Способ токовихревой дефектоскопии

 

Союз Сооетокик

Социалистическив

Реопублии

ОП ИГРАНИ Е

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ CBHPETERbCTBY

Зависимое от авт. свидетельства № ——

M.Êë. б 01п 27/86

Заявлено 07.111.1969 (№ 1308983!25-28) с присоединением заявки №вЂ” йомитет оа делам изобретений и открытий ори Совете Министров

СССР

Hpнорнтет —УДК 620.! 79.142 (088.8) Опубликовано 21.(V,1972, Бюллетень ¹ 14

Дата опублии<оваа3ня описания 17.Х.1972

Авторы изобретения

И. В. Домрачев, А. H. Бодряшкин и П. М. Сви

Всесоюзный государственный трест по организации и рационализации районных электростанций и сетей

Заявитель

СПОСОБ ТОКОВИХРЕВОИ ДЕФЕКТОСКОПИИ

0 где К= б — толщина образца, отнесенИзобретение относится к области контроль,но-измерительной техник и.

Извасгны способы токавихревой дефекгоскопии, заключающиеся в том, что контролируемый плоский образец располагают между катушками экран ного датчика, возбуждают одну из них при помощи генератора сигналов и посредством, прибора определяют амплитудно-фазовое соотношение между сигналом генератора и э.д.с. »а другой катушке.

Для этих способов характерна зависимость

A<6= f (K) ная к глубине б проникноозсния поля в ароводник при данной частоте, а Л Р вЂ” изменение фазы э.,д.с.,в индикаторной катушке, вызванное введением образца в активную зону экранного датчика.

Недостаток таких способов заключается в том, что мала точность измерений при небольших толщи нах образцов и больших относительных несплошностях, вызванная нелингйностью начального участка рабочей зависимости

М=Р(К).

Цель изобретения — повышение точности контроля. Для этого по предлагаемому способу к контролируемому образцу приклады«31оТ 1ioppei тнрующую пластину. лпнеарнзнрующую характеристику датчика.

Сущность |предлагаемого способа заключается:в следующем.

5 На чертеже представлена зависимость

- -м1: =- l (К)

1трн К)1,5 она 33ракт ически линейна н при выражении Лср в радианах представляет собой прямую, наклоненную под углом 45

1Q к осям координат. В области K(1,5 зависимость сильно отличается от линейной, а ход се определяется соотноше1шем диаметров катушек датчика и расстояния между ними (крпвыс 1 — 4).

15 Если вместо сплошного образца имеется разрезанный (со сквозной: есплошностью), причем плоскость разреза нормальна к поверхности образца и находится под центром катушки возбуждения, то зависимость для

20 ЪР)1,5 также лппсйна и имеет внд:

X

1,5

Состнаитепь А. Духанин

Тсхред Л. Богданова

Корректор А. Васиmeaa

Редактор И. Бродская

Подписное

Тираж 448

Пад. ¹ 537

Заказ 3041

П -1ИИ ПИ Комитета . î донага иасбрстсиий и открытий п ри Совете Мииистр)!3 СССР

Москова, К-35, Ратшскал паб., д. 4/5

Оопа !ll dpi теi:ioг оаф 1л Кострогаского !", ioÿç,тепил lio исиати

Do влетворять условию — ) 1,5. При измен рениях фазу э.д.с. индикаторной катушки отсчитывают от то го ее значения, которое имеет место, как при расположении между катушками датчика корректирующей пластины в случае измерения толщины и корректирующей пластины вместе с бездефектным образцом, так и в случае измерения глубины несплотпности, Предмет изобретения

Способ токовихревой дефектоскопии, заключающийся,в том, что контролируемый плоский образец располагают между катушками экранного датчика, возбуждают одну из них посредством генератора сигналов и опре5 деляют посредством прибора, амплитудно-фазовое .соотношение между сигналом генератора и э.д.с. на другой катушке, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, к контролируемому образцу приклады10 вают корректирующую пластину для линеаризации характеристики датчика.

Способ токовихревой дефектоскопии Способ токовихревой дефектоскопии 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх