Способ получения диафрагмированных линзовыхрастров
п1141 ) 427
О П И С А Н И-Е
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 29.01.71 (21) 1615173/25-8 с присоединением заявки № (32) Приоритет
Опубликовано 15.01.74. Бюллетень № 2
Дата опубликования описания 19.09.74 (51) М. Кл. G 031 5/00
Государственныи комитет
Совета Министров СССР оо делам изооретений и открытий (53) УДК 621.382.002 (088.8) (72) Авторы изобретения
Л. А. Драчев, Л. И. Бродолин, A. 3. Кан и В. И. Левочкин (71) Заявитель (54) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ДИАФРАГМИРОВАННЪ|Х ЛИНЗОВЪ|Х
РАСТРОВ
Изобретение относится к технологии получения линзовых растров, широко применяемых в оптических системах.
Известен способ получения диафрагмированных линзовых растров, состоящий в том, что поверхность металлической заготовки обрабатывают методом алмазного точения, чеканят шариком или иным инструментом, обеспечивающим заданный профиль микролунок.
Однако известный способ сложен, требует для получения диафрагмированных сеток высококачественных фотопластинок, а дополнительные операции увеличивают вероятность появления на растре дефектных микролинз.
Для удешевления и улучшения качества растров по предлагаемому способу промежутки между лунками зачеканивают конусом, угол растра которого меньше угла между плоскостью заготовки и касательной к поверхности лунки в ее меридиальном сечении. Радиус острия, а также глубина отпечатков, оставляемых конусом, не должны превышать нескольких мкм.
Технологический процесс складывается из следующих операций.
Получают зеркальную плоскую металлическую поверхность методом алмазного точения. След резца, высотой меньше 0,1 мкм, не ухудшает качества поверхности микролинз растра и изображения, так как при чеканке он загла>кивается, Заготовка представляет собой брусок с отношением длины наибольшей стороны к толщине не более пяти.
Затем чеканят зеркальную поверхность ша5 риком. Чтобы получить сферические микрозеркала высокого качества, расстояние между краями отпечатков должно составлять от 10 да 30% от шага растра для растров с относительным отверстием микролинз от 1: 8 до
10 1: 4. Чеканка производится на координатном столе микроскопа, фотоштампа, снабженного микраподачей стала, Обязателен визуальный контроль диаметров отпечатков или проме>кутков между отпечатками в процессе че15 канки.
Для диафрагмиравания, цель которого уменьшить паразитную засветку через промежутки между лунками, также используют
20 процесс чеканки. B этом случае ее осуществляют конусом с малым радиусом кривизны (несколько мкм). Глубина чеканки составляет несколько мкм. Лупки давят с непосредственным переходом деформированных поверхно25 стей. В процессе чеканки конусом необходим также тщательнып контроль диаметр отпечатка.
С полученной таким аар азам поверхности снимают реплику методом фотополимеризации
30 пол иэфир акр илатов.
411427
Предмет изобретения
Составитель А, Андрианов
Редактор Л. Василькова Техред Л. Богданова
Корректоры; Л. Корогод и А. Николаева
Подписное
Заказ 1816/2 Изд. № 1367 Тираж 506
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2
Эффект диафрагмирования оудет достаточным (эквивалентным обычному диафрагмированию), если апертуры пучков, рисующих изображения, даваемые микролинзами, будут в
5 —:10 раз меньше угла рассеивания на микроконусах.
Применение этого метода целесообразно, в основном, для случаев, когда в системах записи и воспроизведения в каждый момент времени работает одна микролинза или освещается поле растрового носителя информации эквивалентного размера, например, в оптических долговременных запоминающих устройствах.
Способ получения диафрагмированных линзовых растров, согласно которому поверхность
5 металлической заготовки обрабатывают методом алмазного точения, чеканят шариком или иным инструментом, обеспечивающим заданный профиль микролунок, отличающийся тем, что, с целью удешевления и улучшения
10 качества растров, промежутки между лунками зачеканивают конусом, угол раствора которого меньше угла между плоскостью заготовки и касательной к поверхности лунки в ее меридиальном сечении.

