогопальных составляющих, равное единице. При неооходимости результаты измерений можно регHcTpHpoBBTb са яописцем, подкл".оче шым к выходу измерителя отношений.
Предмет изобретения
Способ измерения диэлектрической прони-, цаемости веществ, основанный па измерении амплитуд ортогональных составляющих электромагнитной волны, отраженной от плоской поверхности образца исследуемого вещества, отличающийся тем, что, с целью упроще5 ния процесса измерений разделяют амплитуды ортогональных составляющих сигнала с помощью поляризующей проволочной решетки и одновременно измеряют отношение амплитуд ортогональных составляющих сигнала, отра10 женного от поверхности образца.
