Патент ссср 411402

Авторы патента:

G01R33/05 - в тонкопленочных элементах

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

4II402

Союз Советскии

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹â€”

Заявлено 22.Х1.1971 (№ 1715451/18-10) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 15.1.1974. Бюллетень № 2

Дата опубликования описания 15Х.1974

М. Кл. G 01г 33/08

Гасударстееины!й квинтет

Сввете Министрав СССР аа делам изааретений и аткры тий

УДК 621.317.44(088.8) Автор изобретения

Г. А. Ведюшкин

Заявитель

Сибирский государственный научно-исследовательский институт метрологии

СПОСОБ ИССЛГДОВАНИЯ ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНОК

Изобретение относится к физике магнитных явлений в тонких магнитных пленках.

Известен способ исследования тонких магнитных пленок (ТМП) путем воздействия на них двух взаимно перпендикулярных магнитных полей и определения положения максимума магнитной восприимчивости на частоте ферромагнитного резонанса.

Известен также способ исследования ТМП при помощи рентгено-структурного анализа.

Однако первым способом нельзя определять наличие блочной магнитной структуры, а второй способ требует наличия громоздкой рентгеновской аппаратуры и не дает информации о том, как блочная магнитная структура влияет»а магнитные параметры ТМП.

Для определения наличия блочной магнитной структуры и определения положения максимума магнитной восприимчивости на частоте ферромагнитного резонанса по предлагаемому способу положение максимума магнитной восприимчивости определяют сначала в условиях однородного пробного поля, затемвЂ” неоднородного и по его смещению судят о наличии блочной магнитной структуры.

Схема, реализующая предлагаемый способ, представлена на чертеже.

С генератора 1 ВЧ-колебания через развязывающнй аттенюалор 2 поступают на отрезок измерительного тракта 3 с помещенной в него пленкой 4. Квазистатическое поле создается перемагничивающим устройством 5. Промодулировапные законом поглощения ВЧ-мощности колебания поступают на согласующий трансформатор 6 с секцией раздвижной линии и на детектор 7. С детектора огибающая приходит на индикатор 8.

Согласующий трансформатор 6 может обес1о печить как однородное поле в объеме ТМП, так и неоднородное, необходимое для работы механизма перераспределения вкладов с отдельных групп блоков при формировании интегральных сигналов.

Предмет изобретения

Способ исследования тонких магнитных пленок путем воздействия на пленку двух взаимно перпендикулярных магнитных полейвЂ”

20 квазистатического и пробного и определения положения максимума магнитной восприимчивости на частоте ферромагнитного резонанса, отличающийся тем, что, с целью определения наличия блочной магнитной структуры, 25 положение максимума магнитной восприимчивости определяют сначала в условиях однородного пробного поля, затем вЂ” неоднородного и по его смещению судят о наличии блочной магшггной структуры.

411402

Составитель Л. Устинова

Тсехред 3. Тараненко Корректор Т. Хворова

Редактор С. Хейфиц

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 1116/20 Изд. Ми 1180 Тираж 678 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Я-35, Раушская наб., д. 4, 5

Похожие патенты:

Патент 402837 // 402837

Способ измерения амплитуды магнитной составляющей электромагнитного поля // 342144

Устройство для измерения характеристик тонких магнитных пленок // 337740

Устройство для измерения напряженности магнитного поля // 282521

Нановеберметр // 277081

Способ градуировки магнитного поля // 249468

Магнитометр // 2100819

Изобретение относится к магнитометрам и может быть использовано для измерения напряженности магнитного поля и вектора магнитной индукции в науке, промышленности, медицине

Датчик магнитного поля // 2150712

Изобретение относится к электроизмерительной технике и, прежде всего, к магнитометрии

Магниточувствительный элемент // 2210086

Изобретение относится к области электротехники, в частности к магниторезистивным считывающим элементам, и может быть использовано в компьютерной технике для считывания информации с магнитных носителей с высокой информационной плотностью, а также в сенсорной технике и автоматике

Датчик магнитного поля // 2381515

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения напряженностей магнитных полей, например, в геофизических исследованиях

Датчик магнитного поля // 2091808

Изобретение относится к электроизмерительной технике

Устройство для определения магнитных полей // 2005310

Устройство для определения магнитных полей // 2019853

Изобретение относится к приборостроению и может быть использовано для определения полей рассеяния микроскопических объектов, в частности магнитных головок

Способ определения параметров тонких магнитных пленок // 2047183

Изобретение относится к способам измерений параметров тонких магнитных пленок (ТМП) и может найти применение при научных исследованиях и технологическом контроле образцов ТМП, например, гранатовых эпитаксиальных структур

Устройство для контроля свойств ферромагнитных пленок на немагнитной металлической поверхности // 864206

Устройство для измерения параметров тонких магнитных пленок // 868661