Библио- с.ка

349965

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 04.1.1971 (№ 1С0675т3/26-25) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 04.1Х.1972. Бюллетень ¹ 26

Дата опубликования описания 9.Х.1972

М. Кл. G Olv 3/10

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 550З37(083.8) )$11111 11„" ч(„""c" т 4

БЧБД,,-1 А

Авторы изобретения

Г. В. Молочнов и М. В. Радионов

Заявитель

Ленинградский ордена Ленина и ордена Трудового Красного

Знамени государственный университет имени А. А. Жданова

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВТОРИЧНОГО МАГНИТНОГО ПОЛЯ

10 Уг IOM Ч=

4 на угол — (см

Изобретение относится к области геоэлектроразведки переменными электромагнитными полями.

Известны способы измерения вторичного магнитного поля, при которых возбуждение и прием поля производятся системой, состоящей из генераторной и приемной рамок, расположенных в непосредственной близости друг от друга на одной жесткой базе таким образом, что плоскости их взаимно перпендикулярны.

В этой системе обычно плоскость генераторной (или приемной) рамки составляет угол

0 (или †) к дневной поверхности. Дальней4 шее исключение первичного поля производится в цепи приемной рамки путем введения электрической компенсации.

Недостатком известного способа является то, что при изменении температуры происходит раскомпенсация системы, в связи с чем снижается точность измерений.

По предложенному способу в исходном положении (когда плоскость генераторной или приемной рамки составляет угол 0 пли — с

4 дневной поверхностью) производят электрическую компенсацию, после чего систему поворачи вают вокруг общей оси, являющейся линией пересечения плоскостей генераторной и

;т, и приемной рамок, на угол — (или †) относи4 2

5 тельно первоначального положения системы.

На фиг. 1 приведены векторные диаграммы при расположении системы под углом ср=0; на фиг. 2 — при расположении системы под

Сущность предложенного способа заключается в следующем.

Известно, что вторичное поле, регистрируе15 мое системой совмещенных взаимно перпендикулярных рамок изменяется в соответствии с изменением функпии sin 2ср (тр — угол наклона плоскости генераторной рамки и поверхности исследуемой среды).

20 При расположении системы под углом q.=0 (см. фиг. 1, а) в приемной рамке наводится только сигнал от первичного поля Уь а сигнал от вторичного поля равен нулю, так как при и;=0 sin2cp=0 п поэтому U =0. Вводя

25 электрическую компенсацию, компенсируют сигнал U сигналом U, сигналом той же частоты и амплитуды, подаваемым в противофазе.

Если повернуть систему

349955

Предмет изобретения

U +U sin2 =U +U (U, + U,) — Уд- — — О, Г

+ rrr

//2 О/ Ф«0

ФЗВ»» Ви «« о/ //

r/ «б д

r g r

ПР

«(HZ+0/ / - 0 л«n

«1 н« !

/ Ð U

Фиг /

Составитель Л. Бобровников

Редактор 11. Коляда Текред Е, Борисова Корректор A. Васильева

Заказ 3417/17 Изд. № 1380 Тираж 406 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 фиг. 1, б), то в приемной рамке будет наведен сигнал вторичного поля Уа (гр= —. з1п2гр=

=1), который и будет зарегистрирован измерительным прибором.

При расположении системы под углом—

4 (см. фиг. 2, a) в приемной рамке наводится сигнал, величина которого равна

После введения электрической компенсации имеем

Поворачивая систему на угол — (р = — +

2 4 2 в(п2гр= — 1) (см. фиг. 2, б), меняем знаксигнала вторичного поля (знак и величина сигнала первичного поля остаются неизменными) и на выходе регистрируется сигнал U= — 2йз.

Поскольку поворот системы и снятие показаний прибора за нимают мало времени, «дрейф нуля» полностью исключается, при этом производится измерение абсолютных значений вторичного поля.

1. Способ измерения вторичного магнитного поля системой совмещенных взаимно перпендикулярных рамок, расположенной на поверхности изучаемой среды таким образом, что плоскость генераторной (или приемной) рамки составляет угол О (или — ) к дневной

4 поверхности, и в которой произведена электрическая компенсация, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и дости>кения возможности измерения абсолютных зна15 чений вторичного поля, систему поворачивают на такой угол вокруг линии пересечения плоскостей гснераторной и приемной рамок, чтобы ранее скомпенсированный полезный сигнал от изучаемой среды изменил знак, после чего производят отсчет величины сигнала.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что систему рамок поворачивают на угол —" и из4 меряют сигнал, пропорциональный амплитуде вторичного поля.

3. Способ по п. 1, отличающийся тем, что систему рамок поворачивают на угол — и из2

30 меряют сигнал, пропорциональный удвоенной амплитуде вторичного поля.