Способ неразрушающего бесконтактного контроля поверхности тонких цилиндрических деталей
Cf...v- K . вва ® NQ тэлн.;,оная
О Н И Е 280676
Союэ Советских
Социалистических
Республик
ИЗОБРЕТЕНИЯ
K АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕ,а СТВУ
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 08.IV,1969 (№ 1319227/26-9) с присоединением заявки ¹
Приоритет
Опубликовано 03.1Х.1970. Бюллетень ¹ 28
Дата опубликования описания 4.XII.1970
Кл. 21g, 10/02
21с, 54/01
МПК Н Olg 3/00
Н 01с 3/00
Н 01с 7/00
УД К 621.319.42:621.396..692 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
Авторы изобретения
Я. А. Склярский, О, M. Тесеоглу и M. П. Чулок
Заявитель
СПОСОБ НЕРАЗРУ1ИА1ОЩЕГО БЕСКОНТАКТНО ГО КОНТРОЛЯ
ПОВЕРХНОСТИ ТОНКИХ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ
Изобретение относится к обл»сти дефектоскопии поверхности элементов микрорадиоэл C KTp OII H l(H.
Известен способ пер азрушающего бесконтактного контроля поверхности тонки.: микрорадиоэлементов посредством световой дефектоскопии, при которой точечный луч света, отраженный от поверхности исследуемой детали, вращатощейся вокруг своей оси и перемещающейся вдоль нее, направляется иа светочувствительный элемент фотоприемника. Диаметр падающего луча ()pi) этом должен оыть достаточно малым (соизмеримым с размерами минимальных дефектов).
При появлении дефектов па поверхности исследуемых деталей величина отраженнного светового потока изменяется, вследствие чего изменяется электрический сигнал па выходе фотоприемника, что и регистрируется индикатором.
Однако описанный способ неприменим для обнаружения дефектов поверхности аксиальных выводов радиодеталей, поскольку при вращении детали с максимальными выводами вокруг оси вследствие радиального биения вывода световой луч соскальзывает с исследуемой поверхности, что приводит к появлению ложных сигналов на выходе системы.
Целью изобретения является создание такого способа обнаружения дефектов поверхности аксиалт пых выводов радиодеталей, который бы позволил автоматизировать процесс контроля. Для этого луч света проецируется осветителем, формируется до прямоугольного се5 ченпя достаточно малой ширины и большой длины.
При вращении дет»ли влиятше биения выпо zuv, lac ст<азтп вается благодаря большой go H ие сечения прямоугольного луча. Ширина лу10 ча выбирается соизмеримой с размерами мнпим»льных дефектов.
Н» чертеже схематически показ»по расположение вывода исследуемой детали и сечение светового луча, проецируемого щелевым
15 осветителем.
Систевта состоит из щелевого осветителя 1, исследуемой детали 2, фотоприемника 8.
Луч 4 прямоугольного сечения, сформированный щелевым осветителем 1, падает на ис20 следуемую деталь 2 перпендикулярно его оси.
Отраженный луч 5 постуll»cT на фотоприемиик, >. При наличии дефекта на исследуемой поверхности световой поток отраженного луча
5 изменяется в соответствии с характером де25 фскта, что приводит к изменению электрического сигнала на выходе фотоприемника.
Предмет изобретения
Способ нсразрушающсго бесконтактного
30 контроля поверхности тонких цилиндрических
Составитель Е. Хвощева
Текред 3. Н. Тараненко
Корректор Л. Л. Евдоной
Редактор А. В. Корнеев
Заказ 3443/15 Тираж 480 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, >К-35, Раушская наб., д. 4j5
Типография, пр. Сапунова, 2 деталей, например аксиальных выводов радиодеталей, основанный на световой дефектоскопии, отличающийся тем, что, с целью автоматизации контроля, световой луч, сформированный щелевым осветителем до прямоугольного сечения, ширина которого соизмерима с размерами минимального дефекта, а длина превышает амплитуду биения изделия, подают на контролируемую поверхность детали перпен5 дикулярно оси детали.
