Способ измерения параметров распределения поля
3777I2
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Сома Сооетокм
Социалистическил
Реопублин
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 16.IV.1970 (№ 1427709/26-25) с присоединением заявки №вЂ”
Приоритет
Опубликовано 171 т/.1973. Бюллетень № 18
Дата опубликования описания 22Х1.1973
М. Кл. G Olv 9/00
Комитет по делам иао0ретений H открытия при Совете Министров
СССР
УДК 550.835(088.8) Автор изобретения
А. М. Шестопалов
Заявитель
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛЯ
В СРЕДЕ
f (a д)=I — ак
U, =U0Ôè,f(a, x,), 10
20
U, = (У,Кт,((а, х, + 1), 30
Изобретение относится к области измерений поля и может быть использовано для исследования параметров поглощения и запаздывания полей в различных средах и материалах, например в массиве горных пород, в элементах конструкций и пр.
Известные способы измерения параметров распределения поля в среде с помощью источников и приемников поля требуют трудоемкой калибровки приемников поля и не обеспечивают высокой точности измерений.
Для повышения точности измерений предлагается способ, по которому измеряют отношения сигналов приемников, расположенных между двумя источниками поля, к сигналу одного приемника при действии только первого источника, а затем при действии только другого источника и определяют искомые параметры через отношения этих отношений.
Схема определения параметров распределения поля по описываемому способу показана на чертеже.
Размещенные в исследуемой среде 1 источники поля 2 и 8 расположены по обе стороны от приемников 4 и б поля. Источники поля 2 и 3 работают поочередно, так что к одному работающему источнику поля более близким оказывается один приемник поля, а при работе другого источника поля — другой приемник.
По приведенной схеме можно исследовать поля, характеризующиеся одним параметром а, например экспоненциальные поля, с распределением
При работе источника поля 2 напряжение на выходе приемника 4 равно: где Ус — интенсивность источника поля 2;
К вЂ” коэффициент, учитывающий переход н ые потери и запаздывание при преобразовании сигнала от источника поля 2 к среде 1;
m> — коэффициент, учитывающий чувствительность приемника 4, а также переходные потери и запаздывание при преобразовании поля от среды
1 к приемнику 4; а — измеряемый параметр распределения поля;
xI — расстояние между источником 2 и приемником 4.
При этом сигнал на выходе приемника 5 равен:
377712
Пр едм ет из oi6ip етен и я
Составитель И. Трофимова
Техред Т. Ускова Корректор Е. Сапунова
Редактор И. Шубина
Заказ 1718/15 Изд. Хо 1390 Тираж 755 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 где m2 — коэффициент, учитывающий чувствительность приемника 5, а также переходные потери и запаздывание при преобразовании поля от среды 1 к приемнику 5;
1 — расстояние между приемниками
4 и 5.
Отношение сигналов приемников 4 и 5 равно;
У mi f(a, х )
U т,f(a, х + 1) При работе источника 8 отношение сигналов приемников 4 и 5 определяется аналогичным соотношением:
U т f(a, х )
U2 m f(a, x> — 1) где х т — расстояние между источником 8 и приемником 4.
Из отношения двух последних выражений
UgU f(a, х )f(a, х1 — 1)
f(a, x + 1)г(а, х1) определяют параметр распределения поля а без погрешностей, обусловленных неидентичностью переходных затуханий между средой и приемниками и различием чувствительности приемников.
Отсюда получаем:
U1U2 1 OUI, =е — " а= — 1п
UqUg 2l Ui Ug
Если распределение поля характеризуется
10 и параметрами f (аь a2,..., а„, х), то для их аналогичного измерения необходимо использовать и+1 приемников, расположенных между излучателями.
Способ измерения параметров распределения поля в среде с помощью источников и
20 приемников поля, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, измеряют отношение сигналов приемников, расположенных между двумя источниками поля, к сигналу одного приемника при действии
25 только первого источника, а затем при действии только другого источника и определяют искомые параметры через отношение этих отношений.
