Способ определения разности хода лучей в фотоупругих моделях

 

О П И С А Н И Е 335556

ИЗО6РЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

М. Кл. G Oll I(24

G Olb 11/18

Заявлено 17.Ч!11.1970 (№ 1471316/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано I I.IV,1972. Бюллетень № 13

Дата опубликования описания 16Л .1972

Комитет по делам иаабрвтеиий и открытиЯ при Совете Мииистров

СССР

УДК 531.781.2(088.8) Авторы изобретения

Г. Д. Радченко и А. М. Дубинский

Научно-исследовательский институт строительных конструкций

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗНОСТИ ХОДА ЛУЧЕИ

В ФОТОУПРУГИХ МОДЕЛЯХ

Предмет изобретения

Изобретение относится к технике поляризационно-оптического метода исследования напряженно-деформированного состояния деталей машин и строительных конструкций.

Из технической литературы известен способ определения разности хода лучей в фотоупругих моделях посредством фотографической фотометрии с применением калибровочной кривой, полученной фотометрированием негативного снимка эталона из того же материала, что и модель, в котором зафиксированы напряжения, распределенные по заданному закону.

Предлагаемый способ отличается от известного тем, что эталон фотографируют одновременно с моделью на один кадр. Такой способ позволит повысить точность определения разности хода лучей.

На фиг. 1 изображены схематически модель и эталон; на фиг. 2 — интерференционная картина моделей и эталона на кадре; на фиг, 3— микрофотограмма со шкалами, используемая как калибровочная кривая; на фиг. 4 — микрофотограмма модели.

Способ заключается в следующем.

Изготовляют эталон 1, в котором заранее реализованы механические напряжения таким образом, что закон изменения разности хода лучей по определенному направлению известен. Эталон берут из того же материала, что и модель 2. Эталон 1 устанавливают рядом с моделью 2 и фотографируют на один кадр 8.

Благодаря этому условия фотографирования и обработки фотоматериала для эталона 1 и модели 2 являются практически одинаковыми.

5 Изображение 4 эталона 1 на кадре 8 фотометрируется вдоль направления 5 с известными значениями разности о хода лучей. При таких же условиях фотометрируется и изображение 6 исследуемой модели 2.

Получение калибровочной кривой из микрофотограммы эталона 1 изображено на фиг. 3.

На горизонтальной оси откладываются известные значения разностей хода лучей в соответствующих точках эталона 1, после чего она превращается в шкалу отсчета о. Перпендикулярно последней в нулевой точке проводится ось с равномерной шкалой Т отсчета пропускания. По микрофотограмме модели (фиг. 4) в нужных точках кривой а замеряют ординаты Т;, затем откладываются значения на вертикальной оси и проводят горизонтальные прямые до пересечения с калибровочной кривой б. Из точек пересечения опускают перпендикуляры на ось 6, по которой отсчитывается искомая величина.

Способ определения разности хода лучей в

ЗО фотоупругих моделях посредством фотогр афической фотометрии с применением калиб335556

4Ри8. /

Фиг. 4

Составитель А. Босой

Техред Т. Курилко

Редактор С. Титова

Корректор Л. Орлова

Заказ 1173/10 Изд. № 488 Тираж 448 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 ровочной кривой, полученной фотометрированием негативного снимка эталона из того же материала, что и модель, в котором зафиксированы напряжения, распределенные по заданному закону, отлйчающийся тем, что, с целью повышения точнОсти определения разности хода лучей, эталон фотографируют одновременно с моделью на один кадр.

Способ определения разности хода лучей в фотоупругих моделях Способ определения разности хода лучей в фотоупругих моделях 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к определению деформаций деталей и образцов оптическими методами
Наверх