Способ термодинамического контроля
Редактор Д. Михельсон
Составитель А. Духанин
Техред Г. Дворина
Корректор А. Дзесова
Заказ 194/676 Изд. № 233 Тираж 755 ПодIIHcHoe
OÍÈÈÏÈ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Тип. Харьк. фнл. пред. «Патент>


Похожие патенты:
Изотопный измеритель толщины покрытий // 327703
Устройство для измерения толщины изделий // 321160
Устройство для измерения толщины изделий // 321159
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках (в том числе и многослойных)
Способ неразрушающего контроля трубопроводов // 2108569
Изобретение относится к газо- и нефтедобыче и транспортировке, а именно к методам неразрушающего контроля (НК) трубопроводов при их испытаниях и в условиях эксплуатации
Способ контроля уменьшения толщины реборды железнодорожных колес и устройство для его осуществления // 2110056
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля уменьшения толщины реборды железнодорожных колес подвижных составов
Изобретение относится к бесконтактным методам определения толщины покрытий с помощью рентгеновского или гамма-излучений и может быть использовано в электронной, часовой, ювелирной промышленности и в машиностроении
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для автоматического бесконтактного измерения износа толщины реборды железнодорожных (ЖД) колес подвижных составов
Радиоизотопный толщиномер // 2116619
Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля, а именно к радиоизотопным приборам для измерения толщины или поверхностной плотности материала или его покрытия
Радиоизотопный толщиномер // 2116620
Устройство для измерения твэл // 2154315
Изобретение относится к области неразрушающего контроля тепловыделяющих элементов (твэлов) ядерных реакторов, изготовленных в виде трехслойных труб различного профиля и предназначено для автоматического измерения координат активного слоя, разметки границ твэлов, измерения равномерности распределения активного материала по всей площади слоя в процессе изготовления
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках
Способ измерения толщины стенок деталей // 2158900
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для определения толщины стенок, образованных криволинейными поверхностями (цилиндрическими, сферическими и др.) в деталях сложной несимметричной формы