Патент ссср 367427
367427
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт, свидетельства №
Заявлено 07Х.1971 (№ 1653826/18-24) М. Кл. С 06f 15/36
G 0lr 23/16 с присоединением заявки №
Комитет по делам изобретений и открытий ори Совете Министров
СССР
Приоритет
Опубликовано 23.1.1973. Бюллетень № 8
УДК 681.519.2 (088.8) Дата опубликования описания 30.111.1973
Авторы изобретения
А. И. Ставицкий, А. И. Кундин, В. А. Любич, Г. В. Герчикова, H В. Киселев, В. Ф. Соломатин, В. Б. Баранов и В. А. Сечкии
Северо-западный заочный политехнический институт
Заявитель
- АНАЛИЗАТОР ФУНКЦИЙ ПЛОТНОСТИ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ
Изобретение может быть использовано в вычислительной, измерительной технике и в а ппаратуре специального назначения для снятия функций плотности распределения за определенный промежуток времени.
В известных анализаторах .подобного рода используют специальную электроннолучевую трубку, в которой в момент совпадения по величине пилообразного на|пряжения, подаваемого на одну пластину, и на пряжения анализируемого процвсса электронный луч попадает на проволоку, натянутую внутри трубки, и в выходной цепи трубки возникает сигнал. Накапливая этот сигннал за время ЬТ, получают величину, пропорциональную числу .пересечений на|пряжением заданного уровня.
Однако известные анализаторы функций плотности распределения имеют сложную электронную схему из-за необходимости использования генератора пилообразного напряжения и осциллогра фической и ндикаторной трубки; кроме того, в них отсутствует регулировка ширины интервала амплитуд исследуемой функции.
Цель изобретения — упрощение устройства и обеспечение возможности регулировки шир ины интервала амплитуд исследуемой функции.
Цель достигается тем, что предлагаемый анализатор содержит масштабное устройство, подключенное к горизонтально отклоняющим пластинам электроннолучевой трубки (ЭЛТ), блок управления характеристикой, соединенный с регулируемыми (функциональными)
5 пластинами ЭЛТ, и интегратор, .подключенный к анодам ЭЛТ.
В предлагаемом анализаторе уменьшено количество аппаратуры, и в нелинейных системах опознавания она унифицирована, что
10 весьма удобно при использовании анализатора в системах, где основные блоки выполнены на ЭЛТ типа «политрон». Возможность регулировки ширины интервала амплитуд исследуемой функции достигается путем изменения
15 характеристики преобразования политрона, что .позволяет управлять процессом а нализа сигнала.
На фиг. 1 представлена блок-схема предлагаемого анализатора функций плотности рас20 пределения, на фиг. 2 — пространственно-временная диаграмма функции плотности распределения.
Предлагаемый анализатор функций плотности распределения содержит ЭЛТ 1 ти па
25 «политрон» с регулируемой характеристикой, имеющую несколько пар функциональных пластин 2, 8, два анода 4 и 5, одну |пару горизонтально отклоняющих пластин б и 7. К горизонтально отклоняющим пластинам трубки
30 подключено масштабное устройство 8. Блок
367427
9 управления характеристикой преооразования, подключенный к функциîíà IbHbl пластинам ЭЛТ, позволяет изменять потенциалы на функциональных пластинах 2 и 3 и менять характеристику политрона. К анодам 4 и 5 подключен интегратор l0.
Принцип действия предлагаемого устройства состоит в следуюп;ем.
Исследуемый сигнал Х (1) после масштабирования в блоке 8 подается на горизонтально отклоняющие пластины 6 и 7 политрона, при этом электронный луч отклоняется в горизоцтальной плоскости, пропорционально мгновенному значению сигнала Х (/). В каждый момент времени электронный луч находится под одной из функциональных пластин 2 и 8 политрона, и если на эти пластины с олока 9 управления характеристикой:преобразования не подается никакого напряжения, т. е. если
V (Х) = — О, то электронный луч не пересекает аноды 4 и 5 и выходной сигнал политропа равен нулю.
Если приложить разность потенциалов только к одной ларе функциональных пластин, то характеристика (Х) (фиг. 2) имеет вид прямоугольного окна; при этом выходной сигнал (0(t), снимаемый с одного из анодов политрона, представляет сооой .последовательность прямоугольных импульсов с одинаковой амплитудой, длительность которых, равна времени пребывания исследуемого сигнала,в i-м амплитудном интервале. После интегрирования в блоке 10 (время интегрирования равно Т) на выходе устройства получается число
4 т
h, = (q ((Х; (t) ) dt, пропорциональное врео мени нахождения исследуемого сигнала на -м амплитуд IQM уровне. Прикладывая разность потенциалов к следующей ларе функциональных пластин политрона, получают на т выходе устройства число й;+ — — J «р(Х;+ (t))dt, о пропорциональное времени пребывания входного сигнала в (i+1)-м интервале. Проделав п таких операций (n — число анализируемых интервалов исследуемого сигнала), можно:,получить ряд чисел h>, hq, hq, ..., h;, ...,h„, характер изующих время пребывания сигнала Х (t) в том или .ином амплитудном интервале и представляющих функцию плотности распределения процесса.
Предмет изобретения
Анализатор функций алотности распределе25 ния, содержащий электроннолучевую трубку с регулируемой характеристикой, от гичаюи ийся тем, что, с целью упрощения, он содержит масштабное устройство, подключенное к горизонтально отклоняющим, пластинам элект30 роннолучевой трубки, блок управления характеристикой, соединенный с регулируемыми пластинами электроннолучевой трубками, и,интегратор, подключенный к анодам электроннолучевой трубки.
367427
Фиг /
Фиг 2
Редактор И. Орлова
Заказ 602/10 Изд. ¹ 1153 Тираж 647 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2
Составитель Э. Сечина
Техред Л. Грачева
Корректоры: Л. Бадылама и В. Жолудева
